一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路制造技术

本实用新型专利技术属于二极管测试技术领域，尤其涉及一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路。包括电源、恒流源模块、采样处理电路和显示电路，电源两端连接有待测管，恒流源模块串接在电源与待测管之间，用于给待测管提供指定电流，采样处理电路连接在待测管两端，用于在指定电流值下采集待测管的电压值并处理，显示电路连接采样处理电路，用于显示采样处理电路处理后的信号。本实用新型专利技术用于解决正向压降参数测试不便的问题。通过恒流源模块给待测管提供指定电流，在指定电流下通过采样处理电路采集待测管的电压并进行数据处理，然后通过显示电路显示具体数值，整体结构简单，方便易实行，体积小，便于携带。

【技术实现步骤摘要】
一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路
本技术属于二极管测试
，尤其涉及一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路。
技术介绍
肖特基二极管是一种低功耗、高速半导体器件，其具有正向压降比较小、恢复时间短、开关频率高的特点，而其中的正向压降是肖特基二极管的重要参数之一。在实际选用时，通常会根据标称的正向压降参数来进行选择，但是，在生产中，可能会由于封装技术的影响，导致正向压降的一致性较差的问题，而二极管本身实际的正向压降数值却会给选用适配时造成一定影响，则在实际运用时，通常需要测试这一数值，而传统测试仪器体积通常较大，携带不方便。
技术实现思路
本申请实施例要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路，用于解决正向压降参数测试不便的问题。本申请实施例解决上述技术问题的技术方案如下：一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路，包括电源，所述电源两端连接有待测管；恒流源模块，所述恒流源模块串接在所述电源与所述待测管之间，用于给所述待测管提供指定电流；采样处理电路，所述采样处理电路连接在所述待测管两端，用于在指定电流值下采集所述待测管的电压值并处理，所述采样处理电路还连接所述恒流源模块，用于控制所述恒流源的启闭；显示电路，所述显示电路连接所述采样处理电路，用于显示所述采样处理电路处理后的信号。相较于现有技术，以上技术方案具有如下有益效果：通过恒流源模块给待测管提供指定电流，在指定电流下通过采样处理电路采集待测管的电压并进行数据处理，然后通过显示电路显示具体数值，整体结构简单，方便易实行，体积小，便于携带。进一步地，所述恒流源模块包括电流档设定电路，所述电流档设定电路连接所述待测管，用于给所述待测管提供指定电流值。本步有益效果为：通过与待测管连接的电流档设定电路，实现对待测管的不同档位的电流输入，方便测试。进一步地，所述采样处理电路包括相互连接的电压采样电路和处理电路；所述电压采样电路连接在所述待测管两端，用于采集所述待测管的电压值后传递给所述处理电路；所述处理电路用于在指定电流值下处理所述电压采样电路传递来的信号。本步有益效果为：通过连接在待测管两端的电压采样电路采集加载了指定电流的待测管的两端电压值并传递给处理电路，即可处理得出在指定电流下的待测管的正向压降值。进一步地，所述采样处理电路还包括电流采样电路，所述电流采样电路并联在所述电流档设定电路两端，且与所述处理电路连接，用于检测并显示所述电流档设定电路提供的电流值。本步有益效果为：并联在电流档设定电路两端的电流采样电路可以实时读取显示电流档设定电路提供的电流值的大小，保证测试参数的准确性。进一步地，所述处理电路包括单片机及A/D转换模块；所述A/D转换模块均连接所述电压采样电路及所述电流采样电路，用于转换所述电压采样电路及电流采样电路传递来的信号；所述单片机连接所述A/D转换模块，用于处理所述A/D转换模块转换后的信号，所述单片机还连接所述恒流源模块，用于控制所述恒流源模块的启闭。本步有益效果为：连接在单片机与电流采样电路及电压采样电路之间的A/D转换模块，可将采集的模拟信号转换为数字信号传递给单片机处理运算，通过单片机连接恒流源模块，控制恒流源的启闭，需要测试时，启动恒流源模块，不需要时关闭恒流源模块。进一步地，所述采样处理电路还包括测试开关，所述测试开关连接所述处理电路。本步有益效果为：给处理电路连接一测试开关，在测试时接通测试开关，保证整个电路有效，进行测试，不测试时断开测试开关。进一步地，所述显示电路包括电压显示模块和电流显示模块。进一步地，还包括与所述电流档设定电路联动设置的电流档开关，所述电流档开关与所述单片机连接，联动输入所述电流档设定电路的档位信号。本步有益效果为：通过与电流档设定电路联动的电流档开关与单片机连接，在电流档设定电路调节输入指定电流时，单片机联动闭合对应的指定电流值的输入信号的引脚，给单片机提供档位信号，便于后续处理及显示。本申请实施例中提供的一种或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：1、通过恒流源模块给待测管提供指定电流，在指定电流下通过采样处理电路采集待测管的电压并进行数据处理，然后通过显示电路显示具体数值，整体结构简单，方便易实行，体积小，便于携带。2、通过并联在电流档设定电路两端的电流采样电路可以实时读取显示电流档设定电路提供的电流值的大小，保证测试参数的准确性。3、给处理电路连接一测试开关，在测试时接通测试开关，保证整个电路有效，进行测试，不测试时断开测试开关。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术具体实施例所述的整体电路结构框图。图2为图1中处理电路结构框图。图3为图1中电流档设定电路及电流采样电路结构框图。图4为图1中电压采样电流结构框图。图5为本实施例中恒流源模块及电流档设定电路及电流采样电路及电压采样电路整体连接框图。图6为图5中B处放大示意图。图7为图5中A处放大示意图。具体实施方式下面将结合附图对本技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本技术的保护范围。需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域技术人员所理解的通常意义。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路，其特征在于：包括电源，所述电源两端连接有待测管；/n恒流源模块，所述恒流源模块串接在所述电源与所述待测管之间，用于给所述待测管提供指定电流；/n采样处理电路，所述采样处理电路连接在所述待测管两端，用于在指定电流值下采集所述待测管的电压值并处理，所述采样处理电路还连接所述恒流源模块，用于控制所述恒流源的启闭；/n显示电路，所述显示电路连接所述采样处理电路，用于显示所述采样处理电路处理后的信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路，其特征在于：包括电源，所述电源两端连接有待测管；
恒流源模块，所述恒流源模块串接在所述电源与所述待测管之间，用于给所述待测管提供指定电流；
采样处理电路，所述采样处理电路连接在所述待测管两端，用于在指定电流值下采集所述待测管的电压值并处理，所述采样处理电路还连接所述恒流源模块，用于控制所述恒流源的启闭；
显示电路，所述显示电路连接所述采样处理电路，用于显示所述采样处理电路处理后的信号。


2.根据权利要求1所述的用于肖特基二极管的正向压降测试电路，其特征在于：所述恒流源模块包括电流档设定电路，所述电流档设定电路连接所述待测管，用于给所述待测管提供指定电流值。


3.根据权利要求2所述的用于肖特基二极管的正向压降测试电路，其特征在于：所述采样处理电路包括相互连接的电压采样电路和处理电路；
所述电压采样电路连接在所述待测管两端，用于采集所述待测管的电压值后传递给所述处理电路；
所述处理电路用于在指定电流值下处理所述电压采样电路传递...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈广宏，
申请(专利权)人：扬州晶新微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32