【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及制造用于测量方位(或方位角)的磁性传感器的方法。本专利技术还涉及在磁性传感器中使用的引线框。
技术介绍
通常,磁性传感器用于检测磁性,目的是测量关于所施加的外部磁场的方位。图83示出了传统上已知的磁性传感器单元64,其中,磁性传感器51和61布置在板(或基板)63的表面63a上。该磁性传感器单元64能以三维方式测量外部磁场的方位。具体地说,磁性传感器51包括在两个方向上对外部磁场的分量敏感的磁性传感器芯片52,其中,提供了两个敏感方向(即,X轴方向和Y轴方向),这两个方向在板63的表面63a上相互垂直。磁性传感器61包括只在一个方向上对外部磁场的分量敏感的磁性传感器芯片62,其中,敏感方向在与板63的表面63a垂直的方向(即,Z轴方向)上。根据检测由磁性传感器芯片52和62测量的三个方向的磁性分量,确定外部磁场的方位作为三维空间中的向量。如上所述,传统上已知的磁性传感器单元64分别为磁性传感器51和61提供了磁性传感器芯片52和62。因而,在磁性传感器单元64的制造中,需要分别生产磁性传感器51和61,并把它们以各自的位置布置在板63的表面63a ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:足立浩司,齐藤博,白坂健一,佐藤秀树,大村昌良,
申请(专利权)人:雅马哈株式会社,
类型:发明
国别省市:
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