电磁波检测装置以及信息获取系统制造方法及图纸

电磁波检测装置(100)具有：波长分离部(123)，第一波段的电磁波的透过率大于所述第一波段以外的电磁波的透过率；波长选择部(124)，第二波段的电磁波的透过率大于第二波段以外的电磁波的透过率；以及第一检测部(130)，对经由波长分离部(123)以及波长选择部(124)行进的电磁波进行检测。第一波段与第二波段一部分重叠。波段一部分重叠。波段一部分重叠。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电磁波检测装置以及信息获取系统
[0001]相关申请的相互参照
[0002]本申请主张2018年7月27日在日本申请的日本特愿2018-141356号的优先权，并将该在先申请的全部公开内容引入本申请用于参照。


[0003]本专利技术涉及电磁波检测装置以及信息获取系统。

技术介绍

[0004]在专利文献1中公开了一种系统，在该系统中，向测定对象照射特定的波段的激光，通过检测该激光被测定对象反射的反射光，来获取测定对象的三维图像信息。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本专利第4401989号

技术实现思路

[0008]用于解决问题的技术方案
[0009]一个方式的电磁波检测装置，具有：第一透过部，第一波段的电磁波的透过率大于所述第一波段以外的电磁波的透过率；第二透过部，第二波段的电磁波的透过率大于所述第二波段以外的电磁波的透过率；以及第一检测部，对经由所述第一透过部以及所述第二透过部行进的电磁波进行检测，所述第一波段与所述第二波段一部分重叠。
[0010]一个方式的信息获取系统，包括：上述的电磁波检测装置；以及控制部，基于所述第一检测部的电磁波的检测结果，来获取与周围相关的信息。
[0011]如上所述，将本专利技术的解决方案以装置和系统的方式进行说明，但本专利技术也能够作为包含这些的方式来实现，另外，也能够作为实质上与这些相当的方法、程序、记录有程序的存储介质来实现，这些也包含于本专利技术的范围。r/>附图说明
[0012]图1是表示现有的电磁波检测装置的概略结构的图。
[0013]图2是表示通常的带通滤波器的光谱特性的图。
[0014]图3是表示包含本专利技术的第一实施方式的电磁波检测装置的信息获取系统的概略结构的图。
[0015]图4是表示图3所示的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0016]图5是表示作为图4所示的波长分离部的长通滤波器、以及作为波长选择部的短通滤波器的光谱特性的一例的图。
[0017]图6是表示图3所示的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0018]图7是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部的一方是长通滤波器，另一方是
带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。
[0019]图8是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部的一方是短通滤波器，另一方是带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。
[0020]图9是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是带通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。
[0021]图10是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是短通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。
[0022]图11是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是短通滤波器的情况下的光谱特性的另一例的图。
[0023]图12是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是长通滤波器的情况下的光谱特性的一例的图。
[0024]图13是表示图4所示的波长分离部以及波长选择部是长通滤波器的情况下的光谱特性的另一例的图。
[0025]图14是表示本专利技术的第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0026]图15是表示本专利技术的第二实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0027]图16是表示本专利技术的第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0028]图17是表示本专利技术的第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0029]图18是表示本专利技术的第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0030]图19是表示本专利技术的第三实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0031]图20是表示本专利技术的第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0032]图21是表示本专利技术的第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0033]图22是表示本专利技术的第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0034]图23是表示本专利技术的第四实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0035]图24是表示本专利技术的第五实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0036]图25是表示本专利技术的第五实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0037]图26是表示本专利技术的第五实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0038]图27是表示本专利技术的第六实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0039]图28是表示本专利技术的第六实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0040]图29是表示本专利技术的第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0041]图30是表示本专利技术的第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0042]图31是表示本专利技术的第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0043]图32是表示本专利技术的第七实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0044]图33是表示本专利技术的第八实施方式的电磁波检测装置的概略结构的一例的图。
[0045]图34是表示本专利技术的第八实施方式的电磁波检测装置的概略结构的另一例的图。
[0046]图35是表示本专利技术的第八实施方式的电磁波检测装置的概略结构的又一例的图。
[0047]图36是表示本专利技术的第一实施方式的电磁波检测装置的另一结构例的图。
具体实施方式
[0048]在上述那样的接受特定的波段(wavelength band)的电磁波并将其向检测电磁波
的检测部引导的装置中，在检测部中得到良好的接收信号是有益的。根据一个实施方式，能够在检测部中得到良好的受光信号。
[0049]以下，参照附图对应用了本专利技术的电磁波检测装置以及信息获取系统的实施方式进行说明。
[0050]图1是表示专利文献1所公开的那样的向对象照射特定的波段的电磁波，接受该电磁波被对象反射的电磁波，并将其向检测电磁波的检测部引导的电磁波检测装置900的概略结构的图。
[0051]图1所示的电磁波检测装置900具有带通滤波器911、第一成像部912、棱镜913、行进部914、第二成像部915、以及检测部916。
[0052]带通滤波器911是使特定的波段的电磁波透过，将除此以外的波段的电磁波遮挡的窄带滤波器。带通滤波器911使与朝向对象放射的电磁波相同的波段的电磁波透过。
[0053]第一成像部912使透过了带通滤波器911的电磁波向棱镜913的第一面s1行进，使对象的像成像。
[0054]棱镜913将从第一成像部912行进的电磁波朝向行进部914射出。另外，棱镜913将被第一行进部913改变了行进方向的电磁波朝向第二成像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电磁波检测装置，其中，具有：第一透过部，第一波段的电磁波的透过率大于所述第一波段以外的电磁波的透过率；第二透过部，第二波段的电磁波的透过率大于所述第二波段以外的电磁波的透过率；以及第一检测部，对经由所述第一透过部以及所述第二透过部行进的电磁波进行检测，所述第一波段与所述第二波段一部分重叠。2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段和所述第二波段重叠的波段与所述第一检测部所检测的电磁波的波段至少一部分重叠。3.如权利要求1或2所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段与所述第二波段重叠的波段包含所述第一检测部所检测的电磁波的全部波段。4.如权利要求1至3中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段和所述第二波段重叠的波段与所述第一检测部所检测的电磁波的波段一致。5.如权利要求1至4中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一检测部对依次透过了所述第一透过部以及所述第二透过部的电磁波进行检测。6.如权利要求1至4中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一透过部反射所述第一波段以外的电磁波，所述第一检测部对在被所述第一透过部反射后透过了所述第二透过部的电磁波进行检测。7.如权利要求1至6中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一透过部以及所述第二透过部包括长通滤波器、短通滤波器、以及带通滤波器中的任一种。8.如权利要求1至7中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有第三透过部，所述第三透过部的所述第一波段以外的电磁波的透过率小于所述第一透过部，以及，所述第二波段以外的电磁波的透过率小于所述第二透过部，所述第三透过部使透过了所述第一透过部以及所述第二透过部的电磁波透过，所述第一检测部对透过了所述第三透过部的电磁波进行检测。9.如权利要求1至7中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有第三透过部，所述第三透过部的所述第一波段以外的电磁波的透过率小于所述第一透过部，或者，所述第二波段以外的电磁波的透过率小于所述第二透过部，所述第三透过部使透过了所述第一透过部以及所述第二透过部的电磁波透过，所述第一检测部对透过了所述第三透过部的电磁波进行检测。10.如权利要求8或9所述的电磁波检测装置，其中，
所述第三透过部包括IR截止滤波器或者可见光截止滤波器。11.如权利要求1至10中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一检测部包括检测从放射部朝向对象放射的电磁波的来自所述对象的反射波的有源传感器或无源传感器。12.如权利要求11所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段和所述第二波段重叠的波段与所述放射部放射的电磁波的波段至少一部分重叠。13.如权利要求11或12所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段和所述第二波段重叠的波段包含所述放射部放射的电磁波的全部波段。14.如权利要求11至13中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一波段和所述第二波段重叠的波段与所述放射部放射的电磁波的波段一致。15.如权利要求11至14中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有所述放射部。16.如权利要求11至15中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述放射部通过分阶段扫描方式对电磁波进行扫描。17.如权利要求11至16中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有扫描部，所述扫描部对从所述放射部放射的电磁波进行扫描。18.如权利要求17所述的电磁波检测装置，其中，所述扫描部具有反射电磁波的反射面，所述扫描部通过一边变更所述反射面的朝向一边由所述反射面反射从所述放射部放射的电磁波来进行扫描。19.如权利要求17或18所述的电磁波检测装置，其中，所述扫描部包括MEMS反射镜、多面镜、以及电流镜中的任一种。20.如权利要求11至19中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述放射部放射红外线、可见光线、紫外线、以及电波中的任一种。21.如权利要求1至20中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述电磁波检测装置还具有第一行进部，所述第一行进部沿着基准面配置有多个像素，使经由所述第一透过部行进并入射至所述基准面的电磁波按每个所述像素向特定的方向行进，所述第一检测部对向所述特定的方向行进的电磁波进行检测。22.如权利要求21所述的电磁波检测装置，其中，具有第一射出面，使经由所述第一透过部行进的电磁波向所述基准面射出，供从所述基准面向所述特定的方向行进的电磁波再次入射；以及第二射出面，对所述再次入射的电磁波进行射出，所述第一检测部对从所述第二射出面射出的电磁波进行检测。23.如权利要求22所述的电磁波检测装置，其中，所述第二透过部配置于所述第一射出面与所述第一行进部之间或者配置于所述第二射出面与所述第一检测部之间。
24.如权利要求21至23中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一行进部针对每个所述像素在使入射至所述基准面的电磁波向所述特定的方向反射的第一反射状态和向与所述特定的方向不同方向反射的第二反射状态之间进行切换。25.如权利要求24所述的电磁波检测装置，其中，所述第一行进部按每个所述像素而包括反射电磁波的反射面，通过针对每个所述像素变更所述反射面的朝向，在所述第一反射状态和所述第二反射状态之间进行切换。26.如权利要求21至25中任一项所述的电磁波检测装置，其中，所述第一行进部包括数字微镜器件。27....

【专利技术属性】
技术研发人员：竹内绘梨，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：