一种测试探针卡制造技术

本发明专利技术公开了一种测试探针卡，包括基板，所述基板上设置有测试通槽、主板和多根测试缆线，所述主板和测试缆线分别设置于基板两侧，所述测试通槽位于主板一侧，所述主板上设置有多个通过焊线连接的探针焊孔和金属触片，所述测试缆线一端与探针焊孔连接，所述基板上滑动设置有引导板，所述金属触片与探针一端接触，所述探针另一端与引导板接触，所述引导板上设置有多个引脚，所述引脚位于测试通槽内并能与待测电子元器件接触，提高测试稳定性并减少成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种测试探针卡


[0001]本专利技术涉及探针卡
，尤其涉及一种测试探针卡。

技术介绍

[0002]探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片后通过传输信号对芯片参数进行测试，利用探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。
[0003]但现有的探针卡测试PCB板多为测试缆线与探针分别与探针焊孔两端连接，需要根据主板的宽度调整探针的长度，不仅稳定性较差且原材料的耗费较大。

技术实现思路

[0004]为克服上述缺点，本专利技术的目的在于提供一种提高测试稳定性并减少成本的测试探针卡。
[0005]为了达到以上目的，本专利技术采用的技术方案是：一种测试探针卡，包括基板，所述基板上设置有测试通槽、主板和多根测试缆线，所述主板和测试缆线分别设置于基板两侧，所述测试通槽位于主板一侧，所述主板上设置有多个通过焊线连接的探针焊孔和金属触片，所述测试缆线一端与探针焊孔连接，所述基板上滑动设置有引导板，所述金属触片与探针一端接触，所述探针另一端与引导板接触，所述引导板上设置有多个引脚，所述引脚位于测试通槽内并能与待测电子元器件接触。
[0006]进一步地，所述主板和引导板的数量均为两个，所述引导板位于测试通槽与主板之间，所述基板上设置有两个滑槽，所述引导板与滑槽滑动连接且两个引导板之间能做相互靠近/远离的水平运动，能够根据待测电子元器件的大小改变引脚与其之间的距离。
[0007]进一步地，所述基板上设置有多个安装槽和连接板，所述安装槽和连接板数量相等且一一对应，所述连接板一端与基板固定连接，另一端上设置有橡胶气囊并能通过橡胶气囊与安装槽活动连接，所述安装槽包括相连通的多个限位槽，每两个所述限位槽之间设置有挡板，所述橡胶气囊与限位槽的尺寸相匹配，所述基板与连接板之间具有一定间距并形成放置区域，多根所述测试缆线均穿过放置区域，能够根据测试缆线的数量改变放置区域的大小，便于测试缆线放置的稳定性。
[0008]进一步地，所述橡胶气囊的底部呈弧形结构且顶部呈平行结构，所述橡胶气囊的顶部通过支撑块与连接板固定连接，提高橡胶气囊的安装使用稳定性。
[0009]进一步地，所述主板包括电源层、一号信号层、地层与二号信号层，所述一号信号层固定安装在电源层的上端外表面，所述地层固定安装在电源层的下端外表面，所述二号信号层固定安装在地层的下端外表面，可以增强探针卡测试数据的准确性。
[0010]进一步地，所述基板上设置有多个安装孔且安装孔内设置有螺纹，利用安装座将主板安装在测试机器上，便于基板的拆卸安装。
[0011]进一步地，所述引导板包括第一引导板和第二引导板，所述第一引导板和第二引
导板之间通过支撑部和连接针进行连接，所述第一引导板和第二引导板上分别设置有第一插入通道和第二插入通道，所述探针一端穿过第一插入通道并位于第一引导板和第二引导板之间，所述引脚一端穿过第二插入通道与探针接触，便于第一引导板和第二引导板之间的拆卸安装。
[0012]进一步地，所述第一引导板和第二引导板之间设置有连接限位件，所述连接限位件呈凸字形且底部与第二引导板连接，所述连接限位件具有限位通孔且探针与引脚的接触部位于限位通孔内，提高探针与引脚之间接触稳定性。
[0013]本专利技术提供的一种测试探针卡，其有益效果是：
[0014]①
、通过焊线将探针焊孔和金属触片进行连接，实现探针与焊线的分离，省去剪针和手动弯针的时间，降低人工及原材料的成本，同时线路板走线的线路变细，从而使线路清楚；
[0015]②
、探针测试待测电子元器件时，能够根据待测电子元器件的大小改变引导板的与其之间的距离，使引脚与待测电子元器件的接触更稳定，并能够适用于多种类型的待测电子元器件。
附图说明
[0016]图1为本专利技术的结构示意图；
[0017]图2为本专利技术的结构示意图；
[0018]图3为本专利技术的结构示意图；
[0019]图4为连接板的结构示意图；
[0020]图5为主板的结构示意图；
[0021]图6为引导板的结构示意图。
[0022]图中：
[0023]1‑
基板；2
‑
测试通槽；3
‑
主板；31
‑
电源层；32
‑
一号信号层；33
‑
地层；34
‑
二号信号层；4
‑
探针焊孔；5
‑
金属触片；6
‑
引导板；61
‑
第一引导板；62
‑
第二引导板；7
‑
探针；8
‑
引脚；9
‑
安装槽；91
‑
挡板；10
‑
连接板；11
‑
橡胶气囊；12
‑
支撑块；13
‑
安装孔；14
‑
连接限位件；15
‑
焊线；16
‑
测试缆线。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0025]参见附图1、附图2所示，一种测试探针卡，包括基板1，基板1上设置有多个安装孔13且安装孔13内设置有螺纹，基板1上设置有测试通槽2、主板3和多根测试缆线16，主板3和测试缆线16分别设置于基板1两侧，主板3包括电源层31、一号信号层32、地层33与二号信号层34，一号信号层32固定安装在电源层31的上端外表面，地层33固定安装在电源层31的下端外表面，二号信号层34固定安装在地层33的下端外表面，基板1上设置有多个安装槽9和连接板10，安装槽9和连接板10数量相等且一一对应，连接板10一端与基板1固定连接，另一端上设置有橡胶气囊11并能通过橡胶气囊11与安装槽9活动连接，橡胶气囊11的底部呈弧形结构且顶部呈平行结构，橡胶气囊11的顶部通过支撑块12与连接板10固定连接，安装槽9
包括相连通的多个限位槽，每两个限位槽之间设置有挡板91，橡胶气囊11与限位槽的尺寸相匹配，基板1与连接板10之间具有一定间距并形成放置区域，多根测试缆线16均穿过放置区域，能够根据测试缆线16的数量改变放置区域的大小，便于测试缆线16放置的稳定性；
[0026]测试通槽2位于主板3一侧，主板3上设置有多个通过焊线15连接的探针焊孔4和金属触片5，测试缆线16一端与探针焊孔4连接，基板1上滑动设置有引导板6，主板3和引导板6的数量均为两个，引导板6位于测试通槽2与主板3之间，基板1上设置有两个滑槽，引导板6与滑槽滑动连接且两个引导板6之间能做相互靠近/远离的水平运动，金属触片5与探针7一端接触，探针7另一端与引导板6接触，引导板6上设置有多个引脚8，引导板6本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试探针卡，包括基板(1)，其特征在于：所述基板(1)上设置有测试通槽(2)、主板(3)和多根测试缆线(16)，所述主板(3)和测试缆线(16)分别设置于基板(1)两侧，所述测试通槽(2)位于主板(3)一侧，所述主板(3)上设置有多个通过焊线(15)连接的探针焊孔(4)和金属触片(5)，所述测试缆线(16)一端与探针焊孔(4)连接，所述基板(1)上滑动设置有引导板(6)，所述金属触片(5)与探针(7)一端接触，所述探针(7)另一端与引导板(6)接触，所述引导板(6)上设置有多个引脚(8)，所述引脚(8)位于测试通槽(2)内并能与待测电子元器件接触。2.根据权利要求1所述的一种测试探针卡，其特征在于：所述主板(3)和引导板(6)的数量均为两个，所述引导板(6)位于测试通槽(2)与主板(3)之间，所述基板(1)上设置有两个滑槽，所述引导板(6)与滑槽滑动连接且两个引导板(6)之间能做相互靠近/远离的水平运动。3.根据权利要求1所述的一种测试探针卡，其特征在于：所述基板(1)上设置有多个安装槽(9)和连接板(10)，所述安装槽(9)和连接板(10)数量相等且一一对应，所述连接板(10)一端与基板(1)固定连接，另一端上设置有橡胶气囊(11)并能通过橡胶气囊(11)与安装槽(9)活动连接，所述安装槽(9)包括相连通的多个限位槽，每两个所述限位槽之间设置有挡板(91)，所述橡胶气囊(11)与限位槽的尺寸相匹配，所述基板(1)与连接板(10)之间具有一定间距并形成放置区域，多根所述测试缆线(16...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟志宏，张卫勇，谢禹东，
申请(专利权)人：苏州光和精密测试有限公司，
类型：发明
国别省市：