【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于半导体集成电路测试的器件接口板。技术背景采用双列直插式封装(DIP)的半导体集成电路，其管脚有14脚、1 6 脚、20脚、24脚等等，对于管脚数不同的集成电路通常要用不同的插座 (Socket),制作不同的器件接口板(Device Interface Board DIB)。如 果需要测试的集成电路数量较少，针对每一种管脚的集成电路制作一个器 件接口板很不经济，因此需要考虑设计一种可以通用的器件接口板。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种用于半导体集成电路测试的器 件接口板，能适应具有不同管脚的半导体集成电路测试要求，降低测试的 成本。为解决上述技术问题，本专利技术的用于半导体集成电路测试的器件接口 板，包括一个具有24引脚的双列直插式插座，在该插座的左右两侧各设置 一跳线结构，每一跳线结构，具有12行跳线，每一行跳线具有左、中、右 三根跳线引针；左侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应 的引脚相连接，左边的跳线引针与测试台的GND端相连接，右边的跳线引针 与测试台的数字通道相连；右侧的跳线结构，每一行中间的跳线引...
【技术保护点】
一种用于半导体集成电路测试的器件接口板，其特征在于：包括一个具有２４引脚的双列直插式插座，在该插座的左右两侧各设置一跳线结构，每一跳线结构，具有１２行跳线，每一行跳线具有左、中、右三根跳线引针；左侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，左边的跳线引针与测试台的ＧＮＤ端相连接，右边的跳线引针与测试台的数字通道相连；右侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，右边的跳线引针与测试台的ＶＤＤ端相连接，左边的跳线引针与测试台的数字通道相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：惠力荪，桑浚之，武建宏，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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