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电容测量制造技术

技术编号:2636761 阅读:169 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种测量电容的装置和方法,其中已知值的电荷包被提供给未知值的电容器,直到确定最终电压,并根据已知的总电荷和测量的电压计算所述电容。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及电容测量,尤其涉及这样一种电容测量,其中通过对未知值的电容器提供已知值的电荷包,直到确定最终电压,然后根据已知的总电荷和测量的电压计算电容。
技术介绍
电容测量是测量仪器例如数字万用表的一个重要特征。被转让给Fluke公司的美国专利5073757和5136251披露了一种测量小电容和大电容的方法,其中使未知值的电容器在其RC速率下完全充电到一个参考电压,与此同时,在双斜率积分模数转换器(ADC)的存储电容器上积累与充电电流成比例的电流。小电容可以在ADC的一个积分周期内完全充电,而大电容则需要几个积分周期才能完全充电。在两种情况下,在积分ADC的存储电容器上存储的成比例的电荷在由存储的电荷的数量表示的时间间隔内在“去积分”周期期间被除去,并且测量所述的时间,从而给出电容值的指示。
技术介绍
这些现有技术的电容测量技术是不满意的,这是由于其过长的测量时间,因为必须等待未知值的电容器被完全充电,从而导致提出了一种在1999,3,12申请的序列号为09/267504的待批美国专利中披露的一种电容测量系统,其中使用恒流源产生被测电容器上的线性斜率电压。这使得能够测量微分电压(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量电容的方法,包括以下步骤: 至少部分地放电所述电容器并测量其上的电压以便获得初始电压; 提供一个或几个预定的电荷包以便在所述电容器上积累总电荷,从而在所述电容器上产生超过一个预定的最小电压的最终电压;以及 通过从所述最终电压减去所述初始电压而获得一个差值电压,并用所述差值电压除所述电容器上的所述总的积累电荷来计算所述电容。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:JM伦德小B恩
申请(专利权)人:弗兰克公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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