光纤连接器端面几何参数测量仪制造技术

一种光纤连接器端面几何参数测量仪，它采用Ｔｗｙｍａｎ－Ｇｒｅｅｎ干涉仪结构，其特征在于包括光源，沿该光源所发射光束前进方向上同光轴地依次置有准直扩束系统、分束器、遮光器和粘结在压电陶瓷上的参考平面反射镜，在穿过分束器的中心且垂直于光源发射光束的方向上，分束器的一端置有被测光纤连接器，一光学系统处于该分束器和光纤连接器之间，分束器的另一端置有透镜和光电探测器，该光电探测器经模数转换器连接到计算机，该计算机经驱动电路与所述压电陶瓷相连。该仪器应具有测量高精度和自动化的特点。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术与光纤连接器有关，涉及光纤连接器的端面几何参数测量仪及用于光纤连接器端面几何参数的测量方法。
技术介绍
光纤连接器是光通信、光纤传感器及其它光纤应用领域中应用最广的基础元件之一。光纤连接器的端面几何参数决定其插入损耗、回波损耗、重复性和互换性等技术性能。因此，在光纤连接器研磨生产、成品检测和装配使用过程中，对其端面几何参数的检测非常必要。光纤连接器端面几何参数主要有曲率半径、球面顶点偏心量、光纤高度和端面倾斜角，如图1所示。光纤1由环氧树脂层3粘结固定于插针体2中，光纤连接器的端面由光纤的端面与插针体的端面构成。4、6、7分别为光纤连接器端面的曲率半径、球面顶点偏心量和端面倾斜角。5a和5b均为光纤高度，其中5a表示光纤凹陷，光纤高度为负值；5b表示光纤突出，光纤高度为正值。目前，对光纤连接器端面的检测通常是使用放大镜直接观察，这只能粗略地了解端面的光洁度、划痕等表面状况；或者使用干涉显微镜，根据干涉条纹来推测端面的表面形状及曲率半径，其精度低，误差大，而且无法给出球面顶点偏心量、光纤高度和端面倾斜角等关键技术指标。利用光学波面干涉测量技术获得光纤连接器端面形貌，通过分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤连接器端面几何参数测量仪，它采用Ｔｗｙｍａｎ－Ｇｒｅｅｎ干涉仪结构，其特征在于包括光源（１），沿该光源（１）所发射光束前进方向上同光轴地依次置有准直扩束系统（２）、分束器（３）、遮光器（１３）和粘结在压电陶瓷（１２）上的参考平面反射镜（６），在穿过分束器（３）的中心且垂直于光源（１）发射光束的方向上，分束器（３）的一端置有被测光纤连接器（５），一光学系统（４）处于分束器（３）和光纤连接器（５）之间，分束器（３）的另一端置有透镜（７）和光电探测器（８），该光电探测器（８）经模数转换器（９）连接到计算机（１０），该计算机（１０）经驱动电路（１１）与所述压电陶瓷（１２）相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：路元刚，王向朝，钟向红，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]