电子元器件测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种电子元器件测试夹具，包括活动板，其上形成两排等间距的贯穿长槽孔；导座，在一端面上形成凹入部，对应于活动板的贯穿长槽孔形成贯穿孔；电路板，位于定位板的下方，其上固定有多个簧片的一端，簧片另一端分别插入活动板的长槽孔内，与显示装置及电子电源呈电连接；多个簧片，其与电源的一极相接，每一簧片分别固定有一排针，与信号线一端上的排针座配对，信号线的另一端与一显示装置连接，完成四点接触测试。（*该技术在2006年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
电子元器件测试夹具本技术涉及一种电子元器件测试夹具，特别是指一种具有四点接触的测试夹触装置。在现有技术中，用于测试电子元器件特性的装置包括用以夹触待测物接线脚的电子元器件测试夹具，及与电子元器件测试夹具作电气连接的特性显示装置。其中，在夹触装置内设置多个以固定间距隔开的双排V形簧片。将待测物的接线脚插入所对应的V形簧片内，经由一动力装置将各V形簧片同时压迫以夹触住插入其内的待测物接线脚后，即可在对应的特性显示装置上显示待测物的阻抗数据。由于使用V形簧片，夹触待测物接线脚所进行的测试为二点接触测试。如图1所示，已知二端点测量方法，其Zm=emiL(ZS1+ZS2)]]>因杂散电感(ZS1，ZS2)会随着频率的改变而变化，故所测量的结果影响了待测物3阻抗值(Zm)的正确性。此外，由于在制造元器件的过程中，接线脚常粘着有松香、漆，造成接线脚被绝缘，从而影响了测试的结果。尤其是，现有的电子元器件测试夹具，由于V形簧片是以焊接在簧片上的信号线与显示装置形成永久连接，如果所测试的待测物尺寸改变，则电子元器件测试夹具将不能使用，必须换装另一对应规格的电子元器件测试夹具，以上均为现有技术中测试电子元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元器件测试夹具，包括：一盖板（５），固定在导座（６）上，用以盖住活动板（７），在对应于活动板的两排长槽孔（７０１，７０２）处也有两排长槽孔（５０１，５０２）；一活动板（７），其上形成两排等间距的贯穿长槽孔（７０１，７０２）； 一导座（６），在其端面上形成一凹入部（６０２），用以引导活动板（７）可在此凹入部内作左、右移动，在凹入部内对应于活动板的两排贯穿长槽孔范围内，形成贯穿孔（６０１）；一定位板（８），固定在导座（６）的底面，对应于电路板（９）设有与簧片 水平断面积相当的细槽孔（８０１）；一电路板（９），位于定位板（８）的下方，其上固定有多个簧片的一端，每个...

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试夹具，包括：一盖板(5)，固定在导座(6)上，用以盖住活动板(7)，在对应于活动板的两排长槽孔(701，702)处也有两排长槽孔(501，502)；一活动板(7)，其上形成两排等间距的贯穿长槽孔(701，702)；一导座(6)，在其端面上形成一凹入部(602)，用以引导活动板(7)可在此凹入部内作左、右移动，在凹入部内对应于活动板的两排贯穿长槽孔范围内，形成贯穿孔(601)；一定位板(8)，固定在导座(6)的底面，对应于电路板(9)设有与簧片水平断面积相当的细槽孔(801)；一电路板(9)，位于定位板(8)的下方，其上固定有多个簧片的一端，每个簧片的另一端自导座(6)的贯穿孔分别插入活动板(7)的对应长槽孔内分别与显示装置及测试电源形成电连接；其特征在于还包括：一多个簧片(10)、多个排针(11)及对应的排针座(12)，在活动板的每一长槽孔内各包含一对隔开的簧片(10)，其中一簧片与测试电源的一极相接，而位于另一长槽孔内的一簧片与测试电源的另一极相接，及每一簧片分别固定有一排针(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志文，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]