【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电路板功能自动测试装置,特别涉及一种可针对具有不同型态的一基底进行功能检测的电路板功能自动测试装置。一般而言,基底(例如电路板、主机板等)的测试设备多半采用专用测试设备来进行其各项功能(IC组件、电路连接等)、多个接点(例如储存器用插座、输入/输出用连接端口等)等的检测,或者利用相近似的专用测试设备进行适当的调整后方可进行各项功能的检测。然而,由于该基底所必须测试的项目及其种类相当的多,并且在该专用测试设备中的各项设备及组件(例如处理单元(CPU)、数据存/取装置(磁盘设备)、输入装置(键盘等)、输出装置(屏幕等)等)均必须以适当的线路及接头进行该基底的连接,而其相互间的连接方式多半采用人工来进行,不论在组装过程或进行维修均相当的不方便。有鉴于此,本技术针对上述公知技术而提出改良,以对一基底(例如电路板)进行自动测试。本技术的目的在于提供一种具有模块化的电路板功能自动测试装置,通过第一、第二连接单元的该第一、第二接合部之间的连接方式可针对不同的测试机台或不同的控制装置之间进行搭配及组合。本技术提出的电路板功能自动测试装置包括一测试机台,包括有至 ...
【技术保护点】
一种电路板功能自动测试装置,用于对一基底进行测试,其特征在于,其组成包括: 一测试机台,包括有至少一基座及多个探测部,该基底设置于该基座,该多个探测部用以接触于该基底; 一第一连接单元,连接于该多个探测部,该第一连接单元具有一第一接合部; 一第二连接单元,具有一第二接合部,该第二接合部用于连接该第一接合部;以及 一控制装置,电性连接于该第二接合部。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈信宏,王家裕,陈家村,
申请(专利权)人:华硕电脑股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:71[中国|台湾]
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