检查电路的方法以及检查电路的系统技术方案

一种检查电路的方法和系统。该系统包括：第一表面，第二表面，第三表面，以及多目标传送器；其中该多目标传送器适于抓住放置在该第一表面上的预检查电路，抓住放置在该第二表面上的在前检查的电路，并且同时将该预检查电路传送到该第二表面以及将该在前检查的电路传送到该第三表面；其中该系统适于检查放置在该第二表面上的电路。

【技术实现步骤摘要】
检查电路的方法以及检查电路的系统相关申请本申请要求2005年12月17日申请的序列号为60/749,052的美国临时专利 狄领域^~专利技术涉;Sj^r查电路的系^方法领域。 背景絲如印刷电5l^晶片的电路是通过非常复杂的制iiit^呈制造的。"些制造iif呈期间会出现不同类型的缺陷，典型^^检查该电路，甚至要经历检被程，以〗更保证它们的质量。该检查i^flit常包括将电路^lA^查系统，检查该电路，然后从该检查系 统卸栽该电路。在许多检查系统中，需^t者手动^^和卸载电路，因而^^城慢 了该检查过程。另一方面，完全自动的检查系^al杂，并且非常昂贵。 ^"在用于缩^Jiii^ft所需的时间的增长的需要。
技术实现思路
一种系统，包括第一表面，笫二表面，第錄面，以及多目标传送器； 其中该多目标传送器适于抓^ii^该第一表面上的预检查电路，适于抓^^t 置在第二表面上的在前检查的电路，并Jit于同时将该预检查电M送到该第 二表面以及将该在前检查的电5§#送到该第4面；其中该系^1于检查方 在该第二表面上的电路。一种用于检查电路的方法，该方法包括在第一表面"^:预检查电路；通过多目标传送a^本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种系统，包括：第一表面，第二表面，第三表面，以及多目标传送器；其中所述多目标传送器适于抓住放置在所述第一表面上的预检查电路，适于抓住放置在所述第二表面上的在前检查的电路，并且适于同时将所述预检查电路传送到所述第二表面以及将所述在前检查的电路传送到所述第三表面；其中所述系统适于检查放置在所述第二表面上的电路。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：埃维列维，拉菲阿米特，
申请(专利权)人：卡姆特有限公司，
类型：发明
国别省市：IL[以色列]