用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置。包括快速调整机构和标准样板，快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，Y向导轨组件设在X向导轨组件上部并由X向导轨组件带动沿X向移动，周向转台组件设在Y向导轨组件上部并由Y向导轨组件带动沿Y向移动，周向转台组件可周向转动且其上设有玻璃工作台，X向底板、Y向底板、周向转台底板上均设有同轴的圆孔；标准样板上设置有按照标准V形口/标准U形口的下公差和上公差所界定的范围所形成的V形/U形区域，标准样板的板面上设有相垂直的第一直线和第二直线，第一直线为V形/U形区域的对称轴，第二直线位于V形/U形区域的开口端，标准样板设在玻璃工作台上。

【技术实现步骤摘要】
用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置
本技术涉及一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，属于仪器测量

技术介绍
冲击试样缺口投影仪是一种用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。目前校准冲击试样缺口投影仪的方法是参照JJF1093-2015投影仪校准规范中介绍的方法，即通过标准玻璃尺测量投影屏水平方向和垂直方向的固定刻线的尺寸，测得其示值误差。但V形口的角度和圆弧半径及U形口的圆弧半径的技术要求没有简便的办法溯源。该校准方法存在的主要问题是：1.操作复杂，效率低下；2.测量V形口及U形口的相关技术要求时精度不高。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述缺陷，本技术提供了一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，利用其可以实现高效、准确的校准。本技术是通过如下技术方案来实现的：一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：包括快速调整机构和标准样板，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，所述X向导轨组件包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：包括快速调整机构和多块标准样板，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，所述X向导轨组件包括X向底板(16)、设置在所述X向底板(16)上的沿X向设置的X向丝杠副(10)和X向导轨(12)，所述Y向导轨组件包括Y向底板(15)、设置在所述Y向底板(15)上的沿Y向设置的Y向丝杠副(7)和Y向导轨(6),所述周向转台组件包括周向转台底板(14)、圆环形转动盘(13)、玻璃工作台(5)，所述周向转台底板(14)上设置有定位环(17)，所述圆环形转动盘(13)可转动地与所述定位环(17)配合，所述玻璃工作台(...

【技术特征摘要】
1.一种用于冲击试样缺口投影仪V型口/U型口检测的检测装置，其特征是：包括快速调整机构和多块标准样板，所述快速调整机构包括X向导轨组件、Y向导轨组件、周向转台组件，所述X向导轨组件包括X向底板(16)、设置在所述X向底板(16)上的沿X向设置的X向丝杠副(10)和X向导轨(12)，所述Y向导轨组件包括Y向底板(15)、设置在所述Y向底板(15)上的沿Y向设置的Y向丝杠副(7)和Y向导轨(6),所述周向转台组件包括周向转台底板(14)、圆环形转动盘(13)、玻璃工作台(5)，所述周向转台底板(14)上设置有定位环(17)，所述圆环形转动盘(13)可转动地与所述定位环(17)配合，所述玻璃工作台(5)放置在所述圆环形转动盘(13)的上部，所述Y向导轨组件设置在所述X向导轨组件的上部，所述Y向底板(15)的底部与所述X向丝杠副(10)的丝母和所述X向导轨(12)上的滑块连接，所述周向转台组件设置在所述Y向导轨组件的上部，所述周向转台底板(14)的底部与所述Y向丝杠副(7)的丝母和所述Y向导轨(6)上的滑块连接，所述X向底板(16)、Y向底板(15)、周向转台底板(14)上均设置有同轴的圆孔，所述周向转台底板(14)上的定位环(...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙磊，赵东升，商华艳，高冉，何庆雨，管倩倩，
申请(专利权)人：山东省计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：山东;37