测量电导线电容的装置制造方法及图纸

技术编号:2637614 阅读:287 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
测量电导线的电容的装置具有一第一和一第二测量管,两者均被连接到一高频率的电压源上。第一测量管具有一常规的长度,而第二测量管则很短。借用于第一测量管,可以以常规的方式测量导线的电容。第二测量管可以测量电容的局部变化。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量电导线电容的装置。在制造包含有一导体和一绝缘护套或保护层的电导线时,制造者得知导线或电缆的电容是很重要的。因为众所周知,电容影响到导线的电阻。GB2003613公开了一种测量导线电容的方法,其中提供一由导电材料制成的测量管,被测量的导线从该测量管中穿过。最好,测量管位于一冷却通道内,其内充满水。将高频率的测量电压施加到测量管上,而将导体接地。由此,电流在测量管和导体之间流动,电流的大小取决于绝缘材料的介电常数和其厚度。EP0679863中使用上述的测量原理来测量绝缘套内的导线导体的偏心位移。为实现该目的,围绕导线的圆周布置三个弧形的电极块。这些电极块沿圆周间隔布置并且彼此相互电绝缘。每一个电极块或电极都通有高频率的测量电压。流入各个电极块的电流能够测量出电极块区域内的绝缘套的厚度。如果流入各个电极块的电流各不相同,则表明导体在导线的绝缘套中的布置不是同心布置。当电导线尤其在高频率的电压例如2千兆赫下使用时,沿导线长度的电容的局部变化也是很重要的。这样的变化可能是由导线的不均匀结构引起的,或者也可能是由厚度的变化导致的。这样的变化会引起不良的电磁波反射。本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量包括有一内部导体和一绝缘保护层的电导线电容的装置,该装置包括至少一个第一测量管,该第一测量管由导电材料制成,能够与一高频率的测量电压源相连,移动该导线通过所述第一测量管,至少一第二测量管与所述第一测量管同轴布置,其长度大大小于所述第一测量管的长度,并且也能够与所述电压源相连,一屏蔽管在与所述测量管相距一定径向距离处围绕所述测量管,并且也能够与所述电压源相连,在所述导线和所述测量管之间有水,第一电容测量装置测量所述第一测量管有时以及所述第二测量管与所述导体之间的电容,而第二电容测量装置测量所述第二测量管与所述导体之间的电容。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:哈拉尔德斯考拉
申请(专利权)人:斯考拉电子工业有限公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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