与设备无关地确定用显微镜成像的点的坐标的方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及用于与设备无关地确定一用显微镜成像的点（Ｐ）的坐标的方法和系统，其中首先针对至少一个参考点（Ｅ↓［１］）在ＤＩＣＯＭ坐标系中的与物体有关的预定参考坐标（Ｘ↓［１］，Ｙ↓［１］，Ｚ↓［１］）确定至少一个被成像的参考点（Ｅ↓［１］）在与设备有关的坐标系内的所属设备坐标（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］，ｚ↓［１］），由此求出一个用于把与设备有关的坐标（ｘ，ｙ，ｚ）换算成ＤＩＣＯＭ坐标系坐标（ｘ，ｙ，ｚ）的变换规则（φ），然后借助于被求出的变换规则（φ）把成像点（Ｐ）的设备坐标（ｘ↓［Ｐ］，ｙ↓［Ｐ］，ｚ↓［Ｐ］）换算成与设备无关的ＤＩＣＯＭ坐标系坐标（Ｘ↓［Ｐ］，Ｙ↓［Ｐ］，Ｚ↓［Ｐ］），以进行与设备无关的坐标确定。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于与设备无关地确定一用显微镜成像的点的坐标的方法和系统，以及涉及一种用于此的校准载物台。显微镜经常被用来识别小的、用裸眼看不到的结构，以及被用来找出这些结构中的特定特征。在细胞学、组织学和病理学中，显微镜的基本任务在于详细扫描标本和搜寻感兴趣的结构、细胞或细胞联合及其类似物。如果在标本上已找到这些结构的位置，那么由于各种原因，对这些位置进行标记是值得追求的。例如，为了检验、进一步检查或出于质量保证的原因，被找到的结构必须在以后的时刻由相同的或另一个用户再次找出。为此，许多显微镜具有一个单元以用于测定某个点在与设备有关的坐标系中的位置坐标。通过机电地测定这种坐标，可以在以后的时刻再次驶向该被找到的位置。然而坐标通常是与设备有关的，也就是说，只有当显微镜校准没有发生变化和没有出现容差时，才能正确地再现该设备的坐标。但如果例如显微镜台被拿掉去修理然后又被装上，那么对于标本上的同一位置，该显微镜台会提供一个不同于原来所确定的坐标的坐标。不同的显微镜、即便是相同的类型，其坐标系也不是(完全)相同的。需要在任意的显微镜之间建立互用性，以便例如第二用户能够在其系统中再次驶向标本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于与设备无关地确定一用显微镜成像的点（Ｐ）的坐标的方法，其中首先针对至少一个参考点（Ｅ↓［１］）在ＤＩＣＯＭ坐标系中的与物体有关的预定参考坐标（Ｘ↓［１］，Ｙ↓［１］，Ｚ↓［１］）确定至少一个被成像的参考点（Ｅ↓［１］）在与设备有 关的坐标系内的所属设备坐标（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］，ｚ↓［１］），由此求出一个用于把与设备有关的坐标（ｘ，ｙ，ｚ）换算成ＤＩＣＯＭ坐标系坐标（Ｘ，Ｙ，Ｚ）的变换规则（φ），以及然后借助于被求出的变换规则（φ）把成像点（Ｐ）的设备坐标 （ｘ↓［ｐ］，ｙ↓［ｐ］，ｚ↓［ｐ］）换算成与设备无关的ＤＩＣＯＭ坐标系坐标（Ｘ↓［ｐ］，Ｙ↓［ｐ］，Ｚ...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：B施托克，
申请(专利权)人：莱卡微系统CMS有限责任公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]