一种带限位结构的芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部。通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉簧、复位机构、滑套、滑杆、弹簧、定位板、限位杆、防护垫、卡块、活动孔、连接块、滑块、滑槽、活动槽、凹槽和限位孔的配合使用，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种带限位结构的芯片测试装置
本技术属于芯片
，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
技术介绍
芯片，半导体元件产品的统称，称微电路、微芯片、晶片、芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，主要包括半导体设备，也包括被动组件等，并时常制造在半导体晶圆表面上。现在的生活中，科技越来越发达，芯片也是用途广泛，芯片在生产时需要对其进行检测，检测芯片的质量，在检测时需要使用到测试设备，综上所述，现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者的使用。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种带限位结构的芯片测试装置，具备快速对芯片进行限位的优点，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。本技术是这样实现的，一种带限位结构的芯片测试装置，包括测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备(1)，其特征在于：所述测试设备(1)的表面固定连接有定位板(4)，所述定位板(4)的内壁固定连接有拉杆机构(2)，所述拉杆机构(2)的数量为两个，所述拉杆机构(2)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个拉杆机构(2)相对的一侧均固定连接有连接块(9)，两个连接块(9)相对的一侧均贯穿至定位板(4)的外侧并固定连接有限位杆(5)，所述定位板(4)顶部的两侧均开设有凹槽(13)，所述凹槽(13)的内壁固定连接有复位机构(3)，所述复位机构(3)的顶部固定连接有卡块(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备(1)，其特征在于：所述测试设备(1)的表面固定连接有定位板(4)，所述定位板(4)的内壁固定连接有拉杆机构(2)，所述拉杆机构(2)的数量为两个，所述拉杆机构(2)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个拉杆机构(2)相对的一侧均固定连接有连接块(9)，两个连接块(9)相对的一侧均贯穿至定位板(4)的外侧并固定连接有限位杆(5)，所述定位板(4)顶部的两侧均开设有凹槽(13)，所述凹槽(13)的内壁固定连接有复位机构(3)，所述复位机构(3)的顶部固定连接有卡块(7)。


2.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述拉杆机构(2)包括活动块(201)，两个活动块(201)相对的一侧均固定连接有拉簧(203)，两个拉簧(203)相对的一侧均与定位板(4)的内壁固定连接，所述活动块(201)的顶部固定连接有手柄(202)，所述手柄(202)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个活动块(201)相对的一侧均与连接块(9)固定连接。


3.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴国强，周鑫鑫，赵丽，贾淑芳，
申请(专利权)人：氩芯科技杭州有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33