一种能测试各类电器遥控器功能的方法和装置制造方法及图纸

一种能测试各类电器遥控器功能的装置，其特征在于：它包括遥控接收模块、信号处理装置及外部存储器电路，该遥控接收模块把接收到的遥控信号经过解调输出的指令码输入到信号处理装置，外部存储器与信号处理装置进行数据交换，其存储至少一种机型的遥控器的指令码及该遥控器的按键合格标志位，信号处理装置存储待测遥控器的按键合格标志位，并与外部存储器存储的对应机型的按键合格标志位进行比较，通过比较该两按键合格标志位是否相同来判断待测遥控器是否合格。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电器测试的装置和方法，尤其是一种能测试各类电器遥控器功能的方法和装置。
技术介绍
目前电子行业在生产遥控器时，电视机遥控器的测试使用对应型号的电视机作为测试设备，VCD机遥控器的测试使用对应型号的VCD机作为测试设备，什么电器的遥控器就使用与之相配的电器测试，每个键在测试设备上反映正常，则遥控器即为测试合格。然而，该现有技术存在如下缺点！)使用与遥控器相对应的电器作为测试设备成本较贵，一种遥控器对应一种测试设备；2)按遥控器按间时电器的反映速度往往较慢，降低了测试速度；3)电器在按按键后显示的界面往往不适合用于测试，这样在测试人员疲劳的情况下容易引起误测。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供能测试多种机型的遥控器且成本低的一种测试各类电器遥控器功能的方法和装置。本专利技术的目的是这样实现的该一种能测试各类电器遥控器功能的装置，包括遥控接收模块、信号处理装置及外部存储器电路，该遥控接收模块把接收到的遥控信号经过解调输出的指令码输入到信号处理装置，外部存储器与信号处理装置进行数据交换，其存储至少一种机型的遥控器的指令码及该遥控器的按键合格标志位，信号处理装置存储待测遥控器的按键合格标志位，并与外部存储器存储的对应机型的按键合格标志位进行比较，通过比较该两按键合格标志位是否相同来判断待测遥控器是否合格。还包括与信号处理装置连接的显示装置，其用以直观显示测试结果，该显示装置包括机型序号显示电路及遥控器按键序号显示电路。该一种能测试各类电器遥控器功能的方法在于它通过比较内存与外存上的按键合格标志位是否相同来判断待测遥控器是否合格。与现有技术相比，本专利技术具有如下优点1)该专利技术能测试多种机型的遥控器，具有通用性，所以降低了成本，而新的遥控器只要通过存储各个键的指令码即可进行测试；2)因为采用电路进行相关测试，避免了因现有电器反应速度慢的问题，从而提高了检测效率；3)通过显示装置的设置，使检测结果更容易直观得到，从而降低了误测率。附图说明图1是本专利技术的测试模式流程图。图2是本专利技术的学习模式流程图。图3是本专利技术一种实施方式的内存按键合格标志位的示意图。图4是本专利技术一种实施方式的外存按键合格标志位的示意图。图5是本专利技术的电路原理框图。图6是本专利技术一种能测试各类电器遥控器功能的装置的面板示意图。图7是本专利技术的电路原理图。具体实施方式请结合参阅图6及图7，本专利技术一种能测试各类电器遥控器功能的方法和装置，它包括指示灯显示电路1、键盘模块3、单片机IC1、遥控接收模块2、单片机振荡电路4、机型序号显示电路1、遥控器序号显示电路8及外部存储器电路6。指示灯显示电路1包括模式指示灯LED1及合格指示灯LED2，当IC1的P10脚输出高电平，经Q1组成的射随器(提高带负载能力)，使指示灯LED1亮，反之，P10脚输出低电平，指示灯LED1暗。合格指示灯LED2的电路原理与上同。键盘模块3包括功能选择键电路，分别为SW1“模式”键电路，SW2“机型选择”键电路，SW3“重新测试”键电路，每个键的电路形式一样，下面以SW1键电路为例，当SW1被按下闭合，则单片机IC1的P15脚输入低电平，如果SW1键松开，则由于R6阻值较小，5V电压经电阻R6输入到IC1的P15脚。遥控接收模块2中R5、C1组成电源去耦电路，该模块的任务是把接收到的遥控器的红外遥控信号经过解调、整形输出的串行遥控指令码从单片机IC1的P16脚输入，IC1单片机再对该指令码进行分析。单片机振荡电路4使用8M晶振。单片机复位电路5为上电瞬间低电平复位，而后5V通过R9电压对C4充电，IC1的RESET脚变为高电平。外部存储器电路6是现有技术，包括锁存器IC2和外部存储器IC3，IC1的17脚16脚分别为读、写脚，30脚为锁存信号输出脚。IC2的1脚，IC3的20、22脚为使能脚，低电平有效。外部存储器IC3的地址信号来自单片机IC1的P00口和P02口，存储器IC3的低8位地址由P00口分时(地址/数据)送出。为了在访问存储器IC3的整个周期内地址信号保持不变，必须将P0口先输出的低8位地址锁存起来(由IC2完成)。这样，一方面让出P00口，使P00口能再次送出数据信号，另一方面是IC2锁存器输出的低位地址和P02口输出的高位地址一起实现对存储器内部存储单元的访问。机型序号显示电路7采用的是七段LED显示器，其电路也为现有技术，74164是串并转换芯片，要显示的串行数据由A、B脚输入，转换成并行数据后由Q0～Q7脚输出给7段LED显示器，74164的CLK脚为串行同步移位时钟脚，9脚为并行输出清0脚，低电平清0，故本电路此脚接高电平。在CLK脉冲的作用下数据从A、B脚一位一位地移入。74LS32为或门，IC1的10脚为串行数据输出脚，输给IC7、IC8的A、B数据输入脚，IC1的11脚为移位时钟输出脚。当IC1要输出机型号数据给机型号显示电路7显示前，先让IC1的15脚输出低电平，14脚输出高电平，时钟信号进入IC4、IC5或门，这样经过或门IC4的3脚输出时钟信号，在时钟的配合下，2个字节(16位)的待显示机型号数据并行输出到两个“机型序号”7段LED上显示，数据得以刷新。而IC5的2脚由于输入高电平，输入到IC5的1脚时钟脉冲过不去，3脚输出始终高电平输入给IC8、IC9的CLK脚，因此原来显示的键号数据不变。反之，如果要显示键号(也称之为按键序号)数据而机型号(也称之为机型序号)的显示不变，则先让IC1的15脚输出高电平，14脚输出低电平，使IC6、IC7的CLK脚在IC1串行输出键号显示数据时始终为高电平，这样机型号显示仍然不变，而由于IC1的14脚输出低电平，IC1输出的移位时钟正常进入IC8、IC9的CLK脚，与此同时要显示的数据一位一位地移入74164进行显示。请再参阅图1至图5及图6，本专利技术一种能测试各类电器遥控器功能的方法分为测试模式及学习模式。测试模式的工作流程如下打开电源则自动进入测试模式，机型序号显示“01”。测试模式下模式指示灯不亮，先按“机型选择”键选择机型序号(即选择要测试的遥控器，要测试的遥控器保存在哪个机型号上由学习时决定，本装置可存储15种遥控器，掉电数据不丢失，每按一次“机型选择”键，“机型序号”显示加1，当显示“15”再按一次键将返回显示“01”。遥控器发出的信号由遥控接收模块接收，经该模块解调输出的信号我们称之为遥控指令码，每按一次“机型选择”键，指向外存指令码表的指针将调整到对应机型的指令码表首地址，刚开本装置电源时“合格指示”灯是亮的，即该外部存储器存储有15种机型的遥控器的指令码表，其分别于机型序号显示电路7中对应显示出字符“01”到“15”。测试时，按下被测遥控器的某键，立即在“按键序号”七段LED显示器上显示对应的按键序号(按键序号由用户在学习模式下按顺序定义的)，松开按键则“按键序号”显示器变暗，当第一个键被按下并接收到信号，“合格指示”灯由亮变暗，此灯只有在遥控器所有键被按下并且每个“按键序号”都显示后才再次变亮，表明本遥控器每个键都识别到了。如果按下其他不能被识别的遥控器按键，“按键序号”显示器将无任何反应而不显示。一个遥控器如果用户认为已按过所有键，“合格指示”灯却还未亮，表明某按键有故障本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卓成钰，吴伟，杨军治，
申请(专利权)人：深圳创维RGB电子有限公司，
类型：发明
国别省市：