【技术实现步骤摘要】
石墨盘
本技术实施例涉及半导体制造技术,尤其涉及一种石墨盘。
技术介绍
金属有机化学气相沉积(Metal-organicChemicalVaporDeposition,MOCVD)设备中的晶圆载体通常为石墨盘,它包括石墨本体和在石墨本体表面沉积的SiC涂层。石墨本体失效主要是由于两者物理性能的差异,在MOCVD沉积过程中,极端烘烤条件下所产生的频繁的、较大的温度差异,往往导致SiC涂层先破损,然后导致石墨本体破损。此外,大尺寸石墨本体在沉积过程中的温度不均匀导致石墨本体和SiC涂层的热应力剧增,而导致石墨本体外侧SiC涂层破损,SiC涂层破损之后NH3、H2通过破损之后的裂缝侵蚀包裹在SiC涂层内侧的石墨本体,而加剧石墨本体的破损,且经过多个制程生产后,石墨本体变松散,形成破损的孔洞。现有克服石墨盘破损的方法为,通过人工目检石墨盘上出现的裂缝,在SiC涂层裂缝处覆盖新的SiC涂层,但是,当石墨本体上的孔洞孔径大于6mm后则会导致MOCVD垒晶过程中温度不均匀,且受气流影响明显。即使对孔洞处重新形成SiC涂层,垒晶过程 ...
【技术保护点】
1.一种石墨盘,所述石墨盘包括石墨本体和在石墨本体表面沉积的涂层,其特征在于,/n所述石墨本体包括至少一个孔洞,所述每一孔洞中填充与其匹配的石墨块。/n
【技术特征摘要】
1.一种石墨盘,所述石墨盘包括石墨本体和在石墨本体表面沉积的涂层,其特征在于,
所述石墨本体包括至少一个孔洞,所述每一孔洞中填充与其匹配的石墨块。
2.如权利要求1所述石墨盘,其特征在于,所述石墨块为圆柱体结构,所述孔洞为圆柱形开孔。
3.如权利要求1所述的石墨盘,其特征在于,所述石墨块的从所述孔洞中露出的顶面上沉积有修复涂层,所述修复涂层的外侧表面与所述涂层的外侧表面相互齐平。
4.如权利要求3所述的石墨盘,其特征在于,所述涂层对应所述孔洞处具有裂缝,所述修复涂层沉积于所述裂缝中。
5.如权利要求4所述的石墨盘,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:聚灿光电科技宿迁有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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