【技术实现步骤摘要】
一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装及制造工艺
本专利技术属于单层陶瓷电容器制造领域,具体为一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装及制造工艺。
技术介绍
单层陶瓷电容器产品是在陶瓷基片上进行金属化,形成两侧电极,因此陶瓷基片是单层电容器的基础,决定了产品的性能容值、损耗、绝缘、温度系数等等、结合力、合格率,单层电容器行业发展迅速,趋势为向超薄、超小尺寸发展,终端需求现在已经要求成品厚度低至0.1mm,并且精度要求在±2um,否则产品的容值就会超差,因为瓷片材料脆性很大,厚度低于0.15mm就极易碎片,因此100um厚度基片是当前各个单层制造商正在攻克的难题。现有的研磨工艺主要为双面研磨和单面研磨,但是双面研磨因治具原因,极限厚度在0.15mm左右,远远达不到0.1mm的厚度要求,且碎片率非常高。单面一般研磨采用粘蜡,但是研磨速率和精度问题也无法满足0.1mm产品加工,并且残蜡去除是很难控制的,会极大地影响产品的结合力,因此,当前瓷片制作工艺在生产效率和合格率方面远远不能满足生产。
技术实现思路
为了 ...
【技术保护点】
1.一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,包括:透气钢(1)、密封圈(2)、凸台(3)、吸真空口(4),所述凸台(3)为四周封闭的中空结构,所述凸台(3)上表面开有若干用于放置基片(5)的区域,所述透气钢(1)设置在所述区域中,所述透气钢(1)四周设置所述密封圈(2),所述凸台(3)下表面设置所述吸真空口(4)。/n
【技术特征摘要】
1.一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,包括:透气钢(1)、密封圈(2)、凸台(3)、吸真空口(4),所述凸台(3)为四周封闭的中空结构,所述凸台(3)上表面开有若干用于放置基片(5)的区域,所述透气钢(1)设置在所述区域中,所述透气钢(1)四周设置所述密封圈(2),所述凸台(3)下表面设置所述吸真空口(4)。
2.如权利要求1所述的超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,所述密封圈(2)为橡胶圈。
3.如权利要求1所述的超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,所述区域的数量为8-10。
4.如权利要求1所述的超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,还包括吸真空管路和真空机,所述吸真空口(4)通过所述吸真空管路与所述真空机连接。
5.如权利要求3所述的超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装,其特征在于,所述区域沿所述凸台(3)边缘呈环形分布。
6.一种超薄单层陶瓷电容器基片制造工艺,其特征在于,步骤如下:
S1、双面研磨:采用一次性树脂游轮工装对产品进行预处理,使基片从0受力到全面受力均匀逐步进行,将烧结后基片表面的杂质、凹坑、凸起去除,...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘溪笔,刘云志,杨国兴,吴继伟,
申请(专利权)人:大连达利凯普科技股份公司,
类型:发明
国别省市:辽宁;21
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