【技术实现步骤摘要】
一种校验光台
本专利技术涉及电子设备光校验领域,尤其涉及一种校验光台。
技术介绍
目前超大尺寸的触摸屏产品(即触摸屏的尺寸大于50英寸)包含透光区(视窗区/触摸区)与非透光区(油墨区/Logo区),通常对触摸屏产品进行光检验时包括对透光区的对光检验以及对非透光区的反光校验。然而,由于超大尺寸的触摸屏产品自身的尺寸或者体积较大,使得人为拿取或者移动超大尺寸的触摸屏产品进行光校验时存在一定困难。因此,为解决人为拿取或者移动超大尺寸触摸屏不易的问题,目前采用一种校验台对超大尺寸的触摸屏进行光校验;其中,该校验台包括支撑架,位于支撑架上的支撑柱,触摸屏产品放置在支撑柱形成的支撑面上,且触摸屏产品的下方设置有日光灯以进行对光或者反光校验。然而采用该校验台进行校验,主要存在以下缺陷:首先日光灯发出的光不均匀,造成触摸屏上的不同区域的校验存在标准差异;其次,作业员肉眼观察触摸屏时,日光灯发出的光线通过透光区直达作业员的眼睛,会导致作业员产生视觉疲劳,严重时会伤害作业员的眼睛视网膜,对作业员的眼部安全造成危害;再者,采用该校 ...
【技术保护点】
1.一种校验光台,其特征在于,包括:/n机架;/n第一光源组件,设于所述机架上且用于提供第一校验光;/n第二光源组件,设于所述机架上且位于所述第一光源组件下方且用于提供第二校验光;及/n校验平台,可移动地设于所述第二光源组件靠近所述第一光源组件的一侧表面,且与所述第一光源组件、所述第二光源组件之间均形成有作业空间。/n
【技术特征摘要】
1.一种校验光台,其特征在于,包括:
机架;
第一光源组件,设于所述机架上且用于提供第一校验光;
第二光源组件,设于所述机架上且位于所述第一光源组件下方且用于提供第二校验光;及
校验平台,可移动地设于所述第二光源组件靠近所述第一光源组件的一侧表面,且与所述第一光源组件、所述第二光源组件之间均形成有作业空间。
2.根据权利要求1所述的校验光台,其特征在于,所述校验平台包括可移动的支撑组件以及形成于所述支撑组件远离所述第二光源组件的一端端面的校验支撑面,所述校验支撑面用于放置待校验产品;所述可移动的支撑组件可相对于所述待校验产品移动,以改变所述支撑组件的所述端面相对于所述待校验产品的位置。
3.根据权利要求2所述的校验光台,其特征在于,所述支撑组件包括若干个支撑件,各所述支撑件可相对于所述第二光源组件移动,且所述支撑柱在所述第二光源组件靠近所述第一光源组件的一侧表面间隔分布。
4.根据权利要求3所述的校验光台,其特征在于,所述支撑件包括:
支撑杆;
包覆于所述支撑杆远离所述第二光源组件的一端端部的软质布件;及
填充于所述软质布件与所述支撑杆的端部之间的柔性填充物。
5.根据权利要求2所述的校验光台,其特征在于,所述支撑组件包括并列设置的至少两根支撑横杆以及设置于相邻的两根支撑横杆之间的至少两根支撑纵杆;其中,所述支撑横杆和所述支撑纵杆中的一者可相对于另一者滑动。
6.根据权利要求5所述的校验光台,其特征在于,相邻的两根所述支撑横杆均设置有沿所述支撑横杆的延伸长度方向延伸的第一滑轨,所述支撑纵杆的两端分别位于相邻的两根所述支撑横杆的所述第一滑轨内,以沿着所述第一滑轨滑动。
7.根据权利要求5所述的校验光台,其特征在于,相邻的两根支撑纵杆均设置有沿所述支撑纵杆的延伸长度方向延伸的第二滑轨,所述支撑横杆的两端分别位于相邻的两根所述支撑纵杆的所述第二滑轨内,以沿着所述第二滑轨滑动。
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【专利技术属性】
技术研发人员:胡鹏飞,李均,
申请(专利权)人:意力广州电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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