一种检查装置，其特征为，它具有： 大小至少是电路基板的检查对象导电图形的配置间距宽度以下的检查信号供给端子； 使所述检查信号供给端子横切检查对象导电图形的检查位置而顺序地扫描的扫描装置； 大小至少是所述检查对象导电图形的配置间距的三个间距宽度以上的检测器部； 信号处理装置，在将所述检测器部配置在所述电路基板的所述检查对象导电图形的背面位置的至少是所述检查信号供给端子位置背面处的状态下，将检查信号送至所述扫描装置扫描的所述检查信号供给端子；同时检测由所述检测器部发出的信号；和 根据所述信号处理装置检测的信号电平与正常状态时的信号电平是否不同而判断送入检查信号的导电图形是否短路的判断装置。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检查电路基板图形的短路的。
技术介绍
在制造电路基板时，在电路基板上形成导电图形，有必要检查在所形成的导电图形中有没有断线或短路。以前，作为导电图形的检查方法，已知有接触式的检查方法，即通过使引线与导电图形的两端接触，从一端的引线将电信号输送给导电图形，而从另一端的引线接收该电信号，从而进行导电图形的导通测试。电信号的供电是通过将金属探针立在全部端子上，由此使电流流过导电图形来进行的。然而，近年来，由于导电图形的高密度化，使连接用的线路间距很细密，该间距可低于50微米。由窄间距的多个探针构成的探针板制造成本高。同时，对于每一个不同的线路图形(每一个检查对象)，必需根据线路图形来制造探针板。因此，成本高，这成为降低电子部件成本的大的障碍。另外，微细结构的探针板脆弱，实际使用时常常需要考虑破损的危险性。
技术实现思路
本专利技术是为了解决先前技术的上述问题而提出的，其目的是要提供能以简单的结构检测精细的线路图形，而且可与线路图形的变更对应的。为了达到这个目的，本专利技术的检查装置的第一个特征具有下列结构。即其特征为，具有大小至少是电路基板的检查对象导电图形的配置间距宽度以下的检查信号供给端子；使上述检查信号供给端子横切检查对象导电图形的检查位置而顺序地扫描的扫描装置；大小至少是上述检查对象导电图形的配置间距的三个间距宽度以上的检测器部；信号处理装置，在将上述检测器部配置在上述电路基板的上述检查对象导电图形的背面位置的至少是上述检查信号供给端子位置背面处的状态下，将检查信号送至上述扫描装置扫描的上述检查信号供给端子，同时检测由上述检测器发出的信号；和根据上述信号处理装置检测的信号电平与正常状态时的信号电平是否不同而判断送入检查信号的导电图形是否短路的判断装置。另外，在本专利技术的检查装置的第二个特征中，特征为，上述检测器部为具有检查对象导电图形的检查对象位置相反面的整个表面大小的电极，在将上述检查对象导电图形作为对应电极，而固定地配置在电容耦合位置处的状态下，检测来自上述检查对象导电图形的信号。本专利技术的检查装置的第三个特征中，特征为，上述判断装置，与上述检查对象导电图形单个时的上述检测器部的检测信号电平比较，在检测信号电平高时，判断该检查对象导电图形与相邻的线路图形短路。另外，作为本专利技术的第四个特征，是检查方法，一种检查装置的检查方法，该检查装置具有大小至少是电路基板的检查对象导电图形的配置间距宽度以下的检查信号供给端子；大小至少是上述检查对象的导电图形的配置间距的三个间距宽度以上的检测器部；其特征为，上述检测器部配置在上述电路基板的上述检查对象导电图形的背面位置的至少是上述检查信号供给端子的位置背面处，使上述检查信号供给端子横切检查对象导电图形的检查位置，依次进行扫描，将检查信号送至上述检查信号供给端子，检测上述检测器发出的信号，根据检测信号电平与正常状态时的信号电平是否不同，判断上述送入检查信号的导电图形是否短路。作为本专利技术的第五个特征，是检查方法，特征为，上述检测器部为具有检查对象导电图形的检查对象位置相反面的整个表面大小的电极，在将上述检查对象导电图形作为对应电极，而固定地配置在电容耦合位置处的状态下，检测来自上述检查对象导电图形的信号。另外，作为本专利技术的第六个特征，是检查方法，特征为，上述送入检查信号的导电图形是否短路的判断是如下的判断与上述检查对象导电图形单个时的上述检测器部的检测信号电平比较，在检测信号电平高时，判断该检查对象导电图形与相邻的线路图形短路。附图说明图1为说明本专利技术的检查装置的优选实施例的检查原理的图。图2为用于说明本专利技术的检查装置的优选实施例的检查结果例子的图。图3为本专利技术的检查装置的优选实施例的检查装置的等价电路图。图4为说明本专利技术的检查装置的具体结构的方框图。图5为用于说明本专利技术的检查装置的检查方法的优选实施例的步骤的流程图。图6为表示本专利技术的检查装置中左侧连接端子部处有短路时的检查例子的图。图7为表示本专利技术的检查装置的中央部连接端子部处有短路时的检查例子的图。具体实施例方式以下，参照附图，来详细说明本专利技术的的优选实施例的结构和步骤。另外，本专利技术并不限于以下说明的结构元件的相对配置、数值等，特别是，如果没有特定的说明，将不构成对本专利技术范围的限定。作为本专利技术的检查装置的优选实施例，对检查液晶显示板的线路图形的短路的检查装置进行说明。首先，参照图1-图3，来说明本专利技术的导电图形的检查方法的原理。图1为说明检查原理的图，图2为说明检查结果例子的图，图3为用于说明检查装置原理的等价电路图。在图1中，参考标号10表示检查对象基板，在该优选实施例中，以各个线路图形具有大致相同的图形形状的液晶显示板作为对象。在以下的说明中，以检查移动电话的显示器用的显示板的情况作为具体例子来进行说明。标号11表示下侧玻璃基板，12表示上侧玻璃基板，在各自接合面上形成有线路图形。通过将上侧玻璃基板12和下侧玻璃基板11贴合，形成液晶板10。另外，图1的下部表示在将上侧玻璃基板12和下侧玻璃基板11贴合后的状态下的液晶板10。这里，为了说明简单，下部的液晶板10上只表示了少数的线路图形15，实际上以微细的间距配置了几十个或其以上的连接端子。标号20表示作为覆盖显示板的线路图形端部连接端子部背面的近似整个表面大小的、例如长方形的电极板的检测器部。该检测器部在线路图形不在背面露出的情况下，保持与检查对象基板10的背面密切相接的状态。因此，在将电力供给任何一个线路图形15的情况下，在与供给电力的线路图形15之间，通过玻璃，成为电容耦合状态。标号25为放大检测器部20的检测信号的放大部(放大器)，标号26为显示检测结果的装置。标号30表示直径比线路图形的间距充分小的检查信号供给端子(探针)，该端子按照前端部例如有挠性、前端部只与任何一个线路图形接触的方式构成。因此，可从接触部将检查用信号送至线路图形。在这个优选实施例中，从检查对象图形的连接端子的一端至另一端，按照依次横切连接端子部的方式，例如按箭头A的方向扫描，依次将来自供给检查信号的供给部(交流信号发生部)35的检查信号供给连接端子。这样，将来自交流电源35的交流检查信号送至检查信号供给端子(探针)30，通过以供给检查信号的导电图形15作为一个电极和检测器部20作为另一个电极，形成电容耦合。再利用放大器25放大从检测器部20发出的检测信号，调查检查信号。现参照图2来说明检查信号的检测器部20的检测例。当将检查信号送至线路图形时，通过由检查信号供给线路图形的一个的宽度、相隔基板10、和位于基板10背面的检测器部20的与检查信号供给线路图形15相对的部分所构成的静电电容，将交流电流送至放大器25。因此，从放大器25的输出端，输出给定的交流电压。该电压主要由检查信号供给线路图形的与检测器部20相对部位的面积确定。例如，如液晶板等那样，当相邻的线路图形全部以相同的间距配置时，和检测器部20的与检查信号供给线路图形15相对的部分所形成的静电电容大致相同。结果，在没有短路等情况下，如(A)所示，作为检测结果，对各个线路图形得到大致相同电平的信号。另一方面，如图2所示，在线路图形的一部分有短路的情况下，变成如下的状态交流检查信号不但送至供给了交流检查信号的检查信号本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：山冈秀嗣，石冈圣悟，
申请(专利权)人：OHT株式会社，
类型：发明
国别省市：
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