天线测试方法和系统技术方案

本发明专利技术公开一种天线测试方法和系统，其中，天线测试方法用于天线测试系统，天线测试系统包括用以承载天线终端产品的承载台以及对天线终端产品进行电磁性能测试的测试装置，天线测试系统具有相互隔离设置的测试位和预上电位，天线测试方法包括以下步骤：承载台承载至少两个天线终端产品，并将其中一天线终端产品置于所述测试位，将至少一天线终端产品置于所述预上电位；测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试，所述预上电位的天线终端产品预上电，以在所述预上电位的天线终端产品移动至所述测试位后，直接测试天线终端产品。本发明专利技术技术方案能够解决目前利用天线测试系统对终端产品进行测试时，测试效率低的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
天线测试方法和系统


[0001]本专利技术涉及天线测试
，特别涉及一种天线测试方法和系统。

技术介绍

[0002]随着科学技术的不断发展，各种天线相关终端产品层出不穷，为人们的生活和娱乐带来了极大便利。天线终端产品的电磁性能通常在天线测试系统中测定，为保证测试的准确性与稳定性，在进行天线测试时需要提供一个封闭的无反射室，并对测试系统所用材料进行吸波伪装处理，降低外界干扰，为测试提供一个纯净的测试环境。
[0003]目前天线测试的方法通常是先断开终端产品的电源连接，然后将终端产品天线测试系统封闭的无反射室内，再将终端产品放入天线测试系统的测试平台上并重新上电，最后进行测试。然而，由于终端产品断电之后重新上电启动并达到电磁辐射性能稳定的状态，需要耗费一定的时间，当多个终端产品时，在进行每个产品测试的过程中都需要经过断电、重启和稳定的步骤，导致终端产品的测试时间过长，严重的降低了测试效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提出一种天线测试方法，旨在解决目前利用天线测试系统对终端产品进行测试时，测试效率低的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出的天线测试方法，用于天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统包括用以承载天线终端产品的承载台、以及对天线终端产品进行电磁性能测试的测试装置，所述天线测试系统具有相互隔离设置的测试位和预上电位，所述天线测试方法包括以下步骤：
[0006]S1、所述承载台承载至少两个天线终端产品，并将其中一天线终端产品置于所述测试位，将至少一天线终端产品置于所述预上电位；
[0007]S2、所述测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试，所述预上电位的天线终端产品预上电，以在所述预上电位的天线终端产品移动至所述测试位后，直接测试天线终端产品。
[0008]在一实施例中，所述天线测试系统包括第一驱动机构，所述第一驱动机构的驱动端与所述承载台连接，所述步骤S2之后包括：
[0009]S3、所述第一驱动机构驱动所述承载台运动，以将所述测试位上的天线终端产品退出，并将所述预上电位的一所述天线终端产品移动至所述测试位进行电磁性能测试。
[0010]在一实施例中，所述承载台包括旋转底座和两个设于所述旋转底座的相对两端的承载座，各所述承载座均用以承载天线终端产品，所述步骤S3包括：
[0011]步骤S310、所述第一驱动机构驱动所述旋转底座转动，以使两个所述承载座交换位置。
[0012]在一实施例中，所述步骤S3还包括：
[0013]步骤S320、将交换位置后以处于所述预上电位的承载座上的已测试天线终端产品
进行拆卸，以装上未测试的天线终端产品，并对未测试的天线终端产品进行预上电，以待交换位置后以处于所述测试位的承载座上的天线终端产品测试完毕后，再通过旋转底座的转动，来交换两所述承载座的位置。
[0014]在一实施例中，所述天线测试系统还包括与所述承载台连接的第二驱动机构，所述承载台具有第一位置和第二位置，所述第一位置位于所述测试装置的测试范围内，所述第二位置位于所述测试装置的测试范围外，所述第二驱动机构驱动用以驱动所述承载台在所述第一位置与所述第二位置之间往返运动；
[0015]在所述步骤S310之前，所述步骤S3还包括：
[0016]步骤S300、所述第二驱动机构驱动所述承载台自所述第一位置移动至所述第二位置；
[0017]在所述步骤S310之后，所述步骤S3还包括：
[0018]步骤S330、拆下已测试天线终端产品和装上未测试天线终端产品；
[0019]步骤S340、所述第二驱动机构驱动所述承载台自所述第二位置移动至所述第一位置，以开始下一次测试。
[0020]在一实施例中，所述测试位与所述预上电位隔离设置的方式为在所述测试位与所述预上电位之间放置吸波挡板，所述步骤S2之前包括：
[0021]步骤S110、所述吸波挡板将所述测试位与所述预上电位隔离开。
[0022]在一实施例中，所述天线测试系统还包括第三驱动机构，步骤S110包括：
[0023]所述第三驱动机构驱动所述吸波挡板移动至所述测试位与所述预上电位之间的位置。
[0024]在一实施例中，所述步骤S2包括：
[0025]步骤S200、在所述测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试之后，所述第三驱动机构驱动所述吸波挡板离开所述测试位与所述预上电位之间的位置。
[0026]在一实施例中，所述天线测试系统还包括隔离箱，所述测试装置设于所述隔离箱内，所述隔离箱上设有箱门以及第四驱动机构，所述天线测试方法包括：
[0027]所述第四驱动机构在所述测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试之前驱动所述箱门关闭，在所述测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试之后驱动所述箱门打开。
[0028]本专利技术还提出一种天线测试系统，包括测试装置以及用以承载天线终端产品的承载台，所述测试装置采用如前述的天线测试方法对所述承载台承载的天线终端产品进行电磁性能测试。
[0029]本专利技术技术方案通过采用承载台承载至少两个天线终端产品，将其中一天线终端产品置于测试位，将至少一天线终端产品置于预上电位；并通过测试装置对测试位的天线终端产品进行电磁性能测试，而预上电位的天线终端产品预上电，测试位与预上电位隔离设置，避免预上电位的天线终端产品干扰测试位的天线终端产品；由于在测试位的天线终端产品进行测试时，预上电位的天线终端产品已经开始预上电，使得测试位的天线终端产品测试完成，而预上电位的天线终端产品移至测试位后，可以直接对该由预上电位移至测试位的天线终端产品进行测试，即后一个天线终端产品在测试前需要进行的断电、重启和稳定的过程在前一个天线终端产品的测试过程中完成，节省了天线终端产品在测试前进行
断电、重启和稳定所需耗费的时间，从而提高测试效率。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术天线测试方法一实施例的流程框图；
[0032]图2为图1中步骤S3的细化流程框图；
[0033]图3为本专利技术天线测试方法另一实施例的流程框图；
[0034]图4为本专利技术天线测试系统一实施例的结构示意图；
[0035]图5为图4中天线测试系统的承载台位于第二位置的细节图；
[0036]图6为图5中的承载台位于第一位置的细节图。
[0037]附图标号说明：
[0038]标号名称标号名称100承载台300导轨110承载座400吸波挡板120旋转底座500隔离箱200测试装置
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[0039]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线测试方法，用于天线测试系统，其特征在于，所述天线测试系统包括用以承载天线终端产品的承载台、以及对天线终端产品进行电磁性能测试的测试装置，所述天线测试系统具有相互隔离设置的测试位和预上电位，所述天线测试方法包括以下步骤：S1、所述承载台承载至少两个天线终端产品，并将其中一天线终端产品置于所述测试位，将至少一天线终端产品置于所述预上电位；S2、所述测试装置对所述测试位的天线终端产品进行电磁性能测试，所述预上电位的天线终端产品预上电，以在所述预上电位的天线终端产品移动至所述测试位后，直接测试天线终端产品。2.如权利要求1所述的天线测试方法，其特征在于，所述天线测试系统包括第一驱动机构，所述第一驱动机构的驱动端与所述承载台连接，所述步骤S2之后包括：S3、所述第一驱动机构驱动所述承载台运动，以将所述测试位上的天线终端产品退出，并将所述预上电位的一所述天线终端产品移动至所述测试位进行电磁性能测试。3.如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于，所述承载台包括旋转底座和两个设于所述旋转底座的相对两端的承载座，各所述承载座均用以承载天线终端产品，所述步骤S3包括：步骤S310、所述第一驱动机构驱动所述旋转底座转动，以使两个所述承载座交换位置。4.如权利要求3所述的天线测试方法，其特征在于，所述步骤S3还包括：步骤S320、将交换位置后以处于所述预上电位的承载座上的已测试天线终端产品进行拆卸，以装上未测试的天线终端产品，并对未测试的天线终端产品进行预上电，以待交换位置后以处于所述测试位的承载座上的天线终端产品测试完毕后，再通过旋转底座的转动，来交换两所述承载座的位置。5.如权利要求3所述的天线测试方法，其特征在于，所述天线测试系统还包括与所述承载台连接的第二驱动机构，所述承载台具有第一位置和第二位置，所述第一位置位于所述测试装置的测试范围内，所述第二位置位于所述测试装置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙赐恩，陈林斌，谢镇坤，蒋宇，王道翊，蒋凯旋，
申请(专利权)人：深圳市新益技术有限公司，
类型：发明
国别省市：