一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法技术

本发明专利技术涉及月盘辐照度获取方法，为解决目前通过地基对月观测系统获取月球辐照数据的方法，仅能在满月时刻较精确求出月球轮廓区域的圆心和半径，无法获取全月相周期月球辐照数据的技术问题，提供一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，包括S1，对狭缝型光谱仪的扫描数据进行预处理，得到月球光谱数据立方体；S2，从月球光谱数据立方体中得到特征波段灰度图；S3，通过阈值分割法从特征波段灰度图中提取月球二值化图像；S4，通过积分运算获取月球二值化图像边界点；S5，判断月相周期；S6，根据月相周期，通过月球二值化图像边界点，对特征波段灰度图采用三点法获得月球轮廓；S7，对月球轮廓内区域进行全月辐照度积分，得到月盘辐照度。

【技术实现步骤摘要】
一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法
本专利技术涉及月盘辐照度获取方法，具体涉及一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法。
技术介绍
传统的定标方法对航天遥感器数据辐射精度提升已经到达了瓶颈，月球作为高度稳定的辐射源，开展在轨对月定标已经成为国内外的研究共识。依靠地基对月观测，建立全月相周期月球辐射模型，对在轨对月定标有重要意义。地基对月观测系统采用狭缝型光谱仪作为月球辐射观测设备，采用赤道仪作为稳定跟踪月球的转台，采集方式为赤道仪移动至月球将来位置处，狭缝垂直于月球运动方向，月球被动式划过光谱仪狭缝。由于天空背景存在暗噪声、过采样等问题，原始观测数据需要经过暗电平校正、坏像元校正、辐射校正、组帧、过采样校正等预处理步骤，才能得到定量化的月球光谱辐射立方体。由于背景辐射不可能完全去除，对整幅光谱图像进行积分不能精确反应当前时刻月球辐照度，因此，需要提取月球轮廓区域并只对月球区域进行辐亮度积分。传统的最小外接圆算法在满月时刻能较精确求出月球轮廓区域的圆心和半径，然而在玄月时求得的最小外界圆与实际月球轮廓偏差较大，因此，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1，对狭缝型光谱仪的扫描数据进行预处理，通过组帧得到月球光谱数据立方体；/nS2，从月球光谱数据立方体中选取高响应特征波段，得到特征波段灰度图；/nS3，通过阈值分割法从特征波段灰度图中提取月球二值化图像；/nS4，通过积分运算获取月球二值化图像边界点；/nS5，通过对比月球二值化图像的中心位置和月球二值化图像的最长垂线位置，判断月相周期；/n或者，通过对比月球二值化图像最左侧边界点和最右侧边界点到最长垂线的距离，判断月相周期；/nS6，根据月相周期，通过月球二值化图像边界点，对特征波段灰度图采用三点法获得月球轮...

【技术特征摘要】
1.一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，对狭缝型光谱仪的扫描数据进行预处理，通过组帧得到月球光谱数据立方体；
S2，从月球光谱数据立方体中选取高响应特征波段，得到特征波段灰度图；
S3，通过阈值分割法从特征波段灰度图中提取月球二值化图像；
S4，通过积分运算获取月球二值化图像边界点；
S5，通过对比月球二值化图像的中心位置和月球二值化图像的最长垂线位置，判断月相周期；
或者，通过对比月球二值化图像最左侧边界点和最右侧边界点到最长垂线的距离，判断月相周期；
S6，根据月相周期，通过月球二值化图像边界点，对特征波段灰度图采用三点法获得月球轮廓；
S7，对月球轮廓内区域进行全月辐照度积分，得到月盘辐照度。


2.如权利要求1所述一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于：步骤S1中，所述预处理包括暗电平校正、坏像元校正和辐射校正。


3.如权利要求2所述一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于：步骤S1中，
所述暗电平校正具体为，采集所述扫描数据中未扫描到月球前的100帧数据，求取平均值作为暗电平。


4.如权利要求1至3任一所述一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于：步骤S2中，所述高响应特征波段具体为，波长为1000-1200nm的波段。


5.如权利要求4所述一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在于：步骤S3中，所述阈值分割法以0.1*DNmax为分割阈值；其中，DNmax为特征波段灰度图中的最大DN值。


6.如权利要求5所述一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：王爽，王一豪，刘欢，武俊强，李娟，张耿，胡炳樑，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61