一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统及测试方法技术方案

本发明专利技术属于半导体集成电路领域，尤其涉及一种集成电路产品的老化测试系统及方法。本发明专利技术的目的是提供一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统，包括AC‑DC模块、内部控制模块、DC‑DC可调模块、散热系统、过压过流保护系统和外部控制模块。其中，内部控制模块还包括：模数转换器ADC模块、开关控制器、数模转换器DAC模块、微控制单元MCU模块和监测及保护模块。通过微控制单元MCU来控制，模数转换器ADC模块、开关控制器、数模转换器DAC模块和监测及保护模块，实现单路可调可控的电源输出。本发明专利技术的优点是，实现远程对老化电路板上的每路电压，进行独立地可编程控制；对每路电流进行限制；对每路电压和电流进行监控和数据记录，且可以及时报警并定位到异常工位。

【技术实现步骤摘要】
一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统及测试方法
本专利技术属于半导体集成电路领域，尤其涉及到一种集成电路产品的老化测试系统及方法。
技术介绍
随着经济的发展，对电子产品质量要求越来越高。产品质量的高低，体现了企业核心竞争力的强弱。因此，提高产品质量，有利于企业品牌的创造和维持；提高产品质量，也是企业做大做强的重中之重。电子产品的国产化和小型化，以及电子产品的高性能和高可靠性，是我国经济发展的需要。因此，半导体芯片是电子产品的核心组件，也是市场对其质量和高可靠性提出的更高要求。半导体芯片（简称“芯片”）的质量，就是产品性能的体现，其必须符合SPEC的规格要求，所述SPEC（StandardPerformanceEvaluationCorporation的缩写）即标准性能评估组织，是一个全球性的第三方非营利性组织；其致力于建立、维护和认证一套应用于计算机的标准化基准评测套件，SPEC组织开发基准测试套件并经过检验，然后在SPEC网站上公开测试结果；它反映了各项性能指标是否合格的问题。芯片的可靠性检测，就是对芯片产品耐久力的测量，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统，其特征在于：包括AC-DC模块、内部控制模块、DC-DC可调模块、散热系统、过压过流保护系统和外部控制模块；/nAC-DC模块：所述AC-DC模块将220V交流电进行转换，为后级的DC-DC可调模块提供稳定的直流电压；/n内部控制模块：所述内部控制模块实现内部各路电压控制电路的平衡和微调，各路电压的可编程、实时监控、远程数据传输；/nDC-DC可调模块：所述DC-DC可调模块实现各单路输出电压0～30V，电流0～3A可调，满足大部分集成电路芯片老化测试试验应用；/n散热系统：所述散热系统确保设备内所有模块，在适当的温度范围内进行工作，防止温度过高，...

【技术特征摘要】
1.一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统，其特征在于：包括AC-DC模块、内部控制模块、DC-DC可调模块、散热系统、过压过流保护系统和外部控制模块；
AC-DC模块：所述AC-DC模块将220V交流电进行转换，为后级的DC-DC可调模块提供稳定的直流电压；
内部控制模块：所述内部控制模块实现内部各路电压控制电路的平衡和微调，各路电压的可编程、实时监控、远程数据传输；
DC-DC可调模块：所述DC-DC可调模块实现各单路输出电压0～30V，电流0～3A可调，满足大部分集成电路芯片老化测试试验应用；
散热系统：所述散热系统确保设备内所有模块，在适当的温度范围内进行工作，防止温度过高，引起设备参数退化或异常；
过压过流保护系统：所述过压过流保护系统通过检测多路可实时监控电源系统的电压、电流的大小，实现对该系统的电路中，电压和电流的监控；当系统的电压或电流值超过某个指定范围时，通过切断电路，实现对系统电路元件和线路的保护；
外部控制模块：所述外部控制模块对N路DC-DC可调模块输出电压及电流进行实时监控，并记录数据；
其中，所述内部控制模块还包括：N路模数转换器ADC模块、开关控制器、N路数模转换器DAC模块、微控制单元MCU模块及监测及保护模块；
模数转换器ADC模块，所述模数转换器ADC模块有两种工作模式，分别为输出模式和校准模式；
数模转换器DAC模块，所述数模转换器DAC模块输出0V-30V的任意值的电压,作为老化测试某路的电源；
开关控制器，所述开关控制器控制校准模式和输出模式的切换，及控制电源输出端口的打开或关闭；
微控制单元MCU模块，所述微控制单元MCU模块用于以下功能：
1.命令开关控制器的模式切换，打开或关闭电源输出端口；
2.控制数模转换器DAC模块输出的电压值0V-30V和限制输出的最大电流值；
3.控制数模转换器DAC模块，将输出的模拟信号反...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱笑鶤，郑彦磊，
申请(专利权)人：上海鑫匀源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31