强度关联量子成像显微镜制造技术

技术编号:2663486 阅读:231 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种强度关联量子成像显微镜,其特点是包括一脉冲光源,该脉冲光源发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束,所述的透射光束方向依次是待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂,所述的反射光束方向依次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂,所述的物臂探测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接计算机,该计算机具有强度关联运算软件,该计算机通过同步信号发生器分别与所述的脉冲光源、物臂探测器和参考臂探测器相连,所述的参考臂成像透镜具有高数值孔径。本发明专利技术通过增加参考臂成像透镜的数值孔径即可以获得高分辨率的图像。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种强度关联量子成像显微镜,其特征在于包括一脉冲光源(1),该脉冲光源(1)发出的光束被分束器(2)分成透射光束和反射光束,在所述的透射光束方向依次是待测物体(3)、物臂成像透镜(4)和物臂探测器(5)构成的物臂,所述的物臂探测器(5)位于所述的物臂成像透镜(4)的像平面;在所述的反射光束方向依次是虚拟平面(7)、参考臂成像透镜(8)和参考臂探测器(9)构成参考臂,所述的参考臂探测器(9)位于所述的参考臂成像透镜(8)的像平面;所述的物臂探测器(5)和参考臂探测器(9)分别经第一数据采集卡(6)和第二数据采集卡(10)接计算机(12),该计算机(12)具有强度关联运算软件,该计算机(12)通过同步信号发生器(11)分别与所述的脉冲光源(1)、物臂探测器(5)和参考臂探测器(9)相连,所述的参考臂成像透镜(8)具有高数值孔径。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:韩申生张鹏黎龚文林沈夏
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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