【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】为构建特征符号,使用MISR电路(MISR=多输入特征符号寄存器),如在譬如由Paul H.Bardell Willam、H.McAnny和Jacob Savir发表在VLSI机内测试出版物伪随机技术,124页上所述那样。在文中,设置有预定数量的移位寄存器,需测试的数据按顺序毗连在这些寄存器上。在此,耦合了并行排列的数据,并且通过移位寄存器以一个预定的时钟脉冲移位。然后,在移位寄存器中,在一定准确确定数量的数据字和时钟脉冲以后,就有一个与预知特征符号值可比较和可检验的特征符号值。为无误差地测试一个过程和在此过程中相关的数据,将所收到的特征符号值与所期望的特征符号值比较就够了。在此,以这种方式也可得到预知的特征符号值。当在时刻T,在某个输入端有一个误差时,根据现有技术的方法和装置是有问题的,因为首先将一个错误的值写入有关的移位寄存器。因此,所计算出的最终特征符号与所期望的特征符号不同。但是,如果除在下一个T+1时刻以外,在下面的、特别是紧跟在后面的输入端出现一个误差,如果在此期间不存在MISR即特征符号产生电路的反耦合分路,则在第一个输入端起初的误差,在通过移位寄存器 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员:W·哈特,R·安格尔鲍尔,E·贝尔,
申请(专利权)人:罗伯特·博世有限公司,
类型:发明
国别省市:
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