一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台制造技术

本实用新型专利技术涉及非晶合金的磁性能测量技术领域，尤其涉及一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，包括平台底座，所述平台底座上设置有供待测试样品滑移的传输槽，所述传输槽的一端设置有升降装置，所述升降装置上设置有升降杆，所述升降杆上固定连接有航空插头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端设置有探测待测样品的红外线探头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端固定连接有固定支撑架，所述固定支撑架远离所述平台底座的一端固定连接有航空插座，所述航空插座对应所述航空插头设置，所述航空插头和所述航空插座内均设置有测量磁性能的线圈，上述测量工作使用机器自动对样品测量，可以有效提高测量效率。可以有效提高测量效率。可以有效提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台


[0001]本技术涉及非晶合金
，尤其涉及一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台。

技术介绍

[0002]目前非晶合金带材磁性能的测量有两种方法，一种为环形试样法，一种为单片试样法。在现有的非晶合金带材用环形试样法测量磁性能，通常的做法将初级线圈与次级线圈按照一定匝数绕制在环形试样上，或者按照一定匝数比制作好线圈再使用，且制作好的线圈需要人拿着进行测试，准备及测试过程繁杂，需要消耗大量人力，且不能快速的测量磁性能数据。为了更好的提高劳动效率、减少人力，提高测量效率和测量的准确性，设计一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，能在生产中带来有益效果。

技术实现思路

[0003]针对上述现有技术的现状，本技术提供一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，具有提高测量效率和测量的准确性的优点。
[0004]本技术解决上述技术问题所采用的技术方案为：
[0005]一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，包括平台底座，所述平台底座上设置有供待测试样品滑移的传输槽，所述传输槽的一端设置有升降装置，所述升降装置上设置有升降杆，所述升降杆上固定连接有航空插头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端设置有探测待测样品的红外线探头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端固定连接有固定支撑架，所述红外线探头和所述固定支撑架分别位于所述升降装置的两侧，所述固定支撑架远离所述平台底座的一端固定连接有航空插座，所述航空插座对应所述航空插头设置，所述航空插头和所述航空插座的接线端均设置有相连的测量磁性能的线圈。
[0006]通过采用上述技术方案，将待测样品放置在传输槽上，并使待测样品运动至红外线头探测到待测样品的外壁时，待测样品自动停止在升降装置处；然后启动升降装置，从而使升降杆沿着样品中心线上升，直至升降杆上的航空插头完全插入固定支撑架上的航空插座，进而开始对样品进行磁性能测量；待磁性能测量完成，升降装置工作使升降杆下降至初始位置，上述测量工作使用机器自动对样品测量，可以有效提高测量效率和测量的准确性。
[0007]进而的，所述固定支撑架包括固定连接于所述平台底座的第一杆、连接于所述第一杆远离所述平台底座一端的第二杆，所述航空插座设置于所述第二杆中，所述第一杆和所述第二杆之间固定连接有连接杆。
[0008]通过采用上述技术方案，由于航空插头插接航空插座的过程中，航空插头对第二杆具有冲击力，而连接杆连接第一杆和第二杆，可以提高固定支撑架的稳固性。
[0009]进而的，所述第一杆的侧壁上穿设有若干螺栓，所述平台底座上开设有若干供所述螺栓螺纹连接的螺纹孔。
[0010]通过采用上述技术方案，当需要安装使用固定支撑架的时候，拧紧螺栓使螺栓进
入螺纹孔内，可增强固定支撑架的稳固性；当固定支撑架破损需要更换时，可拧松螺栓使第一杆与平台底座分离，进而方便固定支撑架的可拆卸。
[0011]进而的，所述第一杆朝向所述升降装置的侧壁上固定连接有支撑杆，所述支撑杆朝所述升降装置方向倾斜向下设置，且与所述平台底座贴合。
[0012]通过采用上述技术方案，支撑杆可以为固定支撑架提供支撑力，进一步提高固定支撑架的稳固性。
[0013]进而的，所述平台底座上远离所述升降装置的一端设置有电机，所述传输槽内设置有同轴连接于所述电机输出轴的传输窄带。
[0014]通过采用上述技术方案，将样品按一定间距放置于传输窄带上方，启动电机，使电机的输出轴带动传输窄带运动，传输窄带进而使样品有序地往升降装置方向运动，然后有序地被测量。该过程可实现多个样品有序进行磁性能测量，进一步提高工作效率。
[0015]进而的，所述传输槽内设置有供所述传输窄带滚动的若干滚轮。
[0016]通过采用上述技术方案，传输窄带运动时，滚轮可以为传输窄带提供支撑力，提高传输窄带运动的稳定性，从而使样品不易脱离传输窄带。
[0017]与现有技术相比，本技术的优点在于：
[0018]本技术提供一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，通过在平台底座上设置传输槽和升降装置，并且升降装置上设有升降杆，通过控制升降杆使得机器自动对样品测量，可以有效提高测量效率和测量准确性；
[0019]通过设置电机控制传输窄带运动，使样品有序地往升降装置方向运动，进一步提高工作效率；
[0020]通过设置滚轮，为传输窄带提供支撑力，提高传输窄带运动的稳定性。
附图说明
[0021]图1为本技术的非晶合金环形试样磁性能测量样品台示意图。
[0022]图中：1、平台底座；11、传输槽；12、红外线探头；2、电机；3、传输窄带；4、滚轮；5、升降装置；51、升降杆；511、航空插头； 6、固定支撑架；61、第一杆；611、支撑杆；62、第二杆；621、航空插座；63、连接杆；7、螺栓；8、线圈；9、升降装置控制开关； 10、传输窄带控制开关。
具体实施方式
[0023]如图1所示，本技术公开的一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，包括呈长方体状的平台底座1，平台底座1上沿平台底座 1长度方向开设有供样品滑移的传输槽11，传输槽11靠近放置样品的一端固定连接有同一水平位置的两个电机2，电机2的输出轴均朝向传输槽11水平设置，且电机2的输出轴上同轴连接有设置在传输槽11内的传输窄带3；传输槽11的两侧壁上均设置有若干个给传输窄带3提供支撑力的滚轮4。
[0024]传输槽11远离电机2的一端设置有升降装置5，并且平台底座1 的侧壁上设有升降装置控制开关9和传输窄带控制开关10；升降装置5背离传输槽11槽底的侧壁上设置有升降杆51，升降杆51背离升降装置5的一端固定连接有航空插头511。
[0025]平台底座1的侧壁上螺纹连接有固定支撑架6，平台底座1的侧壁上固定连接有红外线探头12，固定支撑架6和红外线探头12位于传输槽11的两侧，且与升降装置5沿平台底
座1宽度方向设置；固定支撑架6包括垂直固定连接于平台底座1的第一杆61、固定连接于第一杆61远离平台底座1一端的第二杆62，第二杆62和第一杆 61之间固定连接有连接杆63，连接杆63可提高固定支撑架6的稳定性；第一杆61的侧壁上穿设有两个螺栓7，平台底座1朝向第一杆 61的侧壁上开设有若干供螺栓7螺纹连接的螺纹孔，螺栓7螺纹连接于螺纹孔的方式可以固定第一杆61和平台底座1的连接，也能方便固定支撑架6与平台底座1的可拆卸连接。
[0026]第一杆61朝向升降杆51的侧壁上固定连接有支撑杆611，支撑杆611朝向平台底座1的方向切斜向下设置，并且与平台底座1朝向第二杆62的侧壁紧密贴合，支撑杆611为第一杆61提供支撑力，提高支撑架的稳定性。
[0027]第二杆62朝向升降杆51的侧壁上固定连接有航空插座621，航空插座621对应航空插头511设置，并且航空插头511和航空插座 621的接线端内均设置有相连的线圈8。
[0028]本实施例的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，包括平台底座(1)，其特征在于：所述平台底座(1)上设置有供待测试样品滑移的传输槽(11)，所述传输槽(11)的一端设置有升降装置(5)，所述升降装置(5)上设置有升降杆(51)，所述升降杆(51)上固定连接有航空插头(511)，所述平台底座(1)靠近所述升降装置(5)的一端设置有探测待测样品的红外线探头(12)，所述平台底座(1)靠近所述升降装置(5)的一端连接有固定支撑架(6)，所述红外线探头(12)和所述固定支撑架(6)分别位于所述升降装置(5)的两侧，所述固定支撑架(6)远离所述平台底座(1)的一端固定连接有航空插座(621)，所述航空插座(621)对应所述航空插头(511)设置，所述航空插头(511)和所述航空插座(621)的接线端均设置有相连的测量磁性能的线圈(8)。2.根据权利要求1所述的一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，其特征在于：所述固定支撑架(6)包括连接于所述平台底座(1)的第一杆(61)、连接于所述第一杆(61)远离所述平台底座(1)一端...

【专利技术属性】
技术研发人员：董威威，王书光，杜天星，胡柳亮，虞璐，张琴，程笑飞，
申请(专利权)人：浙江兆晶电气科技有限公司，
类型：新型
国别省市：