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用以检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备技术
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文档序号:27575244
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本申请案涉及检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备。一种实例设备包含:耦合到输入端子的输入缓冲器,其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号;测试端子,其经配置以接收探测信号;以及电力供应端子,其经配置以接收外...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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