【技术实现步骤摘要】
基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置及方法
本专利技术涉及半导体光电器件应用
,特别是涉及一种基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置及方法。
技术介绍
具有相等间隔和低相位噪声频率线的宽带双光梳光源对于高分辨率光谱学和计量学非常重要。在太赫兹频率范围内,有着高输出功率,良好的远场光束质量和宽频率覆盖范围的电泵浦量子级联激光器(QuantumCascadeLasers,QCL)能够产生光频梳。但是,由于群速度色散的关系,自由运行的太赫兹QCL(TerahertzQCL,THzQCL)通常显示出有限的光频梳的双光梳带宽,这远小于激光器的增益带宽。目前,虽然在激光往返频率上进行共振射频注入锁定已广泛应用于THzQCL的发射光谱展宽,但由于共振注入(注入频率等于谐振腔的往返频率)引起的大相位噪声和非理想的微波电路,仍然很难显著展宽光频梳和双光梳带宽。与传统的傅里叶变换红外(FourierTransformInfrared,FTIR)光谱和时域光谱(Time-domainSpectroscopy)相比,双光梳光谱(即利用两个THzQCL形成的多外差光谱)是将对THz波段的分析转到射频波段,以便于更好的信号分辨和处理。除此之外,双光梳外差光谱系统由于其紧凑的系统结构,不需要任何移动部件就能够实现快速高分辨率的光谱,并且其噪声特性优于FTIR光谱和时域光谱,能够探测到更宽的光谱范围。在现有技术中,已经实现的THzQCL双光梳光谱有片上双光梳和紧凑型分离式双光梳。对于片上双光梳系统,两个激光器被制 ...
【技术保护点】
1.一种基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置,包括处于真空环境下的第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器,所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器独立工作,所述第一太赫兹量子级联激光器与第一T型偏置器相连,所述第一T型偏置器与第一射频源相连,所述第一太赫兹量子级联激光器和第一T型偏置器分别与第一直流源相连;所述第二太赫兹量子级联激光器与第二T型偏置器相连,所述第二T型偏置器分别与第二射频源和频谱分析仪相连,所述第二太赫兹量子级联激光器和第二T型偏置器分别与第二直流源相连,其特征在于,所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器放置在同一高度上,且两者之间具有一定距离,其中第一太赫兹量子级联激光器的光通过抛物面镜进入第二太赫兹量子级联激光器,并在所述第二太赫兹量子级联激光器的谐振腔内进行光耦合;所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器的直流偏置电流不同,并且所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器的发射频谱重叠但是其频率不同。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置,包括处于真空环境下的第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器,所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器独立工作,所述第一太赫兹量子级联激光器与第一T型偏置器相连,所述第一T型偏置器与第一射频源相连,所述第一太赫兹量子级联激光器和第一T型偏置器分别与第一直流源相连;所述第二太赫兹量子级联激光器与第二T型偏置器相连,所述第二T型偏置器分别与第二射频源和频谱分析仪相连,所述第二太赫兹量子级联激光器和第二T型偏置器分别与第二直流源相连,其特征在于,所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器放置在同一高度上,且两者之间具有一定距离,其中第一太赫兹量子级联激光器的光通过抛物面镜进入第二太赫兹量子级联激光器,并在所述第二太赫兹量子级联激光器的谐振腔内进行光耦合;所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器的直流偏置电流不同,并且所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器的发射频谱重叠但是其频率不同。
2.根据权利要求1所述的基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置,其特征在于,所述第一太赫兹量子级联激光器和第二太赫兹量子级联激光器之间的间距为15~30cm。
3.根据权利要求1所述的基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置,其特征在于,所述第一太赫兹量子级联激光器后端面2~5mm位置处放置有用于阻抗匹配的第一微带线;所述第二太赫兹量子级联激光器后端面2~5mm位置处放置有用于阻抗匹配的第二微带线。
4.根据权利要求1所述的基于非共振射频注入产生超宽带太赫兹双光梳装置,其特征在于,所述第一太赫兹量子级联激光器的上电极分别通过金线引线与陶瓷片键合,所述陶瓷片与所述第一直流源的正极一端连接,所述第一太赫兹量子级联激光器的下电极与第一直流源的负极连接;所述第二太赫兹量子级联激光器的上电极通过金线引线与陶瓷片键合,所述陶瓷片与所述第二直流源的正极一端连接,所述第二...
【专利技术属性】
技术研发人员:黎华,廖小瑜,李子平,曹俊诚,
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,
类型:发明
国别省市:上海;31
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