一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，它属于光学检测技术领域。本发明专利技术通过构造低损耗开放式光学谐振腔，利用腔衰荡法测量低损耗开放式谐振腔内有无待测激光器孔道管路不同情况下的腔损耗值差值，得到待测激光器孔道管路的光学衍射损耗绝对值。相比于现有测量方法，本发明专利技术具有测量结果可靠性高、流程简洁等优势，适合工程应用。本发明专利技术还提供了一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量装置。

【技术实现步骤摘要】
一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法及装置
本专利技术属于光学测量
，涉及一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法及装置，尤其涉及一种氦氖激光器光学谐振腔内不同形状孔道(光阑)及通光管路的衍射损耗测量方法及装置。
技术介绍
光学谐振腔作为一种重要的光学系统，在激光技术、光谱技术以及精密传感技术等领域有着广泛而重要的应用，其性能的优劣直接影响这些
的应用效果。例如，光学谐振腔作为激光器的重要组成部分，其主要作用是实现激光的正反馈和模式选择，其性能直接影响激光的方向性、单色性、相干性等特性。光学损耗作为光学谐振腔的一项重要性能参数，其精确测量一直是光学测量
研究的热点。光学谐振腔的损耗主要来自腔镜损耗(腔镜高反膜的透射、散射和吸收损耗)、腔内几何偏折损耗、腔内介质吸收散射损耗以及腔内孔道管路衍射损耗等方面。这些损耗项中的主要部分，如腔镜高反膜的损耗，其精确测量方法已有广泛深入的研究，产生了众多专用测量仪器(如分光光度仪、DF透反仪、腔损仪、积分散射仪、微分散射仪、热透镜吸收损耗测量仪等)和典型测量方法(如腔衰荡法)；但是，过去的研本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n第一步，构建一个与待测激光器光学谐振腔谐振模式参数相同的开放式光学谐振腔(1)，所述开放式光学谐振腔(1)包括两片或两片以上高反射率镜片；/n第二步，利用腔衰荡法测量所述开放式光学谐振腔(1)的损耗值δ

【技术特征摘要】
1.一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
第一步，构建一个与待测激光器光学谐振腔谐振模式参数相同的开放式光学谐振腔(1)，所述开放式光学谐振腔(1)包括两片或两片以上高反射率镜片；
第二步，利用腔衰荡法测量所述开放式光学谐振腔(1)的损耗值δ0；
第三步，将待测激光器孔道管路(5)同轴插入所述开放式光学谐振腔(1)的谐振光路上，利用腔衰荡法测量此时开放式光学谐振腔(1)的损耗值δm；
第四步，将第三步与第二步中测得的损耗值相减，得到待测激光器孔道管路(5)的衍射损耗值δd＝δm-δ0。


2.根据权利要求1所述的激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，其特征在于，所述开放式光学谐振腔(1)，其光阑直径大于等于待测激光器孔道管路(5)最细处直径的5倍，其衍射损耗理论值小于等于1ppm。


3.根据权利要求2所述的激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，其特征在于，所述开放式光学谐振腔(1)总损耗小于100ppm。


4.根据权利要求1-3任一项所述的激光器孔道管路光学衍射损耗测量方法，其特征在于，所述腔衰荡法采用腔衰荡测量系统(2)进行光学损耗测量，所述腔衰荡测量系统(2)包括激光器(2.1)、模式匹配镜组(2.2)、高速光开关(2.3)、高速光电探测器(2.4)、高速数据采集卡(2.5)以及信号控制处理系统(2.6)，
所述激光器(2.1)可在所述信号控制处理系统(2.6)的控制下实现连续调频输出激光；
所述模式匹配镜组(2.2)用于调整所述激光器(2.1)的输出激光入射到待测开放式光学谐振腔(1)内；
所述高速光开关(2.3)用于控制光路的快速通断；
所述高速光电探测器(2.4)用于接收谐振光信号，其设置在所述开放式光学谐振腔(1)的谐振输出光路上，其输出端连接所述高速数据采集卡(2.5)以及所述信号控制处理系统(2.6)的输入端；
所述信号控制处理系统(2.6)分别连线激光器(2.1)、高速光开关(2.3)和高速数据采集卡(2.5)，用于控制激光器(2.1)实现连续调频输出激光，控制高速光开关(2.3)和高速数据采集卡(2.5)使得光路关断过程与腔衰荡信号测量过程同步，并进行信号处理。


5.一种激光器孔道管路光学衍射损耗测量装置，其特征在于，包括开放式光学谐振腔(1)和腔衰荡测量系统(2)；
所述开放式光学谐振腔(1)包括两片或两...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭中奇，罗晖，张斌，刘贱平，吴素勇，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43