电磁波测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:2635633 阅读:163 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
电磁波测量装置具有环形探头(11a~11c),这些探头配置成环形平面相互垂直,而且各自的磁场检测空间没有其它环形探头的干扰。配置在测量位置坐标(x↓[i],y↓[j])上时,检测出与测量位置坐标(x↓[i],y↓[j])的XY平面平行的磁场分量和测量位置坐标(x↓[i],y↓[j-1])的Z轴方向的磁场分量,并且在+Y轴方向每一间距重复测量。通过每一测量位置坐标对这些检测结果进行平方相加后取平均,能运算每一测量位置坐标的3维磁场电平,从而可对被测量物(HP)运算高精度的邻近电磁场分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量电子部件辐射的电磁波的,尤其涉及测量对便携电话等便携无线设备辐射的电磁波的邻近电磁场分布的。
技术介绍
近年来,便携电话等便携无线设备以世界规模快速普及。另一方面,对来自贴近人体使用的便携无线设备的辐射电磁场的暴露,正在采用以生物保护为背景的电磁波管理。以往,作为测量所述便携无线设备等电子设备辐射的邻近电磁场分布的装置,已经知道并行检测型的。例如,特开平9-304456号公报揭示的并行检测型装置对被测量物将多个微小环形元件配置成列状,并设置与这些元件对应的多个电平检测部,一次存储并处理各微小环形元件检测出的信号。这种已有的装置通过在规定的方向移动多个微小环形元件,能对被测量物辐射的电磁波测量其邻近电磁场的平面分布。又例如日本专利第3163016号公报揭示的并行检测型装置把对电子电路板等被测量物配置成八字形的多个环形元件配置成表状。这种已有装置通过使这些配置成八字形的多个环形元件移动,可对被测量物辐射的电磁波测量其邻近电磁场的平面分布。此外,作为测量所述电子设备辐射的邻近电磁场分布的装置,还知道按序选择型的。所述按序选择型装置例如将多个微小环形元件平面配置成栅状,并且用开关二极管等依次选择这些元件,处理各微小环形元件检测出的信号。这些已有的邻近电磁场分布测量装置一般将测量电子电路板等平面被测量物辐射的1GHz左右以下的频率的低电平2维邻近电磁场作为主要目的。例如被测量物为便携电话等包含3维且具有高频带(例如2GHz)的电磁波发生源时,辐射的电磁波是3维的,邻近电磁场分布也为3维。然而,上述已有的邻近电磁场分布测量装置,其各种类型设置的多个微小环形元件均为2维配置,不能检测原本3维的电磁场分布,测量精度低。而且,上述按序选择型装置为了依次选择并处理以2维方式配置成栅状的各微小环形元件,需要很多扫描时间。还存在因开关二极管端子间的电容和传输线路频率特性的影响而高频(例如2GHz)灵敏度特性和微小环形元件之间的绝缘变差的课题。上述并行检测型装置一次并行处理多个微小环形元件的信号,具有能缩短扫描时间的优点,但每一微小环形元件都需要检测部,因而成本高。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的是提供3维且高精度测量便携电话等便携无线设备辐射的邻近电磁场分布的。为了达到上述目的,本专利技术具有以下的特征。本专利技术的电磁波测量装置具有电磁探测部、载物台部、驱动部、电磁波电平产生部和运算处理部。电磁探测部至少包含第1至第3环形探头。第1环形探头形成第1环形面。第2环形探头形成对该第1环形面垂直的第2环形面。第3环形探头形成对这些第1和第2环形面垂直的第3环形面。载物台部承载被测量物,并使该被测量物配置在电磁探测部的下部。驱动部使电磁探测部与载物台部相对移动。电磁波电平产生部至少构成第1至第3产生部。第1至第3产生部从第1至第3环形探头分别检测出感应电信号,并产生表示分别垂直于第1至第3环形面的电磁波的强度的第1至第3电磁场电平信息。运算处理部根据电磁波电平产生部产生的第1至第3电磁场电平信息,运算表示3维电磁波强度的3维电磁场电平信息。根据上述本专利技术的组成,使用第1至第3环形探头可在相互垂直的3个方向的环形面检测原本3维的电磁场分别,并能通过运算3维的电磁场电平对被测量物运算高精度的电磁场分布。可配置第1和第2环形探头,使其第1和第2环的中心对与承载被测量物的所述载物台的台面平行的第1方向,相互隔开规定的间距,而且所述第1和第2环形面对该中心的连接线段形成45度,并对被测量物形成垂直。也可将所述第3环形探头往对第1方向垂直、对被测量物平行的第2方向配置成平行于被测量物,使所述第1和第2环中心连接线段的中点到第3环的中心隔开间距,而且配置在所述第1和第2环形探头的磁场检测空间外。由此,多个环形探头形成为相互使环形面垂直,同时配置得各自的磁场检测空间没有其它环形探头的干扰,因而能将相邻环形探头的耦合抑止到最小。根据第1~第3环形探头的相互配置关系调整,驱动部的移动间距,以此能高效地测量电磁波分布。所述电磁探测部还可合为一体地保持第4至第8环形探头。第4环形探头形成与第3环形面平行的第4环形面而且该第4环的中心配置在从所述中点往与所述第3环形探头配置处相反的所述第2方向隔开间距、往所述第1方向隔开间距的位置上。将所述第1至第4环形探头作为一对,则第5至第8环形探头为另一对,其中分别以相同的配置形成与所述第1至第4环形面平行的第5至第8环形面,并且分别配置成从第1至第4环形探头往所述第1方向隔开间距的4倍的距离。这种情况下,电磁波电平产生部还构成第4至第8产生部,分别检测出第4至第8环形探头中检测到的感应电信号并且产生表示分别垂直于所述第4至第8环形面的电磁波的强度的第4至第8电磁场电平信息。由此,对被测量物的电磁波测量范围在第1方向扩大,能根据表示电磁波分布的位置坐标选择适当的电磁场电平信息。而且,由于第1至第4环形探头与第5至第8环形探头的间隔大,可确保相互绝缘。电磁探测部还可合为一体地保持第9环形探头,该探头形成与第5环形面平行的第9环形面,而且该第9环的中心配置成从第5环的中心往与所述第6环形探头的配置处相同的第1方向隔开间距的4倍的距离。这种情况下,电磁波电平产生部构成第9产生部,分别检测出第9环形探头中检测的感应电信号并生成表示垂直于所述第9环形面的电磁波的强度的第9电磁场电平信息。以此,利用一次往返移动,就能对第1方向设置的全部8个测量位置坐标运算电磁场分布。而且,由于能用9个环形探头的测量实现这种3维且大范围的邻近电磁场分布,能使装置的组成简化,可谋求降低成本。电磁探测部还合为一体地保持第1和第2空环形探头群,该探头群具有与第1至第4环形探头相同的配置关系和结构,配置成往第1方向与第1至第4环形探头隔开间距的2倍和6倍的距离,并且分别未连接其它部件。由此,能改善环形探头接收特性中电磁场耦合的对称性。例如,第1至第9环形探头各自的环形圆弧的大致一半构成馈电点。这时,将第1、第2、第5、第6和第9环形探头配置成分别对第2方向使所述馈电点在同一侧相对。将第3和第7环形探头与第4和第8环形探头配置成分别在相反的方向使所述馈电点相对。由此,利用两次往返移动,对具有屏蔽结构的环形探头中取得的数据进行平均,则抵消这些环形探头具有的非对称性,几乎不受电场的影响,能测量精度更高的磁场分布。由于此测量用的第1方向的移动距离短,能实现驱动系统的装置小型化。例如,第1至第9环形探头分别通过连接电磁波电平产生部的同轴管的一部分形成环形圆弧的大致一半的一方,构成馈电点,环形圆弧的大致一半的另一方则用铜线构成,该同轴管与铜线的一端之间仅用该同轴管的芯线连接。本专利技术能与上述电磁波测量装置相同地实现电磁波测量方法,作为该装置的方法。此电磁波测量方法中,可在运算上述3维电磁场电平信息的运算步骤分别对第1至第3电磁场电平信息进行均方运算,从而运算该3维电磁场电平信息。由此,可用在相互垂直的3个方向的环形面中检测出的感应电信号适当且方便地运算3维电磁场电平。参照附图,从下面的详细说明会进一步明白本专利技术的这些和其它目的、特征、专利技术点、效果。附图说明图1是示出本专利技术实施例1~3的电磁波测量装置的概略组成的立体图;图2是说明对图1的被测量物本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种电磁波测量装置,其特征在于,具有    合为一体地至少保持形成第1环形面的第1环形探头和形成对该第1环形面垂直的第2环形面的第2环形探头以及形成对该第1和第2环形面垂直的第3环形面的第3环形探头的电磁探测部、    承载被测量物并且使该被测量物配置在所述电磁探测部的下部的载物台部、    使所述电磁探测部与所述载物台部相对移动的驱动部、    构成至少分别从所述第1至第3环形探头检测感应电信号并分别产生表示垂直于所述第1至第3环形面的电磁波的强度的第1至第3电磁场电平信息的电磁波电平产生部、以及    根据所述电磁波电平产生部产生的各所述电磁场电平信息运算表示3维电磁波强度的3维电磁场电平信息的运算处理部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:梶原正一尾崎晃弘小川晃一小柳芳雄浅山叔孝斋藤裕
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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