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本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部。通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉...
该专利属于氩芯科技(杭州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过氩芯科技(杭州)有限公司授权不得商用。

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