一种数字芯片测试机制造技术

本实用新型专利技术公布了一种数字芯片测试机，它包括插座主体和测试针座，其中插座主体顶面向下设置支撑槽体，在支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，在阶梯槽沿长度方向开设插口槽，插口槽内沿侧壁方向向外延伸右弹性件，右弹性件用于接触芯片管脚的一端面；其中测试针座包括与阶梯槽配合的盖板和设置在盖板上的测试探针，盖板上具有与插口槽相适配的通孔，测试探针活动的配设在通孔上，通过一端穿过通孔伸入插口槽在伸入段配设与右弹性件相对设置的左弹性件，右弹性件和左弹性件形成装夹芯片管脚的弹性体；测试探针的另一端通过导线分别连接测试模块，本实用新型专利技术提出一种数字芯片测试机，旨在提高测试机的使用寿命，保证测试机的可持续精准测试。

【技术实现步骤摘要】
一种数字芯片测试机
本申请涉及芯片测试
，具体是涉及一种数字芯片测试机。
技术介绍
随着移动互联网、云计算、物联网、大数据等新兴产业的增长，电子信息产业进入了新的发展阶段。控制、通信、人机交互和网络互联等融入了大量的新兴的电子技术，设备功能越来越复杂，系统集成度越来越复杂。新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要。芯片一般指集成电路载体，由晶圆分隔而成，亦指集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的基本功能进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片，然而，在当前数字芯片测试时，测试插座主要包括下测试座主体、测试探针以及下测试座与探针连接的弹性体，芯片管脚通过嵌装在弹性体上完成测试，但每次的检测，都会让管脚对弹性体产生重复荷载，使弹性体出现宏观可见或可检的裂纹，一旦达到疲劳寿命后，弹性体的弹性力消失，就会造成如手机USB接口接触不良的现象，使得测量出现误差，对此，有必要提供一种数字芯片测试机，以解决上述问题。
技术实现思路
本技术主要针对以上问题，提出一种数字芯片测试机，旨在提高测试机的使用寿命，保证测试机的可持续精准测试。为实现上述目的，本技术提供了以下技术方案：根据一方面，本技术提供了一种数字芯片测试机，它包括：插座主体，所述插座主体顶面向下设置有支撑槽体，在所述支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，所述阶梯槽沿长度方向开设若干用于芯片管脚伸入的插口槽，所述插口槽内沿侧壁方向向外延伸一右弹性件，所述的右弹性件用于接触所述芯片管脚的一端面；测试针座，其盖合在所述插座主体上，包括与所述阶梯槽配合的盖板和设置在盖板上的测试探针，所述盖板上具有与所述插口槽相适配的通孔，测试探针活动的配设在所述通孔上，通过一端穿过所述通孔伸入插口槽在伸入段配设与右弹性件相对设置的左弹性件，所述的右弹性件和左弹性件形成装夹芯片管脚的弹性体；所述测试探针的另一端通过导线分别连接测试模块。作为本技术一种数字芯片测试机的一种改进，所述测试探针上开设有卡槽，所述卡槽通过卡合嵌装一连杆，将各测试探针连为一体。作为本技术一种数字芯片测试机的一种改进，所述盖板的两端分别配设有锁紧块，所述锁紧块沿竖直方向和沿水平方向分别贯通一锁紧槽和一连接槽，所述连杆伸入连接槽，通过锁紧件穿过锁紧槽与连杆螺纹连接，将所述连杆固装在盖板上。依据上述技术方案，可以得知，本技术提出的一种数字芯片测试机，相对于现有技术中而言，具有以下有益效果：1、在芯片管脚插入后，通过移动测试探针，使传统利用弹性体接触芯片管脚的方式变为了将弹性体分成固定的右弹性件和可移动的左弹性件，采用这种可调的方式有利于弹性体受到应力的应变范围得到提高，可根据不同规格厚度的管脚进行相应的应变，进而提高弹性体的疲劳使用寿命，保证测试机的精准测试；2、当相应的测试探针出现问题时，可对出现问题的测试探针进行单独更换，减少了探针整体替换的成本；本技术的其它有益效果，在具体实施方式中进一阐明。附图说明图1为本申请对数字芯片进行测试的立体结构示意图。图2为图1中A处的局部放大结构示意图。图3为数字芯片测试机的分解图。图4为本申请数字芯片测试机的俯视结构示意图。图5为芯片管脚与弹性体连接的剖视结构示意图。图6为测试探针与连杆的连接结构示意图。图中所示的附图标记：10、插座主体；101、支撑槽体；102、阶梯槽；103、插口槽；20、测试针座；21、盖板；22、测试探针；23、导线；24、测试模块；25、连杆；26、锁紧块；27、弹性体；28、锁紧件；201、通孔；220、卡槽；260、锁紧槽；261、连接槽；271、左弹性件；272、右弹性件；30、芯片；31、管脚。具体实施方式下面通过具体实施方式结合附图对本技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。请参考图1-图6，本实施例提供了一种数字芯片测试机，它由插座主体10和盖合所述插座主体10对芯片30进行测试的测试针座20，其中：对插座主体10而言，该插座主体10顶面向下设置支撑槽体10，所述支撑槽体10对待测芯片30进行周向固定，且在两侧配设阶梯槽102，所述阶梯槽102具有沿长度方向开设的若干插口槽103，所述插口槽103内沿侧壁方向向外延伸右弹性件272，当所述芯片30的管脚31穿过阶梯槽102进入插口槽103后，所述的右弹性件272能够紧抵在管脚31的一端面，与管脚31接触；对测试针座20而言，该测试针座20包括与阶梯槽102配合的盖板21和在盖板21上开设若干与插口槽103相适配的通孔201，在每个单独的通孔201上活动配设测试探针22，使测试探针22的一端穿过所上述通孔201、并伸入插口槽103中在伸入段设置与右弹性件272相对设置的左弹性件271，以形成现有技术中装夹芯片30管脚31的弹性体27，而测试探针22的另一端通过导线23连接测试模块24。通过上述实施例，可以理解的是，当芯片30主体放置在支撑槽体101、管脚31伸入插口槽103后，此时右弹性件272的一端抵靠在管脚31的一端面，然后盖上测试针座20，再沿通孔201长度方向对每个测试探针22进行移动，使之每个测试探针22上的左弹性件271接触到管脚31的另一端面，通过这一端面的接触使电路导通，将芯片30的各项信息经左弹性件271、测试探针22、导线23传输至测试模块24中，用以挑选出合格的数字芯片30，通过采用这种可调的方式有利于弹性体27受到应力的应变范围得到提高，可根据不同规格厚度的管脚31进行相应的应变，进而提高弹性体27的疲劳使用寿命，保证测试机的精准测试。作为上述实施例中的优选方案，可在每个测试探针22上开设卡槽220，通过将一连杆25卡合在卡槽220中使每个测试探针22连为一体，可以理解的是，只需检测人员用拇指和食指将两连杆25沿中部合拢，便可使左弹性件271接触到管脚31，极大的减少了操作难度。此外，作为上述实施例中的进一步优选方案，所述盖板21的两端分别配设有锁紧块26，所述锁紧块26沿本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数字芯片测试机，其特征在于，它包括：/n插座主体，所述插座主体顶面向下设置有支撑槽体，在所述支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，所述阶梯槽沿长度方向开设若干用于芯片管脚伸入的插口槽，所述插口槽内沿侧壁方向向外延伸一右弹性件，所述的右弹性件用于接触所述芯片管脚的一端面；/n测试针座，其盖合在所述插座主体上，包括与所述阶梯槽配合的盖板和设置在盖板上的测试探针，所述盖板上具有与所述插口槽相适配的通孔，测试探针活动的配设在所述通孔上，通过一端穿过所述通孔伸入插口槽在伸入段配设与右弹性件相对设置的左弹性件，所述的右弹性件和左弹性件形成装夹芯片管脚的弹性体；所述测试探针的另一端通过导线分别连接测试模块。/n

【技术特征摘要】
1.一种数字芯片测试机，其特征在于，它包括：
插座主体，所述插座主体顶面向下设置有支撑槽体，在所述支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，所述阶梯槽沿长度方向开设若干用于芯片管脚伸入的插口槽，所述插口槽内沿侧壁方向向外延伸一右弹性件，所述的右弹性件用于接触所述芯片管脚的一端面；
测试针座，其盖合在所述插座主体上，包括与所述阶梯槽配合的盖板和设置在盖板上的测试探针，所述盖板上具有与所述插口槽相适配的通孔，测试探针活动的配设在所述通孔上，通过一端穿过所述通孔伸入插口槽在伸入段配设与右弹性件相对设置的左弹性...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄辉，
申请(专利权)人：深圳市芯片测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44