平面显示装置的测试线路制造方法及图纸

一种平面显示装置的测试线路，其包括一基板、多个像素结构、多条信号线路以及多组短路条。其中，基板具有至少一扫描信号侧、至少一数据信号侧与一像素区域。像素结构形成于像素区域中，且该多个像素结构中每一个具有ｎ个子像素，其中ｎ为正整数。信号线路形成于基板上，且对应连接到子像素。多组短路条中的每一组形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且电连接到信号线路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种平面显示装置的测试线路，且特别是有关于一种可分组测试平面显示装置基板(substrate)上的信号线路(signal line)与像素(pixel)的测试线路。
技术介绍
目前的平面显示装置(FPD)种类繁多，如液晶显示装置(LCD)、有机电致发光显示装置(OLED)以及等离子体显示装置(PDP)等。然而，不论是何种平面显示装置，在其显示面板制作时皆须对其信号线路(例如扫描线路(scan line)与数据线路(data line))与像素进行测试，以确定所制作出来的平面显示装置能正常运作。显示面板上的信号线路与像素的测试方式有全接点(full contact)与短路条(shorting bar)两种。虽然全接点测试可以针对每一条信号线路与每一个像素进行测试，但是其需要的测试机台与探针(probe)花费很多。所以，一般测试方式采用短路条测试。图1表示为美国专利第5,852,480号所公开的一种采用短路条测试方式的液晶显示装置的测试线路。请参照图1，扫描线路11a-11b以及数据线路12a-12b交叉形成于液晶显示装置的基板10上。每一个扫描线线路与数据线路交叉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面显示装置的测试线路，包括：一基板，其具有至少一扫描信号侧、至少一数据信号侧与一像素区域；多个像素结构，其形成于该像素区域中，且该多个像素结构中每一个具有ｎ个子像素，其中ｎ为正整数；多条信号线路，其形成于该基板上，且该多个信号线路对应连接到该多个子像素；以及多组短路条，多组短路条中的每一组形成于该至少一扫描信号侧与该至少一数据信号侧二者其中之一，且多组短路条中的每一组电连接到该多个信号线路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：魏国峰，赖明升，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]