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电子物件的测试探针制造技术
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文档序号:2644768
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本实用新型公开了一种电子物件的测试探针,该电子物件的测试探针包括:探针座,探针等部分,所述探针座一端设有与测试位移路径呈斜角对应延伸的刚性单柱型探针,各探针的一端朝待测物件斜向凸伸成探测端,各探针的另一端可电连接到相关测试仪器,当该探针的探...
该专利属于晋恒股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过晋恒股份有限公司授权不得商用。
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