一种快速测量微型立方体尺寸的设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种快速测量微型立方体尺寸的设备，包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，第一基准板沿X轴方向设置，第二基准板沿Y轴方向设置，第三基准板沿Z轴方向设置，第一激光传感器面向第一基准板，第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，第二激光传感器面向第二基准板，第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，第三激光传感器面向第三基准板，第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置，整个设备结构简单、设计巧妙，能够实现同时对立方体在X/Y/Z方向上的尺寸进行测量，且整个测量过程无需接触，测量速度快、精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测量微型立方体尺寸的设备
本技术涉及测量设备
，尤其涉及一种快速测量微型立方体尺寸的设备。
技术介绍
目前，在对微型立方体的尺寸进行测量时一般都是采用激光测距的方式，通过设备对微型立方体X/Y/Z三个轴分别进行测量，从而输出该立方体的尺寸，这种测量方法主要是应用于金刚石的尺寸测量，现有技术中在进行测量时一般有两种测量方式：非接触式测量和接触式测量。但是这两种测量方式都存在一定的缺陷：1、非接触式测量一般采用影像测量仪，其原理是利用投影进行测量，其只能测量厚度或者长宽，不能同时测量长宽厚三个尺寸；2、由于金刚石的物理性能，接触式测量其在测量时尺子磨损较快，更换频率较高，导致其测量成本增加。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种快速测量微型立方体尺寸的设备，能够实现同时对立方体在X/Y/Z方向上的尺寸进行测量。为达到以上目的，本技术采用的技术方案为：一种快速测量微型立方体尺寸的设备，包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第一基准板沿X轴方向设置，所述第二基准板沿Y轴方向设置，所述第三基准板沿Z轴方向设置，所述第一激光传感器面向所述第一基准板，所述第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，所述第二激光传感器面向所述第二基准板，所述第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，所述第三激光传感器面向所述第三基准板，所述第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置。/n

【技术特征摘要】
1.一种快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第一基准板沿X轴方向设置，所述第二基准板沿Y轴方向设置，所述第三基准板沿Z轴方向设置，所述第一激光传感器面向所述第一基准板，所述第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，所述第二激光传感器面向所述第二基准板，所述第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，所述第三激光传感器面向所述第三基准板，所述第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置。


2.如权利要求1所述的快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：其包括底座，所述第一基准板可拆卸地安装于所述底座的X轴方向，所述第二基准板可拆卸地安装于所述底座的Y轴方向，所述第三基准板放置于所述底座的Z轴方向。


3.如权利要求2所述的快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：所述底座上设有多个滑槽，所述第一激光传感器上设有第一调节支架，所述第二激光传感器上设有第二调节支架，所述第三激光传感器上设有第三调节支架，所述第一调节支架、所述第二调节支架以及所述第三调节支架分别安装于所述滑槽内，所述第一调节支架得以沿着所述滑槽带动所述第一激光传感器沿着Y轴方向移动，所述第二调节支架得以沿着所述滑槽带动所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军安，
申请(专利权)人：宁波晶钻工业科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33