System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统技术方案_技高网

一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统技术方案

技术编号:41238299 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-09 23:51
本发明专利技术公开了一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,应用在测试系统领域,包括底座,所述底座的顶部分别设有反射组件、自动切换馈源子系统与多轴转台;本发明专利技术通过底座、测试仓、仓门和吸波挡板对其内部进行各设备进行整体包裹,可以屏蔽内部电波干扰以及外界环境干扰;通过设置多轴转台,利用多轴转台的上下调节组件、泡沫转台、前后驱动组件、左右调节组件和电动俯仰轴结构,包括满足天线平面方位调节、俯仰调节、前后平移调节、左右平移调节和上下升降调节,利用泡沫转台可360°独立运动,可以实现2D/3D方向图的切面采样,电动俯仰轴可实现不同入射角的状态采样,对于天线的调节更加简易便捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试系统领域,特别涉及一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统


技术介绍

1、紧缩场馈源的频率范围在一定程度决定了紧缩场的频率范围,紧缩场的测试频率较宽,而单一馈源范围较窄。为实现更宽频段的测试,紧缩场一般会提供一套不同频段的馈源,实现全频段的覆盖。

2、在频率跨度大的系统中进行不同频段的天线测试时,常常需要更换馈源,自动切换收发馈源子系统可在5~10秒内实现收发馈源的自动切换,而人工手动切换收发馈源至少需要3~5分钟左右;

3、紧缩场内测试飞机导弹等缩比目标模型及某些全尺寸部件rcs需求日益增加,rcs测试规定可采用收发共用的单天线或收、发天线双站角小于3°的双天线;

4、在紧缩场内测试飞机导弹等缩比目标模型及某些全尺寸部件时候,不仅要求目标雷达散射测试,还需要进行天线方向图等参数的测试,然而紧缩场微波暗室对于天线方向的调整需要人工干预,天线的方向调整存在不便。

5、为了解决上述所存在的问题,我们提出一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其优点是能够自动调整天线方向。

2、本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,包括底座,所述底座的顶部分别设有反射组件、自动切换馈源子系统与多轴转台,所述反射组件位于自动切换馈源子系统的一侧,所述自动切换馈源子系统位于多轴转台的一侧。

3、采用上述技术方案,通过设置上下调节组件、泡沫转台、前后驱动组件、左右调节组件和电动俯仰轴,可以对天线的上下位移、平面旋转、前后位移、左右位移以及上下角度调整。

4、本专利技术进一步设置为:所述反射组件包括反射面,所述反射面的一侧固定连接有支架,所述支架的底部固定连接有底部支撑件,所述底部支撑件的底部固定连接有若干个支腿。

5、采用上述技术方案,通过反射组件的设置用于接收被测目标发射的各个角度的测试信号;

6、支腿、底部支撑件和支架均用于对反射面进行支撑;

7、反射面接收被测目标发射的各个角度的测试信号,并通过电磁波的折射、反射和衍射获得满足测量要求的近似均匀平面波照射,以达到缩短测量距离目的,可采用锯齿反射面或者卷边反射面。

8、本专利技术进一步设置为:所述自动切换馈源子系统包括旋转盘一,所述旋转盘一的一侧设有旋转盘二,所述旋转盘一和旋转盘二的一侧均分别安装有若干个馈源二与若干个馈源一,所述旋转盘一的一侧安装有与旋转盘二安装的外壳,所述外壳的底部安装有位置调节装置。

9、采用上述技术方案,通过自动切换馈源子系统的设置,采用旋转盘一和旋转盘二进行旋转的方式切换收发馈源,旋转盘一和馈源一分别通过极化轴顺时针旋转和逆时针旋转将工作的馈源移动到紧缩场系统焦点中心位置附近,相比整体平移的方式能够更好的节省系统空间,也更方便系统射频线缆的布局;

10、通过旋转盘一和旋转盘二可以分别带动馈源二和馈源一旋转;

11、通过馈源二和馈源一的设置,为简化在测试中更换馈源时的调整,紧缩场的每个馈源均配备了各自的馈源二和馈源一,不同频段尺寸各不相同的馈源与各自对应的馈源二或馈源一组合以后,所有馈源的相位中心距离均相同;

12、外壳内置驱动装置,用于驱动旋转盘一和旋转盘二旋转。

13、本专利技术进一步设置为:所述多轴转台包括天线、上下调节组件、左右调节组件、支撑杆、前后驱动组件、电动俯仰轴、泡沫转台与滑动座;

14、所述泡沫转台安装在滑动座的顶部,所述前后驱动组件安装在泡沫转台的一侧,所述电动俯仰轴安装在支撑杆的表面。

15、采用上述技术方案,通过天线的设置,用于进行天线测试;

16、通过泡沫转台的设置,用于驱动前后驱动组件及其顶部结构进行旋转;泡沫转台采用低介电常数材质,减少rcs测试干扰,泡沫转台底部的泡沫抱杆可实现方位轴360°旋转,以便于检测被测目标随方位角变化rcs;

17、通过滑动座的设置,用于对泡沫转台及其顶部结构进行支撑,保证天线在使用时的稳定性;

18、通过电动俯仰轴的设置,用于带动前后驱动组件进行上下角度的调节。

19、本专利技术进一步设置为:所述上下调节组件包括上下电动导轨,所述上下电动导轨的一侧滑动连接有上下电动滑块,所述上下电动滑块的一侧与天线安装。

20、采用上述技术方案,通过上下调节组件的设置,用于驱动天线上下移动。

21、本专利技术进一步设置为:所述左右调节组件包括左右电动导轨,所述左右电动导轨的一侧滑动连接有左右电动滑块,所述左右电动滑块靠近上下电动导轨的一侧与上下电动导轨固定连接,所述左右电动导轨的另一侧安装有连接座,所述连接座靠近支撑杆的一侧与支撑杆固定连接。

22、采用上述技术方案,通过左右调节组件的设置,用于驱动上下调节组件进行左右移动。

23、本专利技术进一步设置为:所述前后驱动组件包括前后电动导轨,所述前后电动导轨的顶部滑动连接有前后电动滑块,所述前后电动滑块的顶部与支撑杆的底部安装。

24、采用上述技术方案,通过前后驱动组件的设置,用于驱动支撑杆进行前后移动。

25、本专利技术进一步设置为:所述底座的顶部安装有测试仓,所述测试仓的正面安装有仓门。

26、采用上述技术方案,通过测试仓和仓门的设置,测试仓和仓门用于包裹底座顶部各结构,保证测试时不会受外界环境干扰。

27、本专利技术进一步设置为:所述测试仓的内部设有若干个吸波挡板,所述测试仓的内壁和底座的顶部均与吸波挡板固定连接,所述反射组件的一侧与吸波挡板固定连接,所述自动切换馈源子系统的表面与吸波挡板固定连接,所述多轴转台的表面与吸波挡板固定连接。

28、采用上述技术方案,通过吸波挡板的设置,可以减少电磁波对rcs测试及天线测试时的干扰。

29、综上所述,本专利技术具有以下有益效果:

30、1.本专利技术通过采用整体底座、测试仓、仓门和吸波挡板对其内部进行各设备进行整体包裹,可以屏蔽内部电波干扰以及外界环境干扰;

31、2.本专利技术通过设置多轴转台,利用多轴转台的上下调节组件、泡沫转台、前后驱动组件、左右调节组件和电动俯仰轴结构,包括满足天线平面方位调节、俯仰调节、前后平移调节、左右平移调节和上下升降调节,利用泡沫转台可360°独立运动,可以实现2d/3d方向图的切面采样,电动俯仰轴可实现不同入射角的状态采样,相比现有的人工干预调节,对于天线的调节更加简易便捷;

32、3.在进行rcs测试时,可通过软件控制t型平移电动导轨将滑动座以及泡沫转台移动到系统静区中心,再将被测物放置到泡沫转台上用激光定位装置对好位置,即可开始rcs测试;

33、4.在进行天线方向图测试时,可通过软件控制t型平移电动导轨将天线以及滑动座和泡沫转台本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部分别设有反射组件(2)、自动切换馈源子系统(3)与多轴转台(4),所述反射组件(2)位于自动切换馈源子系统(3)的一侧,所述自动切换馈源子系统(3)位于多轴转台(4)的一侧。

2.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述反射组件(2)包括反射面(21),所述反射面(21)的一侧固定连接有支架(22),所述支架(22)的底部固定连接有底部支撑件(23),所述底部支撑件(23)的底部固定连接有若干个支腿(24)。

3.根据权利要求2所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述自动切换馈源子系统(3)包括旋转盘一(31),所述旋转盘一(31)的一侧设有旋转盘二(34),所述旋转盘一(31)和旋转盘二(34)的一侧均分别安装有若干个馈源二(33)与若干个馈源一(32),所述旋转盘一(31)的一侧安装有与旋转盘二(34)安装的外壳(35),所述外壳(35)的底部安装有位置调节装置。

4.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述多轴转台(4)包括天线(41)、上下调节组件(42)、左右调节组件(43)、支撑杆(45)、前后驱动组件(46)、电动俯仰轴(48)、泡沫转台(47)与滑动座(44);

5.根据权利要求4所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述上下调节组件(42)包括上下电动导轨(421),所述上下电动导轨(421)的一侧滑动连接有上下电动滑块(422),所述上下电动滑块(422)的一侧与天线(41)安装。

6.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述左右调节组件(43)包括左右电动导轨(431),所述左右电动导轨(431)的一侧滑动连接有左右电动滑块(432),所述左右电动滑块(432)靠近上下电动导轨(421)的一侧与上下电动导轨(421)固定连接,所述左右电动导轨(431)的另一侧安装有连接座(433),所述连接座(433)靠近支撑杆(45)的一侧与支撑杆(45)固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述前后驱动组件(46)包括前后电动导轨(461),所述前后电动导轨(461)的顶部滑动连接有前后电动滑块(462),所述前后电动滑块(462)的顶部与支撑杆(45)的底部安装。

8.根据权利要求7所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述底座(1)的顶部安装有测试仓(7),所述测试仓(7)的正面安装有仓门(8)。

9.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述测试仓(7)的内部设有若干个吸波挡板(6),所述测试仓(7)的内壁和底座(1)的顶部均与吸波挡板(6)固定连接,所述反射组件(2)的一侧与吸波挡板(6)固定连接,所述自动切换馈源子系统(3)的表面与吸波挡板(6)固定连接,所述多轴转台(4)的表面与吸波挡板(6)固定连接。

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【技术特征摘要】

1.一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部分别设有反射组件(2)、自动切换馈源子系统(3)与多轴转台(4),所述反射组件(2)位于自动切换馈源子系统(3)的一侧,所述自动切换馈源子系统(3)位于多轴转台(4)的一侧。

2.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述反射组件(2)包括反射面(21),所述反射面(21)的一侧固定连接有支架(22),所述支架(22)的底部固定连接有底部支撑件(23),所述底部支撑件(23)的底部固定连接有若干个支腿(24)。

3.根据权利要求2所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述自动切换馈源子系统(3)包括旋转盘一(31),所述旋转盘一(31)的一侧设有旋转盘二(34),所述旋转盘一(31)和旋转盘二(34)的一侧均分别安装有若干个馈源二(33)与若干个馈源一(32),所述旋转盘一(31)的一侧安装有与旋转盘二(34)安装的外壳(35),所述外壳(35)的底部安装有位置调节装置。

4.根据权利要求1所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述多轴转台(4)包括天线(41)、上下调节组件(42)、左右调节组件(43)、支撑杆(45)、前后驱动组件(46)、电动俯仰轴(48)、泡沫转台(47)与滑动座(44);

5.根据权利要求4所述的一种支持雷达散射截面测量和天线方向图测试的系统,其特征在于:所述上下调节组件(42)包括上下电动导轨(42...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓东亮陈林斌孙赐恩
申请(专利权)人:深圳市新益技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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