半导体发光元件制造技术

技术编号:26481152 阅读:40 留言:0更新日期:2020-11-25 19:27
本发明专利技术公开一种半导体发光元件,包含一叠层结构具有一反射层、一第一电性半导体叠层位于反射层上、一主动层位于第一电性半导体叠层上,以及一第二电性半导体叠层位于主动层上;以及一第一电极位于叠层结构上,其中叠层结构还包含一氧化层不露出于叠层结构的外侧壁。

【技术实现步骤摘要】
半导体发光元件本申请是中国专利技术专利申请(申请号:201510347672.4,申请日:2015年06月23日,专利技术名称:半导体发光元件)的分案申请。
本专利技术涉及一种具有反射层的发光二极管的结构及其制造方法。
技术介绍
传统的发光二极管其活性层产生的可见光往下入射至成长基板时,如果成长基板的能隙小于活性层的能隙,可见光会被成长基板吸收,而降低发光效率。为了避免可见光被成长基板吸收,现有技术包含加入布拉格反射结构(DistributedBraggReflector;DBR)于成长基板上,用于反射入射向成长基板的可见光,并减少成长基板吸收。然而一般DBR反射结构叠层间的折射率差异不大,反射效果有限。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供一种半导体发光元件,包含一叠层结构具有一反射层、一第一电性半导体叠层位于反射层上、一主动层位于第一电性半导体叠层上,以及一第二电性半导体叠层位于主动层上;以及一第一电极位于叠层结构上,其中叠层结构还包含一氧化层不露出于叠层结构的外侧壁。附图说明图1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体发光元件,其特征在于,包含:/n半导体叠层,具有:/n反射层;/n第一电性半导体叠层,位于该反射层上;/n主动层,位于该第一电性半导体叠层上;以及/n第二电性半导体叠层,位于该主动层上且包含接触层;/n多个孔洞;以及/n多个氧化区,围绕该多个孔洞中的每一个;以及/n第一电极,位于该半导体叠层上;/n其中该多个孔洞未被该接触层所覆蓋。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体发光元件,其特征在于,包含:
半导体叠层,具有:
反射层;
第一电性半导体叠层,位于该反射层上;
主动层,位于该第一电性半导体叠层上;以及
第二电性半导体叠层,位于该主动层上且包含接触层;
多个孔洞;以及
多个氧化区,围绕该多个孔洞中的每一个;以及
第一电极,位于该半导体叠层上;
其中该多个孔洞未被该接触层所覆蓋。


2.如权利要求1所述的半导体发光元件,其中该半导体叠层还具有外侧壁,其中该些氧化区不露出于该外侧壁。


3.如权利要求1所述的半导体发光元件,其中该反射层包含多对第一折射率层与第二折射率层交互堆叠,且该第一折射率层与该第二折射率层的折射率相异。


4.如权利要求3所述的半导体发光元件,其中该第一折射率层与该第二折射率层的对数介于5到50之间。...

【专利技术属性】
技术研发人员:张敏南骆武聪李世昌杨宇智
申请(专利权)人:晶元光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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