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本发明属于半导体集成电路领域，尤其涉及一种集成电路产品的老化测试系统及方法。本发明的目的是提供一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统，包括AC‑DC模块、内部控制模块、DC‑DC可调模块、散热系统、过压过流保护系统和外部控制模块。其中，内...
该专利属于上海鑫匀源科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海鑫匀源科技有限公司授权不得商用。

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