激光扫描共聚焦显微镜扫描畸变现象的全场校正方法技术

激光扫描共聚焦显微镜扫描畸变现象的全场校正方法，采用标准光栅试件，用ＬＳＣＭ扫描云纹方法得到扫描云纹图像，再通过云纹相移技术对原始图像进行四步相移处理得到相移云纹图像，根据云纹相移理论由相移得到的云纹图得出相位图，解包裹后得到原始相位图，根据相位和位移场的关系得到扫描畸变场，从而达到校正的目的。本发明专利技术同现有方法作比较，有如下显而易见的突出特点和显著优点：本发明专利技术通过扫描云纹和云纹相移技术，将扫描控制单元的畸变现象引起的扫描线的畸变场直接测量出来。具有精度高、操作简单、实时测量且可进行全场测试等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种激光扫描共聚焦显微镜的全场校正技术。
技术介绍
随着科学技术的飞速发展，高图像分辨率的显微镜成为科学工作者进行科研的有效工具。20世纪80年代发展起来的激光扫描共聚焦显微镜(Laser Scanning Confocal Microscopy-LSCM)是当今生物学的研究领域中的一种先进的图像采集和分析仪器，被广泛应用于生物学的各个领域，如细胞骨架研究、生理生化研究、基因定位及染色体三维作图、胚胎学研究、植物学研究等等。传统的光学显微镜由于衍射极限的限制其空间分辨率受到了限制，而激光扫描共聚焦显微镜利用激光作为照明光源，在传统的光学显微镜的基础上采用了共轭聚焦的原理和扫描成像装置，大大提高了其空间分辨率，同时由于系统是在光学显微镜基础上设计完成的因此其对工作环境无特殊要求，相比其他高分辨率显微镜其测量过程的相对简单。激光共聚焦扫描显微镜是由光学系统、电子控制系统及软件系统三个子系统构成，其工作原理如附图1所示，激光器3发出的照明激光束经过分光镜4和扫描镜5后由显微镜6会聚在位于物镜焦点的试样7上，试样表面的被激光照射的点会反射出沿各个方向的光线，其中一部分光线经本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光扫描共聚焦显微镜扫描畸变现象校正方法，其特征在于该方法按如下步骤进行：ａ．根据标准一维光栅样品栅距ｐ↓［ｓ］和激光扫描共聚焦显微镜扫描所使用的扫描线数Ｎ，按照公式Ｌ＝ｐ↓［ｓ］（Ｎ＊（ｌ－１））计算形成扫描云纹时所需要的扫描 区域Ｌ的大小，ｌ是云纹条数；ｂ．在待标定激光扫描共聚焦显微镜中按步骤ａ计算出的扫描区域对标准一维光栅样品进行扫描，并形成扫描云纹，记录云纹图像；ｃ．利用激光扫描共聚焦显微镜中的载物台对光栅样品做平移使样品发生ｐ↓［ｓ］／４， ｐ↓［ｓ］／２，３ｐ↓［ｓ］／４的位移量，使得记录下来的云纹条纹的光强函数的相移量为π／２，π，...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢惠民，花韬，方岱宁，潘兵，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]