一种测试电路和测试系统技术方案

本申请提供一种测试电路和测试系统，该测试电路包括：M个电源管理单元，电源管理单元用于与待测试存储器连接，以向待测试存储器输入一电压电流信号，以及用于对待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号；一控制器，其与每一电源管理单元电连接，以用于根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送测试配置文件对应的测试信号，以使每一测试配置文件对应的电源管理单元根据接收的测试信号输出对应的电压电流信号，以及用于根据电源管理单元发送的采样信号生成对应的测试结果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路和测试系统


[0001]本申请涉及测试
，具体而言，涉及一种测试电路和测试系统。

技术介绍

[0002]超大规模集成电路存储测试设备是集成电路行业非常重要的一环，存储产品的多样化会带来不同的设计需求与特点，而目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在着测试效率低的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种测试电路和测试系统，用以解决目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种测试电路，所述测试电路包括：M个电源管理单元，所述电源管理单元用于与待测试存储器连接，以向所述待测试存储器输入一电压电流信号，以及用于对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号；一控制器，其与每一电源管理单元电连接，以用于根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送所述测试配置文件对应的测试信号，以使每一测试配置文件对应的电源管理单元根据接收的测试信号输出对应的所述电压电流信号，以及用于根据电源管理单元发送的采样信号生成对应的测试结果。
[0005]在上述设计的测试电路中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试集成，提高了并测数量从而大大提高存储器测试的效率，降低了测试成本。
[0006]在第一方面的可选实施方式中，每一电源管理单元包括电源管理芯片、K条测试信号线和一采样信号线，所述电源管理芯片通过所述K条测试信号线与待测试存储器的输入端连接，以向所述待测试存储器的输入端输入所述电压电流信号；所述电源管理芯片通过所述采样信号线与待测试存储器的输出端连接，以对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到所述采样信号。
[0007]在第一方面的可选实施方式中，所述测试电路还包括：N个模数转换单元，每一模数转换单元的输入端与X条采样信号线连接以连接对应的2X个电源管理芯片，每一条采样信号线对应2个电源管理芯片，每一模数转换单元用于将接收的每一采样信号转换为对应
的数字信号，其中，M＝2X*N；所述N个模数转换单元的输出端与所述控制器电连接，以向所述控制器发送转换的数字信号，使得所述控制器根据接收的数字信号生成对应的测试结果。
[0008]在第一方面的可选实施方式中，每一所述电源管理单元还包括K个可控开关，每一所述可控开关的输入端与对应的电源管理芯片连接，每一所述可控开关的输出端与一测试信号线连接，所述K个可控开关的控制端分别接入一控制信号，以用于闭合或断开对应的测试信号线和电源管理芯片之间的连接。
[0009]在第一方面的可选实施方式中，所述可控开关为PMOS管，所述PMOS管的源极与所述电源管理芯片连接，所述PMOS管的漏极与所述测试信号线连接，所述PMOS管的栅极接入一控制信号。
[0010]在第一方面的可选实施方式中，所述测试系统还包括接口单元，所述控制器通过所述接口单元与外部计算设备连接，以接收外部计算设备传输的测试配置文件。
[0011]在第一方面的可选实施方式中，所述测试系统还包括电源模块，所述电源模块与所述控制器和每一所述电源管理模块电连接，以为所述控制器和每一所述电源管理模块供电。
[0012]在第一方面的可选实施方式中，所述电源模块包括电源和电压转换单元，所述电源通过所述电压转换单元与所述控制器以及每一所述电源管理模块电连接。
[0013]在第一方面的可选实施方式中，所述电源模块为DC/DC电源模块。
[0014]第二方面，本专利技术提供一种测试系统，所述测试系统包括如前述实施方式所述的测试电路以及外部计算设备，所述外部计算设备与所述控制器连接，以向所述控制器发送至少一个测试配置文件，以使所述控制器根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送所述测试信号。
[0015]在上述设计的测试系统中，通过设计控制器和多个电源管理单元，使得设计的测试电路可以基于多个电源管理单元连接多个待测试存储器，控制器根据每一待测试存储器对应的测试配置文件生成对应的测试信号发送给待测试存储器连接的电源管理单元，使得待测试存储器连接的电源管理单元能够根据该测试信号生成对应的电压电流信号输入给待测试存储器，使得待测试存储器进行测试，并且每一待测试存储器连接的电源管理单元还可以对待测试存储器输出的输出信号进行采样进而得到采样信号传输给控制器，使得控制器可以根据采样信号生成其测试结果，由此可见，本申请设计的测试电路可同时对多个待测试存储器进行测试，解决了目前的存储器测试设备一般只能对单一器件进行测试，存在的测试效率低的问题，实现了超大规模的存储器测试集成，提高了并测数量从而大大提高存储器测试的效率，降低了测试成本。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0017]图1为本申请实施例提供的测试电路的第一结构示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的测试电路的第二结构示意图；
[0019]图3为本申请实施例提供的测试电路的第三结构示意图；
[0020]图4为本申请实施例提供的测试电路的第四结构示意图；
[0021]图5为本申请实施例提供的测试电路的第五结构示意图；
[0022]图6为本申请实施例提供的测试系统的第六结构示意图；
[0023]图7为本申请实施例提供的测试系统的第七结构示意图。
[0024]图标：10
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控制器；20
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电源管理单元；201
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电源管理芯片；202
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测试信号线；203
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采样信号线；204
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可控开关；30
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模数转换单元；50
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接口单元；60
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电源模块；601
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电源；602
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电压转换单元；200
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外部计算设备。
具体实施方式
[0025]下面将结合本申请实施例中的附图，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：M个电源管理单元，所述电源管理单元用于与待测试存储器连接，以向所述待测试存储器输入一电压电流信号，以及用于对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号；一控制器，其与每一电源管理单元电连接，以用于根据接收的每一测试配置文件向对应的电源管理单元发送所述测试配置文件对应的测试信号，以使每一测试配置文件对应的电源管理单元根据接收的测试信号输出对应的所述电压电流信号，以及用于根据电源管理单元发送的采样信号生成对应的测试结果。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，每一电源管理单元包括电源管理芯片、K条测试信号线和一采样信号线，所述电源管理芯片通过所述K条测试信号线与待测试存储器的输入端连接，以向所述待测试存储器的输入端输入所述电压电流信号；所述电源管理芯片通过所述采样信号线与待测试存储器的输出端连接，以对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到所述采样信号。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：N个模数转换单元，每一模数转换单元的输入端与X条采样信号线连接以连接对应的2X个电源管理芯片，每一条采样信号线对应2个电源管理芯片，每一模数转换单元用于将接收的每一采样信号转换为对应的数字信号，其中，M＝2X*N；所述N个模数转换单元的输出端与所述控制器电连接，以向所述控制器发送转换的数字信号，使得所述控制器根据接收的数字信号生成对应的测试结果。4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，每...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋山，吉润宰，
申请(专利权)人：合肥悦芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：