一种宽频天线测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种宽频天线测量系统及测试方法，涉及天线测量领域，其技术方案要点是包括间隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置、以及位于多探头阵列检测装置一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置，多探头阵列检测装置包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头，单探头检测装置包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头，第一探头用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，第二探头用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能，其技术效果是具有测量效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种宽频天线测量系统
本技术涉及一种宽频天线测量系统，更具体地说，它涉及一种非对称探头天线测量系统。
技术介绍
在天线测量系统中需要测定电磁性能的被测物通常会具有从米波级频带到毫米波级频带不同频段的波长，而一种探头只能覆盖有限的一段，为了实现米波级频带到毫米波级频带的频率覆盖一般需要几十种探头，在单一的多探头阵列中是无法实现的；要实现从米波级频带到毫米波级频带的测量通常采用多探头环及摆臂组合的测试方案。现有技术中，通常采用摆臂方案对天线的辐射性能进行检测，其包括可旋转的承载台1、位于所述承载台1一侧的多探头阵列检测装置3、以及位于多探头阵列检测装置3相对的一侧的单探头检测装置4，多探头阵列检测装置3包括竖向设置的安装半环和多个位于安装半环上用于实现米波级频带与毫米波级之间频带检测的第一探头，单探头检测装置4包括在竖直面内转动的摆臂、设置于摆臂上的用于检测米波级到毫米波级频带之外的频带的第二探头。在该组合测试方案中，在进行米波级频带与毫米波级之间频带检测时，载物台需要转动整一周，测量效率低；进行米波级到毫米波级频带之外的频带测量时，承载台每转动一个角度，需要摆臂转动一周以测得待测物单点辐射性能检测数据。但是由于摆臂的体积大重量大，为了保证装置的稳定性无法实现快速转动，因此测量效率较低。
技术实现思路
本技术的第一目的是提供一种宽频天线测量系统，其具有测量效率高的优点。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种宽频天线测量系统，包括间隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置、以及位于多探头阵列检测装置一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置，所述多探头阵列检测装置包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头，所述单探头检测装置包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头，所述第一探头用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，所述第二探头用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能。通过采用上述技术方案，本系统调整承载台的位置，以使待测物位于多探头检测点，也就是第一探头形成的环形阵列的中心，对待测物进行检测获得辐射性能检测数据，再驱动承载台带动待测物转动一定角度，重复进行测量，直至旋转半周，相当于多探头阵列围绕被测物旋转，实现对被测物辐射强度的球面近场检测。之后，调整承载台的位置，使得被测物位于单探头检测点，也就是第二探头圆弧形运动轨迹的中心，第二探头按固定步距作圆弧形运动，在运功轨迹的各个点上对被测物的辐射性能进行检测，将被测物各单点辐射性能检测数据汇总为一检测弧面的辐射特性检测数据。再驱动承载台转动一定角度，重复上述第二探头的测量步骤，直至承载台至少旋转一周，从而得到各个检测弧面的辐射特性检测数据，并结合形成球面近场检测数据。现有技术，多探头检测阵列为半环设置，承载台需要转动至少一周才能获取得待测物的辐射强度近场球面检测数据，而系统中的多探头检测阵列为整环设置，承载台只需要转动半周即可获取得待测物的辐射强度近场球面检测数据。同时，在现有技术中，摆臂不仅尺寸较大重量高，安装时需要加固结构防止下垂变形，而且转动速率慢，相比而言，本系统通过移动第二探头进行检测，相比而言无须进行转动，移动速度快，检测效率高。此外，由于单探头检测点和多探头检测点具有间距，多探头阵列检测装置顶部的第一探头与单探头检测装置中第二探头进行0°测试时（也就是第二探头位于最高点时）不会重合，而多探头阵列检测装置适用于检测第一频段内的被测物辐射强度，单探头检测装置适用于检测第一频段外的被测物辐射强度，因此两者相组合能够实现大量程的检测范围，而无需设置两套检测装置。在使用中，只需要根据实际需要，在多探头检测点和单探头检测点之间移动载物台的位置即可实现多探头阵列检测和单探头检测之间的切换。该种设计方案，实现多探头环顶部180°探头与摆臂0°测试错开，避免相互干涉。在对比技术中，摆臂测试运动轨迹是与多探头环正交的圆，摆臂移动圆相比多探头环要小，通过两个圆周运动上下错开方式即可实现多探头环顶部180°探头与摆臂0°测试错开。这种摆臂方案使得摆臂转动的圆周相比本系统中滑轨圆周要小，此外摆臂支架相比滑轨更接近测试转台，这样摆臂方案相比滑轨方案会明显削减暗室静区尺寸。此外，摆臂支架上的吸波角锥与摆臂运动圆周运动有一定的夹角，也会增加系统的多径反射，削减静区反射电平，减小暗室静区尺寸，降低测试系统测试结果的准确率和精度。进一步设置：所述多探头阵列检测装置还包括用于固定所述第一探头的安装环、以及用于固定所述安装环的第一支撑架，所述安装环围绕多探头检测点设置，所述第一支撑架设置于安装环远离多探头探测点的一侧。进一步设置：所述单探头检测装置还包括设置于安装环一侧的弧形滑轨、用于支撑固定弧形滑轨的第二支撑架、以及用于驱动所述第二探头沿弧形滑轨移动的驱动机构，所述弧形滑轨呈圆弧状且围绕单探头检测点设置，所述第二支撑架设置于弧形滑轨远离单探头检测点的一侧。进一步设置：所述第二探头的圆弧形运动平面垂直于第一探头的环形阵列平面。通过采用上述技术方案，在对比技术中，摆臂位于多探头半环的内侧，探头为整个摆臂带动旋转，而整个摆臂仅在0°时，与多探头半环是处于同一面上，如图1所示。在测试其他角度时，摆臂与多探头环存在一定的夹角，多探头环和摆臂上的吸波材料并不能很好的吸收彼此反射的电磁波。同时，其夹角随着测试角度的改变而改变，加剧了多径反射的复杂性，从而可能会削减整个暗室的静区。而在系统中，在测试时待测物发出的电磁波基本垂直入射到第二探头和各个第一探头，且待测物到各个第一探头的距离相等，到不同位置上的第二探头的距离也保持不变，因此从而使得其多径反射对测试结果造成的影响非常小。在本系统中，半径长达2.5米的半圆滑轨一般有多个滑轨拼接而成，而非一体成型。故在拼接的时候，不可避免的存在拼接误差，但可通过高精度的倾角仪和测距仪实现高精度拼接从而减少误差，其运动精度完全可满足本测试系统所要求的测试精度的。对在对比技术中，具有相当重量的摆臂是竖直方向上绕圆心进行圆周运动的，但其长达2m的半径需要在结构上加固，否则将会发生下垂现象，使得摆臂各处到摆臂中心的距离不等。如果增加加固结构，既会增加装置的复杂性，也会增加系统内的多径反射，降低测试系统测试结果的准确率和精度。此外，在对比技术中，由于摆臂运动位于多探头半环内侧，其转动的圆周相比本系统中滑轨圆周要小，此外摆臂支架相比滑轨更接近测试转台，这样摆臂方案相比滑轨方案会明显削减暗室静区尺寸。此外，摆臂支架上的吸波角锥与摆臂运动圆周运动有一定的夹角，也会增加系统的多径反射，削减静区反射电平，减小暗室静区尺寸，降低测试系统测试结果的准确率和精度。第一支撑架设置于安装环远离多探头探测点的一侧，第二支撑架设置于弧形滑轨远离单探头检测点的一侧，降低了对被测物辐射的反射电平，提高了测试系统测试结果的准确率和精度。进一步设置：还包括用于驱动承载台移动和旋转的驱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种宽频天线测量系统，其特征在于，包括相隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台(1)、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置(3)、以及位于多探头阵列检测装置(3)一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置(4)，所述多探头阵列检测装置(3)包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头(31)，所述单探头检测装置(4)包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头(41)，所述第一探头(31)用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，所述第二探头(41)用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能。/n

【技术特征摘要】
1.一种宽频天线测量系统，其特征在于，包括相隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台(1)、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置(3)、以及位于多探头阵列检测装置(3)一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置(4)，所述多探头阵列检测装置(3)包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头(31)，所述单探头检测装置(4)包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头(41)，所述第一探头(31)用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，所述第二探头(41)用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能。


2.根据权利要求1所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述多探头阵列检测装置(3)还包括用于固定所述第一探头(31)的安装环(32)、以及用于固定所述安装环(32)的第一支撑架(33)，所述安装环(32)围绕多探头检测点设置，所述第一支撑架(33)设置于安装环(32)远离多探头探测点的一侧。


3.根据权利要求1所述的宽频天线测量系统，其特征在于，所述单探头检测装置(4)还包括设置于安装环(32)一侧的弧形滑轨(42)、用于支撑固定弧形滑轨(42)的第二支撑架(43)、以及用于驱动所述第二探头(41)沿弧形滑轨(42)移动的驱动机构(44)，所述弧形滑轨(42)呈圆弧状且围绕单探头检测点设...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈林斌，谢镇坤，孙赐恩，蒋宇，
申请(专利权)人：深圳市新益技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44