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一种光纤连接器端面几何参数测量仪，它采用Ｔｗｙｍａｎ－Ｇｒｅｅｎ干涉仪结构，其特征在于包括光源，沿该光源所发射光束前进方向上同光轴地依次置有准直扩束系统、分束器、遮光器和粘结在压电陶瓷上的参考平面反射镜，在穿过分束器的中心且垂直于光源发射光...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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