多边形球面空间采样设备制造技术

本申请涉及一种多边形球面空间采样设备，涉及球面场天线测量技术领域，其包括探头、安装架和支撑平台，所述支撑平台安装于所述安装架上以用于放置被测物，所述探头的数量大于或者等于6个，所述探头安装于所述安装架上，多个所述探头分布在三维球面空间内的至少两个竖直面上，多个所述竖直面绕竖向轴线对称布置，所述探头在每一个竖直面上都间隔A度均匀分布，在同一水平面上的多个所述探头间隔B度均匀分布，所述A和所述B均小于或者等于90。本申请不使用转台，具有测试准确度更高、设备成本低、测试效率更高的效果。

【技术实现步骤摘要】
多边形球面空间采样设备
本申请涉及球面场天线测量
，尤其是涉及一种多边形球面空间采样设备。
技术介绍
近场测量是指在距天线3-8个波长的距离上，用一个电特性已知的探头在近区某一表面上，记录下探头接收电压的幅度、相位随位置变化的关系，通过严格的近远场数学变换来确定天线的远场特性。根据扫描面形状，分为平面近场测量、柱面近场测量和球面近场测量。空间采样技术是球面近场测量的关键技术，采样数据的准确性直接影响到电磁波的场变换结果，是影响系统误差的关键因素。现阶段球面近场空间采样方案：多个探头等间距分布在圆环结构上，通过探头的电切换获取被测物一个面上的采样数据，通过被测物在测量平台上旋转180°获取被测物多个面上的采样数据，从而得到被测物的球面空间采样数据。针对上述中的相关技术，专利技术人认为存在以下缺陷：转台均为机械转动方式，每测试一次都需要进行一次机械转动以带动被测物转换一个角度，测试效率不高。
技术实现思路
为了改善常见采样设备使用转台结构导致测试效率不高的问题，本申请提供一种多边形球面空间采样设备。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多边形球面空间采样设备，其特征在于：包括探头(1)、安装架(2)和支撑平台(3)，所述支撑平台(3)安装于所述安装架(2)上以用于放置被测物，所述探头(1)的数量大于或者等于6个，所述探头(1)安装于所述安装架(2)上，多个所述探头(1)分布在三维球面空间内的至少两个竖直面上且环绕所述支撑平台(3)布置，多个所述竖直面绕竖向轴线对称布置，所述探头(1)在每一个竖直面上都间隔A度均匀分布，在同一水平面上的多个所述探头(1)间隔B度均匀分布，所述A和所述B均小于或者等于90。/n

【技术特征摘要】
1.一种多边形球面空间采样设备，其特征在于：包括探头(1)、安装架(2)和支撑平台(3)，所述支撑平台(3)安装于所述安装架(2)上以用于放置被测物，所述探头(1)的数量大于或者等于6个，所述探头(1)安装于所述安装架(2)上，多个所述探头(1)分布在三维球面空间内的至少两个竖直面上且环绕所述支撑平台(3)布置，多个所述竖直面绕竖向轴线对称布置，所述探头(1)在每一个竖直面上都间隔A度均匀分布，在同一水平面上的多个所述探头(1)间隔B度均匀分布，所述A和所述B均小于或者等于90。


2.根据权利要求1所述的多边形球面空间采样设备，其特征在于：所述安装架(2)的顶部中心和底部中心均共用一个所述探头(1)，所述探头(1)的数量N=360/B·（180/A-1）+2。


3.根据权利要求2所述的多边形球面空间采样设备，其特征在于：所述安装架(2)包括两个相互垂直的安装框(21)和底座(22)，两个所述安装框(21)均垂直于所述底座(22)的上表面，所述A为45，所述B为90，所述探头(1)的数量等于14个，两个所述安装框(21)的顶部连接处和两个所述安装框(21)的底部连接处分别共用一个所述探头(1)。


4.根据权利要求2所述的多边形球面空间采样设备，其特征在于：所述安装架(2)包括底座(22)和三个绕竖向轴线对称布置的安装框(21)，三个所述安装框(21)均垂直于所述底座(22)的上表面，所述A为45，所述B为60，所述探头(1)的数...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈林斌，谢镇坤，王道翊，孙赐恩，蒋凯旋，
申请(专利权)人：深圳市新益技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44