一种电波测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及天线检测技术领域，具体涉及一种电波测试装置包括：暗室、定位系统和测试系统，定位系统和测试系统位于暗室内，暗室包括底座，定位系统设置在底座上，定位系统包括第一传送机构、第二传送机构和定位机构，定位机构设置在第一传送机构和第二传送机构之间；测试系统设置在定位系统的上方，测试系统包括扫描架机构和多个测试探头，扫描架机构与暗室连接，多个测试探头设置在扫描架机构上，测试探头与扫描架机构之间相对运动，本实用新型专利技术能够快速有效地测试出对接后的被测件是否正常，确定出是否存在接触不对而导致各阵子的幅相一致性差异过大的问题，本实用新型专利技术内部部件集成度高，结构紧凑、空间占用率低，自动化程度高。

【技术实现步骤摘要】
一种电波测试装置
本技术涉及天线检测领域，具体涉及一种电波测试装置。
技术介绍
当前，5G已正式进入商用阶段，各大主设备商在经过多轮产品研发和验证后，即将或已经进入了大规模批产阶段。由于5G基站形态已不同于传统2/3/4G基站，其产线快速测试的装置和方法也有所不同。当今社会是信息技术社会，随处可见的各类智能化信息化设备，给人们的生活和工作带来了极大的便利，小到智能手机、车载雷达、智能家居，大到工厂智能化设备、航空航天通讯、军事装备用途，都离不开无线电通信。而实现无线电通信的关键部件就是各种型号规格的天线。随着社会信息化的不断进步，要求各种通信设备能够实现小型化、微型化、高速化、宽带化，以满足各种数据信息的大容量高速传输。因而就对天线设计开发提出了越来越高的要求，在开发过程中需要对天线及设备整机进行各种测试，才能保证其性能指标；整个测试过程需要在一种特殊的屏蔽暗室中进行，这种暗室除了需要具备良好的电磁屏蔽功能之外还要具备较高的自动化水平和超高的机械运动精度，以满足海量的测试任务需求，尤其是工业化流水生产线实时在线检测要求，对自动在线检测设备的要求更高。同样，在芯片研究、材料测试、半导体研究方面也要广泛用到此类高标准的测试暗室。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例为解决现有技术中存在的至少一个问题而提供一种电波测试装置，所述装置包括：暗室、定位系统和测试系统，所述定位系统和所述测试系统位于所述暗室内，所述定位系统设置在所述暗室的底部，所述定位系统包括第一传送机构、第二传送机构和定位机构，所述暗室相对的两侧面上分别设有进料口和出料口，所述进料口对应有第一屏蔽门，所述出料口对应有第二屏蔽门，所述定位机构设置在所述第一传送机构和所述第二传送机构之间，所述第一传送机构用于将被测件从进料口传送到定位机构上，所述第二传送结构用于将被测件从所述定位机构传送出出料口，所述定位机构用于对被测件进行左右前后上下位置的调节；所述测试系统设置在所述定位系统的上方，所述测试系统包括扫描架机构和多个测试探头，所述扫描架机构与所述暗室连接，多个所述测试探头设置在所述扫描架机构上，所述测试探头与所述扫描架机构之间相对运动。进一步的，所述装置还包括安装架，所述定位系统通过所述安装架安装在所述暗室的底部。进一步的，所述安装架包括支撑框和多根连接杆，所述支撑框支撑所述定位系统，多根所述连接杆一端与所述支撑框连接，多根所述连接杆的另一端设置在所述暗室的底部。进一步的，所述暗室侧面设置有维修屏蔽门。进一步的，所述第一屏蔽门和第二屏蔽门上均设置有用于感应被测件的感应器。进一步的，所述定位机构包括升降平台、挡止件、第一调节组件和第二调节组件，所述升降平台设置在所述第一传送机构和所述第二传送机构之间，所述挡止件设置在所述升降平台靠近所述第二传送机构的一端，所述第一调节组件包括第一调节件和第二调节件，所述第一调节件和所述第二调节件对称设置在所述升降平台的两侧，所述第二调节组件设置在所述升降平台的一侧或两侧。进一步的，所述升降平台上开设有让位槽，所述让位槽的下方设有电动滚轴，所述电动滚轴安装在所述安装架上。进一步的，所述测试系统还包括检测组件，所述检测组件设置在所述暗室内的顶部，所述检测组件包括用于定位被测件左右前后位置的CCD探测元件，以及用于定位被测件高度的激光测距仪。进一步的，所述扫描架机构包括支撑单元、第一调节单元、第二调节单元和第三调节单元，所述支撑单元与所述壳体连接，所述第一调节单元相对于所述支撑单元水平运动，所述第二调节单元相对于所述第一调节单元水平运动，所述第三调节单元相对于所述第二调节单元竖直运动。进一步的，多个所述测试探头设置在所述第三调节单元上。采用上述技术方案，本技术所述的电波测试装置具有如下有益效果：本技术通过定位系统中的传送机构输送被测件至定位机构，通过定位机构定位，基于测试系统中的扫描架机构和测试探头之间的相对运动，实现不同位置处被测件的幅相测试，本技术能够快速有效地测试出对接后的被测件是否正常，确定出是否存在接触不对而导致各阵子的幅相一致性差异过大的问题，测试效率高，且本技术的装置内部部件集成度高，结构紧凑、空间占用率低，自动化程度高。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请所述的电波测试装置的结构示意图；图2是本申请所述的电波测试装置的内部结构示意图；图3是本申请所述的定位系统的结构示意图；图4是本申请所述的测试系统的结构示意图；图中，1-暗室，11-壳体，111-维修屏蔽门，12-进料口，121-第一屏蔽门，2-定位系统，21-第一传送机构，22-第二传送机构，23-定位机构，231-第一调节组件，232-第二调节组件，233-升降平台，234-挡止件，3-测试系统，31-支撑单元，311-固定块，312-支撑杆，32-第一调节单元，321-第一滑动块，322-第一移动杆，33-第二调节单元，34-测试探头,4安装架，41-支撑框，42-连接杆。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本技术至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“顶”、“底”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含的包括一个或者更多个该特征。而且，术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。为解决现有技术中存在的问题，本说明书提供了一种电波测试装置，如图1至图4所示，所述装置包括暗室1、以及位于所述暗室1内的定位系统2、测试系统3和安装架4；具体的，在暗室1中执行对被测件的测试，可以理解的是，在进行被测件参数的测试时，周围环境使电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电波测试装置，其特征在于，所述装置包括：/n暗室(1)、定位系统(2)和测试系统(3)，所述定位系统(2)和所述测试系统(3)位于所述暗室(1)内，/n所述定位系统(2)设置在所述暗室(1)的底部，所述定位系统(2)包括第一传送机构(21)、第二传送机构(22)和定位机构(23)，所述暗室相对的两侧面上分别设有进料口(12)和出料口，所述进料口(12)对应有第一屏蔽门(121)，所述出料口对应有第二屏蔽门，所述定位机构(23)设置在所述第一传送机构(21)和所述第二传送机构(22)之间，第一传送机构(21)用于将被测件从进料口(12)传送到定位机构(23)上，所述第二传送机构(22)用于将被测件从定位机构(23)传送出出料口，所述定位机构(23)用于对被测件进行左右前后上下位置的调节；/n所述测试系统(3)设置在所述定位系统(2)的上方，所述测试系统(3)包括扫描架机构和多个测试探头(34)，所述扫描架机构与所述暗室(1)连接，多个所述测试探头(34)设置在所述扫描架机构上，所述测试探头(34)与所述扫描架机构之间相对运动。/n

【技术特征摘要】
1.一种电波测试装置，其特征在于，所述装置包括：
暗室(1)、定位系统(2)和测试系统(3)，所述定位系统(2)和所述测试系统(3)位于所述暗室(1)内，
所述定位系统(2)设置在所述暗室(1)的底部，所述定位系统(2)包括第一传送机构(21)、第二传送机构(22)和定位机构(23)，所述暗室相对的两侧面上分别设有进料口(12)和出料口，所述进料口(12)对应有第一屏蔽门(121)，所述出料口对应有第二屏蔽门，所述定位机构(23)设置在所述第一传送机构(21)和所述第二传送机构(22)之间，第一传送机构(21)用于将被测件从进料口(12)传送到定位机构(23)上，所述第二传送机构(22)用于将被测件从定位机构(23)传送出出料口，所述定位机构(23)用于对被测件进行左右前后上下位置的调节；
所述测试系统(3)设置在所述定位系统(2)的上方，所述测试系统(3)包括扫描架机构和多个测试探头(34)，所述扫描架机构与所述暗室(1)连接，多个所述测试探头(34)设置在所述扫描架机构上，所述测试探头(34)与所述扫描架机构之间相对运动。


2.根据权利要求1所述的电波测试装置，其特征在于，所述装置还包括安装架(4)，所述定位系统(2)通过所述安装架(4)安装在所述暗室(1)的底部。


3.根据权利要求2所述的电波测试装置，其特征在于，所述安装架(4)包括支撑框(41)和多根连接杆(42)，所述支撑框(41)支撑所述定位系统(2)，多根所述连接杆(42)一端与所述支撑框(41)连接，多根所述连接杆(42)的另一端设置在所述暗室(1)的底部。


4.根据权利要求1所述的电波测试装置，其特征在于，所述第一屏蔽门(121)和所述第二屏蔽门上均设置有用于感应被测件的感应器。


5.根据权利要求2所述的电波测...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹宝华，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：南京捷希科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32