一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达技术方案

本发明专利技术实施例提供一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达，光电探测器的控制方法包括：获取流经所述光电探测器的总电流；获取所述光电探测器的温度，并根据所述光电探测器的温度，以及温度特性曲线，获取所述光电探测器的暗电流；根据所述总电流以及所述暗电流确定所述光电探测器接收到的背景光强度；根据所述背景光强度调整对所述光电探测器的输出信号进行采样的噪声门限和信号门限。本发明专利技术实施例提供一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达，以确保激光雷达能够正常工作。

【技术实现步骤摘要】
一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达
本专利技术涉及激光雷达
，尤其涉及一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达。
技术介绍
激光雷达中，光电探测器作为光接收器，用于采集环境中反射回来的光信号。但是环境中反射回来的光信号除了激光雷达的光发射器发射的激光光束被环境中的物体反射形成的反射光信号之外，还包括了环境中的干扰光信号，也即噪声信号。环境中的干扰光信号可以是太阳光以及其他载体上安装的激光雷达所发出的激光光束等。因此，在激光雷达的整个工作过程中，环境中的干扰光信号是随机的，这种随机的噪声信号的出现会干扰对光电探测器的输出信号的采样，严重时可能导致ADC采样无法正常进行，从导致无法获取到有效的光电探测器的输出信号，进而导致整个激光雷达无法正常稳定工作。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种光电探测器的控制方法、控制系统及激光雷达，以确保激光雷达能够正常工作。第一方面，本专利技术实施例提供一种光电探测器的控制方法，包括：获取流经所述光电探测器的总电流；获取所述光电探测器的温度，并根据所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电探测器的控制方法，其特征在于，包括：/n获取流经所述光电探测器的总电流；/n获取所述光电探测器的温度，并根据所述光电探测器的温度，以及温度特性曲线，获取所述光电探测器的暗电流；/n根据所述总电流以及所述暗电流确定所述光电探测器接收到的背景光强度；/n根据所述背景光强度调整对所述光电探测器的输出信号进行采样的噪声门限和信号门限。/n

【技术特征摘要】
1.一种光电探测器的控制方法，其特征在于，包括：
获取流经所述光电探测器的总电流；
获取所述光电探测器的温度，并根据所述光电探测器的温度，以及温度特性曲线，获取所述光电探测器的暗电流；
根据所述总电流以及所述暗电流确定所述光电探测器接收到的背景光强度；
根据所述背景光强度调整对所述光电探测器的输出信号进行采样的噪声门限和信号门限。


2.根据权利要求1所述的光电探测器的控制方法，其特征在于，在根据所述背景光强度调整对所述光电探测器的输出信号进行采样的噪声门限和信号门限之后，还包括：
提升所述光电探测器的偏置电压预设步进值；
采集至少一个采样周期内所述光电探测器的输出信号；
根据所述光电探测器的输出信号、信号门限以及所述噪声门限判断所述光电探测器的偏置电压是否达到击穿电压；
若是，则将所述光电探测器的偏置电压降低预设偏差值以得到所述光电探测器的理想偏置电压。


3.根据权利要求2所述的光电探测器的控制方法，其特征在于，根据所述光电探测器的输出信号、信号门限以及所述噪声门限判断所述光电探测器的偏置电压是否达到击穿电压，包括：
获取至少一个所述采样周期内所述输出信号中脉冲幅值介于所述噪声门限和所述信号门限之间的脉冲数量；
根据所述脉冲数量判断所述光电探测器的偏置电压是否达到击穿电压。


4.根据权利要求2所述的光电探测器的控制方法，其特征在于，根据所述光电探测器的输出信号、信号门限以及所述噪声门限判断所述光电探测器的偏置电压是否达到击穿电压，包括：
获取一个所述采样周期内所有所述输出信号的平均值；
根据所述输出信号的平均值以及所述噪声门限判断所述光电探测器的偏置电压是否达到击穿电压。


5.根据权利要求2所述的光电探测器的控制方法，其特征在于，在根据所述光电探测器的输出信号、信号门限以及所述噪声门限判断所述光电探测器的偏...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小波，沈俭，
申请(专利权)人：深圳市镭神智能系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44