电子物件的测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子物件的测试探针，该电子物件的测试探针包括：探针座，探针等部分，所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针，各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端，各探针的另一端可电连接到相关测试仪器，当该探针的探测端随探针座滑移与待测物件的测试点接触时，利用上述斜向延伸的探针受力产生的自体弹性弯曲变形，使探测端保持弹性完全接触。本实用新型专利技术可测试间距微小的待测物件。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电子物件的测试探针，特别是指一种具有较细组成外径，能有效缩小排列中心距形成密集组合的探针。
技术介绍
如附图说明图1所示，一探针座43上设有复数密集排列的孔，可供容器夹持复数探针套管41，各探针套管41内有一弹簧，顶探针4由该探针套管41一端向外凸伸，该探针套管41的另一端分别经由测试讯号线42衔接测试仪，使用时该探针座43相对于待测物件3移动，可使各探针4与待测物件3上预设的各测试点接触，该探针套管41内的弹性元件使探针4形成一伸缩弹性，使各探针4都可与待测物件3上各测试点接触，达到完整测试。其缺点如下由于各探针4套和一探针套管41内，该探针套管内另放有一弹性元件，其整体组合后外径大，难以满足微型电子产品的待测试点距精密细小的要求，待测物件3难以进行小巧化设计，组装不便，成本较高。结构强度较差，易发生弹力不足造成检测接触不确实。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种电子物件的测试探针，该测试探针具有较细组成外径，能有效缩小排列中心距形成密集组合。为解决上述技术问题，本技术的测试探针结构包括探针座，探针等部分，所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子物件的测试探针，其特征在于：至少包括一探针座，该探针座的一端设有一探针的探测端，所述探针相对测试位移路径呈斜角方向延伸；探针的另一端连接测试讯号线，与相关测试仪器结合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志岳，
申请(专利权)人：晋恒股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]