开关触点压降的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术所述的开关触点压降的测试装置，是利用扼流式饱和电抗器调压和硅整流的测试主电路为被测触点提供按要求曲线上升的直流大电流，然后通过采用Ｖ／Ｆ变换技术，采样频率等于电源频率的数字控制电路对测试电流和触点压降进行动态测量，当电流达到设定值使压降值自动锁定，便于抄录，因为上述测试主电路中不设大功率电阻，电流上升快且电流的纹波对测量结果影响很小，因此，本实用新型专利技术具有精度高、速度快，能耗少的特点。（*该技术在2005年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电器开关触点的直流大电流电压降测试方法及装置。大电流电器开关对开关组件内的触点、导电排及电联接点等都有明确的压降测试标准，要求测量过程尽可能短，以避免被测产品发热而产生误差。已有的测试装置主要有两种，一是用调压器调节输出电压的大电流硅整器，其输出串一大功率电阻接到被测件上。将调压器调节到一定的位置，使输出电流在某一要求值上，然后测量被测点两端的压降；二是用带有稳流装置的大电流可控硅整流器，其输出串一大功率电阻接至被测件上。调节电流至要求值，然后进行测量。前者由于电源的波动，其输出电流不能稳定在要求值上，因此有很大的测量误差。后者由于可控硅稳流精度一般只能达到5％，而且即使提高稳流精度到2％，其波动在输出3000A时也会达到正负60A、最大的误差就可能会有120A左右，这样的误差加上测量系统的固有误差，总的误差就更大了。而且前者属于电压调节装置，后者则可控硅因不能工作在近于零导通角的情况下，输出都必须串联一大功率电阻，增加了不必要的能源损耗。另外以上两种装置从电流稳定在要求值到抄录压降读数所历时间较长且不确定，使测试结果带来了额外的因被测件发热而产生的误差，重复一致本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开关触点压降的测试装置，其特征是：包括五套电路：一、由输入开关（ＪＣ１－３）、扼流式饱和电抗器（ＺＤＫ）、五芯柱整流变压器（ＺＢ）、双反星形整流电路（ＺＰ４－９）、滤波电感（ＤＫ）组成的测试主电路；二、由小可控硅半桥整流电路（ＫＰ１－２、ＺＰ１－２）和可控硅触发电路组成的扼流式饱和电抗器控制电路；三、由信号放大电路、Ｖ／Ｆ变换电路、计数电路、译码锁存驱动电路、显示电路及时序控制电路和符合比较电路组成的电流数字控制电路，其中符合比较电路中设有进行电流设定的拨盘（ＢＰ）及给出压降锁定信号和电流切断信号和两个信号发生器（Ｔ１和Ｊ）；四、由信号程控放大电路、Ｖ／Ｆ变换电路、计数电路、译码锁存驱动电...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李瑞剑，李瑞鸿，
申请(专利权)人：李瑞鸿，李瑞剑，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]