一种硅基微腔窄带近红外光电探测器制造技术

技术编号:26509230 阅读:37 留言:0更新日期:2020-11-27 15:37
本发明专利技术公开了一种硅基微腔窄带近红外光电探测器,该探测器的结构为:以单晶硅衬底为基底;单晶硅衬底的上表面刻蚀为硅微孔阵列结构;在硅微孔阵列上设置有上绝缘层;在单晶硅衬底下表面转移有石墨烯薄膜,形成石墨烯‑硅肖特基异质结;在石墨烯薄膜下表面依次设置有下绝缘层和金属反射层。本发明专利技术所制备的探测器实现了可见光盲的窄带近红外响应,具有响应速度快、易集成等优势,同时还具有制备方法简单、成本低、稳定性高、兼容性强等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种硅基微腔窄带近红外光电探测器
本专利技术涉及一种硅基微腔窄带近红外光电探测器,属于半导体光电器件

技术介绍
传统红外光电探测在军事、遥感、通信、生命科学和宇宙探索等领域发挥着至关重要的作用,近些年来,人工智能、大数据、智慧城市等方面对红外信息的探测和智能感知的需求越来越强烈,窄带响应高灵敏度的近红外光电探测器在光谱学、临床医学、成像、化学元素分析等领域具有巨大的应用价值。当前,窄带光探测器通常使用以下三种方法实现:1)将宽光谱光电探测器与带通滤波器相结合,该方法需要高成本的滤波器、复杂的光学系统集成和设计,还会增加探测器的尺寸和重量;2)使用具有窄带吸收的光活性材料,该方法已成功应用于以宽禁带半导体为活性材料的短波光电探测器;3)通过等离子体效应增强特定波长范围内的吸收,该方法在其它非等离子体波长范围内受到非抑制吸收的限制[L.Shen;Y.Fang;H.Wei;etal.AdvancedMaterials.2016,28,2043-2048.]。针对红外波段的窄带探测器仍是目前市场的缺失,研发一种廉价、结构简单、无公害、易集成的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硅基微腔窄带近红外光电探测器,其特征在于:所述硅基微腔窄带近红外光电探测器是以单晶硅衬底(2)作为基底,所述单晶硅衬底(2)的上表面刻蚀为硅微孔阵列结构,在硅微孔阵列上设置有上绝缘层(1);在所述单晶硅衬底(2)的下表面转移有一层石墨烯薄膜(3),形成石墨烯-硅肖特基异质结;在所述石墨烯薄膜(3)下表面设置有下绝缘层(4);在所述下绝缘层(4)的下表面设置有金属反射层(5);/n在所述单晶硅衬底(2)的上表面设置有顶电极(6),在所述石墨烯薄膜(3)的下表面设置有底电极(7),所述顶电极(6)与所述单晶硅衬底(2)形成欧姆接触,所述底电极(7)与所述石墨烯薄膜(3)形成欧姆接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种硅基微腔窄带近红外光电探测器,其特征在于:所述硅基微腔窄带近红外光电探测器是以单晶硅衬底(2)作为基底,所述单晶硅衬底(2)的上表面刻蚀为硅微孔阵列结构,在硅微孔阵列上设置有上绝缘层(1);在所述单晶硅衬底(2)的下表面转移有一层石墨烯薄膜(3),形成石墨烯-硅肖特基异质结;在所述石墨烯薄膜(3)下表面设置有下绝缘层(4);在所述下绝缘层(4)的下表面设置有金属反射层(5);
在所述单晶硅衬底(2)的上表面设置有顶电极(6),在所述石墨烯薄膜(3)的下表面设置有底电极(7),所述顶电极(6)与所述单晶硅衬底(2)形成欧姆接触,所述底电极(7)与所述石墨烯薄膜(3)形成欧姆接触。


2.根据权利要求1所述的硅基微腔窄带近红外光电探测器,其特征在于:所述单晶硅衬底(2)的厚度为100-500μm;所述硅微孔直径为10-100μm,深度为5-20μm,相邻硅微孔的间距为10-300μm。


3.根据权利要求1所述的硅基微腔窄带近红外光电探测器,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:于永强宋龙梅夏宇刘佳杨许高斌马渊明陈士荣
申请(专利权)人:合肥工业大学
类型:发明
国别省市:安徽;34

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