无线数据卡辐射杂散频点测试方法技术

本发明专利技术公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中，工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。为解决上述问题，本发明专利技术包括以下步骤：（１）将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；（２）用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；（３）用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；（４）所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。本发明专利技术可用普通屏蔽室替代微波暗室，节约了费用，缩短了产品开发周期。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
目前，全球数字移动用户已经达到13亿，而且该数字有望在未来几年内翻一番。据预测， 2008年全球通信业将呈现高达20亿移动用户数的巨大市场。全球的移动业务和应用正朝着语音、多媒体和企业应用这三个主要方向增长。移动数据 业务将在移动市场中拥有越来越大的份额。截至2003年9月，全球移动数据业务用户达到1 亿人，占全球12.9亿移动用户的7.7%，与2003年6月份的统计结果相比增长了 14%。到 2007年，移动数据业务所占比例将从2002年的10%上升至30%，移动服务市场本身将成为 6千亿欧元的巿场。目前许多运营商的数据收入已经占到其总收入的15%。作为用户使用数据业务的载 体一一无线数据卡的需求很大。现在大批的数据卡在进入市场前，要经过各种认证测试，其 中有一项就是对产品的辐射杂散有明确的指标限制。而在做辐射杂散测试时这项指标对测试 环境的要求很高一一必须要到技术要求很高的微波无反射暗室去做如图1所示。在微波暗室中，将被测无线数据卡插到笔记本中放到转台上之后，关闭暗室的门，与外 界的环境完全屏蔽隔开，模拟基站_一综测仪输出端口连接到呼叫天线(简本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（１）将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；（２）用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；（３）用频谱分析仪连接一近场电波接受小探 头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；（４）所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李成恩，王卫中，张亮，刘卫刚，李广峰，郭绪斌，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]