【技术实现步骤摘要】
使用阈值电压分布之间的间隔来调整读取和写入电压
[0001]本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更具体地，涉及使用阈值电压分布之间的间隔来调整读取和写入电压。
技术介绍
[0002]存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器组件。存储器组件可以是例如非易失性存储器组件和易失性存储器组件。一般来说，主机系统可以利用存储器子系统以在存储器组件处存储数据且从存储器组件检索数据。
技术实现思路
[0003]在一个方面，本申请涉及一种系统，其包括：存储器组件，其包含一或多个存储器单元；以及处理装置，其与所述存储器组件可操作地耦合，所述处理装置经配置以执行包括以下各项的操作：确定将被施加到存储器单元以读取所述存储器单元的状态的当前分界电压；基于所述当前分界电压以及与所述存储器单元的第一状态相对应的第一阈值电压分布和与所述存储器单元的第二状态相对应的第二阈值电压分布之间的间隔来确定多个测试分界电压；对于每一测试分界电压，基于相应测试分界电压来确定读取所述存储器单元的所述状态的错误率；从所述多个测试分界电压中确定具有最低...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种系统，其包括：存储器组件，其包含一或多个存储器单元；以及处理装置，其与所述存储器组件可操作地耦合，所述处理装置经配置以执行包括以下各项的操作：确定将被施加到存储器单元以读取所述存储器单元的状态的当前分界电压；基于所述当前分界电压以及与所述存储器单元的第一状态相对应的第一阈值电压分布和与所述存储器单元的第二状态相对应的第二阈值电压分布之间的间隔来确定多个测试分界电压；对于每一测试分界电压，基于相应测试分界电压来确定读取所述存储器单元的所述状态的错误率；从所述多个测试分界电压中确定具有最低错误率的测试分界电压；以及将所述当前分界电压设置为对应于具有所述最低错误率的所述测试分界电压。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述确定所述多个测试分界电压包括：确定所述存储器单元的所述第一阈值电压分布与所述第二阈值电压分布之间的多个间隔，每一间隔与在不同操作条件下的所述存储器单元相关联；以及确定跨越电压范围的所述多个测试分界电压，所述电压范围对应于所述多个间隔的差并且包含所述当前分界电压。3.根据权利要求2所述的系统，其中所述操作条件包括与所述存储器单元的操作环境相关联的多个温度或各自表示对所述存储器单元执行两次连续写入操作之间的时间差的多个时间段中的至少一者。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述确定读取所述存储器单元的所述状态的所述错误率包括：对于每一测试分界电压：在自从已经执行了写入操作以设置所述存储器单元的所述状态以来经过了第一时间段后，使用相应测试分界电压确定多次读取所述存储器单元的所述状态时的第一错误率；在自从已经执行了所述写入操作以设置所述存储器单元的所述状态以来经过了第二时间段后，使用所述相应测试分界电压确定所述多次读取所述存储器单元的所述状态时的第二错误率，其中所述第一时间段和所述第二时间段不同；以及基于所述第一错误率和所述第二错误率，确定读取所述存储器单元的所述状态的所述错误率。5.根据权利要求4所述的系统，其中基于所述第一错误率和所述第二错误率来确定读取所述存储器单元的所述状态的所述错误率包括：确定读取所述存储器单元的所述状态的所述错误率以对应于所述第一错误率和所述第二错误率之和。6.根据权利要求1所述的系统，其进一步包括：对针对所述存储器单元执行的写入操作的数目进行计数；确定对所述存储器单元执行的写入操作的所述数目是否满足第一阈值条件；以及响应于确定对所述存储器单元执行的写入操作的所述数目满足所述第一阈值条件，确定所述当前分界电压。
7.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个测试分界电压中的一者对应于所述当前分界电压。8.一种方法，其包括：确定将被施加到存储器单元以读取所述存储器单元的状态的当前分界电压；通过处理装置基于所述当前分界电压以及与所述存储器单元的第一状态相对应的第一阈值电压分布和与所述存储器单元的第二状态相对应的第二阈值电压分布之间的间隔来确定多个测试分界电压；对于每一测试分界电压，基于相应测试分界电压来确定读取所述存储器单元的所述状态的错误率；从所述多个测试分界电压中确定具有最低错误率的测试分界电压；以及将所述当前分界电压设置为对应于具有所述最低错误率的所述测试分界电压。9.根据权利要求8所述的方法，其中所述确定所述多个测试分界电压包括：确定所述存储器单元的所述第一阈值电压分布与所述第二阈值电压...
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