【技术实现步骤摘要】
用以检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备
[0001]本公开涉及半导体装置，且明确地说，涉及检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备。
技术介绍
[0002]在生产期间，多个半导体装置(例如受测试的装置或单元(DUT))可连接到测试设置，并行于接收来自测试仪的常见输入信号来进行高度并行的测试。所述测试设置可涉及定位相应的一组探针，以电接触每一DUT的相应端子或引脚。归因于半导体装置的端子或引脚的大小，所述探针中的一或多者可能未与目标端子或引脚对准，使得探针与目标端子或引脚之间存在断路。因此，当测试具有未对准探针的特定DUT时，有缺陷的测试设置可致使测试仪不必要地不通过所述DUT。不必要地不通过DUT可能降低产量和生产效率，并且增加生产成本。
技术实现思路
[0003]本公开的一方面提供一种设备，其中所述设备包括：输入缓冲器，其耦合到输入端子，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压；以及测试逻辑电路，...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种设备，其包括：输入缓冲器，其耦合到输入端子，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压；以及测试逻辑电路，其经配置以响应于所述探测信号指示测试且外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的值，起始探测接触检测测试，其中在所述起始探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以接收所述输入信号，且提供具有基于所述输入信号的值的输出信号。2.根据权利要求1所述的设备，其中在所述探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以响应于在所述输入端子处接收到的所述电压超过阈值电压，提供具有第一逻辑值的所述输出信号，且响应于在所述输入端子处接收到的所述电压小于所述阈值电压，提供具有第二逻辑值的所述输出信号。3.根据权利要求1所述的设备，其进一步包括耦合到第二输入端子的第二输入缓冲器，其中所述第二输入缓冲器经配置以基于在所述第二输入端子处接收到的电压提供第二输入信号，其中在所述探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以提供具有进一步基于所述第二输入信号的值的所述输出信号。4.根据权利要求3所述的设备，其中在所述探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以响应于在所述输入端子或所述第二输入端子中的任一者处接收到的所述电压超过阈值电压，提供具有第一逻辑值的所述输出信号，且响应于在所述输入端子和所述第二输入端子两者处接收到的所述电压小于所述阈值电压，提供具有第二逻辑值的所述输出信号。5.根据权利要求1所述的设备，其进一步包括外部供应电压检测电路，其经配置以响应于所述外部供应电压比第二外部供应电压大至少一阈值电压，提供具有指示所述外部供应电压的检测的所述值的所述外部供应电压检测信号。6.根据权利要求1所述的设备，其中所述测试逻辑电路经配置以响应于所述探测信号指示所述测试，为单端操作配置所述输入缓冲器。7.根据权利要求1所述的设备，其中所述测试逻辑电路经配置以响应于所述探测信号指示所述测试且所述外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的所述值，使开关电路将所述输入缓冲器的输出耦合到所述测试逻辑电路。8.根据权利要求7所述的设备，其中所述测试逻辑电路经配置以响应于所述探测信号指示所述测试且所述外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的所述值，使所述开关电路将所述输入缓冲器的所述输出耦合到经配置以提供所述输出信号的逻辑门。9.根据权利要求8所述的设备，其中所述测试逻辑电路经配置以响应于所述探测信号指示所述测试且所述外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的所述值，使所述开关电路将包含所述输入缓冲器的多个输入缓冲器的输出耦合到所述逻辑门，其中所述多个输入缓冲器中的每一者耦合到不同的相应输入端子。10.根据权利要求9所述的设备，其中所述逻辑门经配置以对所述多个输入缓冲器的所
述输出执行逻辑“或”运算，以提供所述输出信号。1...
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