一种快速测量微型立方体尺寸的设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种快速测量微型立方体尺寸的设备，包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，第一基准板沿X轴方向设置，第二基准板沿Y轴方向设置，第三基准板沿Z轴方向设置，第一激光传感器面向第一基准板，第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，第二激光传感器面向第二基准板，第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，第三激光传感器面向第三基准板，第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置，整个设备结构简单、设计巧妙，能够实现同时对立方体在X/Y/Z方向上的尺寸进行测量，且整个测量过程无需接触，测量速度快、精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测量微型立方体尺寸的设备
本技术涉及测量设备
，尤其涉及一种快速测量微型立方体尺寸的设备。
技术介绍
目前，在对微型立方体的尺寸进行测量时一般都是采用激光测距的方式，通过设备对微型立方体X/Y/Z三个轴分别进行测量，从而输出该立方体的尺寸，这种测量方法主要是应用于金刚石的尺寸测量，现有技术中在进行测量时一般有两种测量方式：非接触式测量和接触式测量。但是这两种测量方式都存在一定的缺陷：1、非接触式测量一般采用影像测量仪，其原理是利用投影进行测量，其只能测量厚度或者长宽，不能同时测量长宽厚三个尺寸；2、由于金刚石的物理性能，接触式测量其在测量时尺子磨损较快，更换频率较高，导致其测量成本增加。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种快速测量微型立方体尺寸的设备，能够实现同时对立方体在X/Y/Z方向上的尺寸进行测量。为达到以上目的，本技术采用的技术方案为：一种快速测量微型立方体尺寸的设备，包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第一基准板沿X轴方向设置，所述第二基准板沿Y轴方向设置，所述第三基准板沿Z轴方向设置，所述第一激光传感器面向所述第一基准板，所述第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，所述第二激光传感器面向所述第二基准板，所述第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，所述第三激光传感器面向所述第三基准板，所述第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置。进一步地，其所述快速测量微型立方体尺寸的设备包括底座，所述第一基准板可拆卸地安装于所述底座的X轴方向，所述第二基准板可拆卸地安装于所述底座的Y轴方向，所述第三基准板放置于所述底座的Z轴方向。进一步地，所述底座上设有多个滑槽，所述第一激光传感器上设有第一调节支架，所述第二激光传感器上设有第二调节支架，所述第三激光传感器上设有第三调节支架，所述第一调节支架、所述第二调节支架以及所述第三调节支架分别安装于所述滑槽内，所述第一调节支架得以沿着所述滑槽带动所述第一激光传感器沿着Y轴方向移动，所述第二调节支架得以沿着所述滑槽带动所述第二激光传感器沿着X轴方向移动，所述第三调节支架得以沿着所述滑槽带动所述第三激光传感器沿着Z轴方向移动。进一步地，所述快速测量微型立方体尺寸的设备包括输出单元，所述第一激光传感器、所述第二激光传感器以及所述第三激光传感器分别连接于所述输出单元。进一步地，所述第一激光传感器以及所述第二激光传感器的量程大于所述第三激光传感器的量程，所述第三激光传感器的测量精度高于所述第一激光传感器以及所述第二激光传感器。进一步地，所述第一基准板以及所述第二基准板上均设有多个第一安装孔，所述底座上设有与多个所述第一安装孔相匹配的第二安装孔，各个所述第二安装孔对准各个所述第一安装孔。进一步地，所述第三基准板上设有防滑纹路。进一步地，所述第一基准板与所述第三基准板之间设有第一间隙，所述第一基准板和所述第二基准板之间设有第二间隙，所述第二基准板以及所述第三基准板之间设有第三间隙。进一步地，所述快速测量微型立方体尺寸的设备适配于立方体尺寸的测量。与现有技术相比，本技术的有益效果在于：(1)本设备为专用设备，只适合测量立方体长宽厚的尺寸。(2)其设有第一激光传感器、第二激光传感器以及第三激光传感器，能够实现同时对X/Y/Z三个方向上的尺寸进行测量，且整个测量过程无需进行接触，测量速度快、精度高(3)其设有第一调节支架、第二调节支架以及第三调节支架，第一调节支架控制第一激光传感器移动，第二调节支架控制第二激光传感器移动，第三调节支架控制第三激光传感器移动，通过调节支架和激光传感器两者的配合，能够适于对不同尺寸的金刚石进行测量，提高其实用性。(4)其设有可替换的第一基准板、第二基准板以及第三基准板，可在因磨损影响测量精度的情况下进行更换，更换快速方便；且三块基准板均为耐磨材料，能够增大其耐磨性，从而延长其使用寿命；(5)其设有第一间隙、第二间隙以及第三间隙，能够有效地防止因金刚石边缘有毛边等造成测量不准的情况发生。附图说明图1是本技术的快速测量微型立方体尺寸的设备的立体示意图。图2是本技术的快速测量微型立方体尺寸的设备的主视图。图3是本技术的快速测量微型立方体尺寸的设备的左视图。图4是本技术的快速测量微型立方体尺寸的设备未安装激光检测装置的俯视图。图5是本技术图4中沿A-A处的剖视图。图中：1、快速测量微型立方体尺寸的设备；10、第一激光传感器；11、第一调节支架；20、第二激光传感器；21、第二调节支架；30、第三激光传感器；31、第三调节支架；40、第一基准板；41、第一安装孔；42、第一间隙；50、第二基准板；51、第二间隙；60、第三基准板；61、防滑纹路；62、第三间隙；70、底座；71、滑槽；72、第二安装孔。具体实施方式下面，结合具体实施方式，对本技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。在本技术的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”、“横向”、“纵向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本技术的具体保护范围。需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。如图1-5所示的快速测量微型立方体尺寸的设备1，包括第一激光传感器10、第二激光传感器20、第三激光传感器30、第一基准板40、第二基准板50以及第三基准板60，第一基准板40沿X轴方向设置，第二基准板50沿Y轴方向设置，第三基准板60沿Z轴方向设置，第一激光传感器10面向第一基准板40，第一激光传感器10沿着Y轴方向可移动地设置，第一激光传感器10得以测量立方体在Y轴方向上的长度(即立方体的宽度尺寸)。第二激光传感器20面向第二基准板50，第二激光传感器20沿着X轴方向可移动地设置，第二激光传感器20得以测量立方体在Y轴方向上的长度(即立方体的长度尺寸)。第三激光传感器30面向第三基准板60，第三激光传感器30沿着Z轴方向可移动地设置，第三激光传感器30得以测量立方体在Z轴方向上的长度(即立方体的厚度尺寸)。通过设置第一激光传感器10、第二激光传感器20以及第三激光传感器30得以实现同时对立方体在X/Y/Z轴上的尺寸进行测量，得到立方体的长度、宽度以及厚度，同时该测量过程无需接触，提高了测量速度和精度。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第一基准板沿X轴方向设置，所述第二基准板沿Y轴方向设置，所述第三基准板沿Z轴方向设置，所述第一激光传感器面向所述第一基准板，所述第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，所述第二激光传感器面向所述第二基准板，所述第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，所述第三激光传感器面向所述第三基准板，所述第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置。/n

【技术特征摘要】
1.一种快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：包括第一激光传感器、第二激光传感器、第三激光传感器、第一基准板、第二基准板以及第三基准板，所述第一基准板沿X轴方向设置，所述第二基准板沿Y轴方向设置，所述第三基准板沿Z轴方向设置，所述第一激光传感器面向所述第一基准板，所述第一激光传感器沿着Y轴方向可移动地设置，所述第二激光传感器面向所述第二基准板，所述第二激光传感器沿着X轴方向可移动地设置，所述第三激光传感器面向所述第三基准板，所述第三激光传感器沿着Z轴方向可移动地设置。


2.如权利要求1所述的快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：其包括底座，所述第一基准板可拆卸地安装于所述底座的X轴方向，所述第二基准板可拆卸地安装于所述底座的Y轴方向，所述第三基准板放置于所述底座的Z轴方向。


3.如权利要求2所述的快速测量微型立方体尺寸的设备，其特征在于：所述底座上设有多个滑槽，所述第一激光传感器上设有第一调节支架，所述第二激光传感器上设有第二调节支架，所述第三激光传感器上设有第三调节支架，所述第一调节支架、所述第二调节支架以及所述第三调节支架分别安装于所述滑槽内，所述第一调节支架得以沿着所述滑槽带动所述第一激光传感器沿着Y轴方向移动，所述第二调节支架得以沿着所述滑槽带动所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军安，
申请(专利权)人：宁波晶钻工业科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33